| 1 |
1
홀로그래픽 디스플레이의 화질을 측정하는 방법에 있어서,측정 패턴을 생성하는 단계;상기 측정 패턴의 테두리에 2차원 또는 3차원적으로 구성된 계조 막대를 포함시켜 공통 패턴을 생성하는 단계;상기 공통 패턴에 제1 위상을 삽입하는 단계; 및상기 제1 위상이 삽입된 공통 패턴을 이용하여 상기 홀로그래픽 디스플레이의 화질을 측정하는 단계를 포함하는 방법
|
| 2 |
2
제1항에 있어서,상기 계조 막대는 적색, 녹색, 청색 및 백색 계조 막대를 포함하는방법
|
| 3 |
3
제1항에 있어서,상기 계조 막대의 최대 세기값인 full-white의 백색을 정규화 최대 기준으로 설정하는 단계, 그리고부동 소수형 실수로 표현된 상기 공통 패턴의 복소 광 필드의 지폭 크기 또는 위상 크기를 정수값으로 양자화하는 단계를 포함하는방법
|
| 4 |
4
제3항에 있어서,상기 양자화하는 단계는상기 진폭 크기 또는 상기 위상 크기를 0부터 255 범위의 정수값으로 양자화하는 단계를 포함하는방법
|
| 5 |
5
제1항에 있어서,상기 공통 패턴에 대하여 CGH 홀로그램 패턴을 n번 생성하는 단계, 그리고상기 n개의 CGH 홀로그램 패턴 중에서 원본인 상기 공통 패턴과의 오차가 최소인 하나의 CGH 홀로그램 패턴을 이용하여 상기 화질을 측정하는 단계를 포함하는방법
|
| 6 |
6
제1항에 있어서,상기 제1 위상은 랜덤 위상인방법
|
| 7 |
7
측정 패턴을 생성하고, 상기 측정 패턴의 테두리에 2차원 또는 3차원적으로 구성된 계조 막대를 포함시켜 공통 패턴을 생성하는 측정 패턴 생성부;상기 공통 패턴에 제1 위상을 삽입하는 랜덤 위상 삽입부;상기 제1 위상이 삽입된 공통 패턴을 이용하여 CGH를 생성하는 CGH 생성부; 및상기 CGH에 대한 화질을 측정하는 패턴 균일성 검증부를 포함하는홀로그래픽 디스플레이의 화질 평가 장치
|
| 8 |
8
제7항에 있어서,상기 계조 막대는 적색, 녹색, 청색 및 백색 계조 막대를 포함하는홀로그래픽 디스플레이의 화질 평가 장치
|
| 9 |
9
제7항에 있어서,상기 패턴 균일성 검증부는 상기 계조 막대의 최대 세기값인 full-white의 백색을 정규화 최대 기준으로 설정하고, 부동 소수형 실수로 표현된 상기 공통 패턴의 복소 광 필드의 지폭 크기 또는 위상 크기를 정수값으로 양자화하는홀로그래픽 디스플레이의 화질 평가 장치
|
| 10 |
10
제9항에 있어서,상기 패턴 균일성 검증부는 상기 진폭 크기 또는 상기 위상 크기를 0부터 255 범위의 정수값으로 양자화하는홀로그래픽 디스플레이의 화질 평가 장치
|
| 11 |
11
제7항에 있어서,상기 CGH 생성부는 상기 공통 패턴에 대하여 CGH 홀로그램 패턴을 n번 생성하고, 상기 n개의 CGH 홀로그램 패턴 중에서 원본인 상기 공통 패턴과의 오차가 최소인 하나의 CGH 홀로그램 패턴을 이용하여 상기 화질을 측정하는 홀로그래픽 디스플레이의 화질 평가 장치
|
