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(1) 다수의 미세 홈을 가지는 실리콘기판을 준비하는 단계,(2) 상기 실리콘기판상에 그래핀 및 금속코팅막을 순차적으로 형성시켜 시편을 제작하는 단계 및 (3) 상기 시편을 주사형 전자현미경(SEM) 홀더에 장착시키고, SEM을 이용한 관찰단계로 이루어진 그래핀의 물리적 형상 분석방법
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제1항에서, 상기 (1) 단계에서 실리콘기판의 미세 홈의 직경 및 깊이가 각각 1mm 이하인 것을 특징으로 하는 그래핀의 물리적 형상 분석방법
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제1항에서, 상기 (1) 단계에서 실리콘기판의 미세 홈이 상호 직경이 다른 2개 이상이 형성된 것을 특징으로 하는 그래핀의 물리적 형상 분석방법
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제1항에서, 상기 (1) 단계에서 실리콘기판의 미세 홈이 10° 내지 80°의 바닥 경사를 가지는 것을 특징으로 하는 그래핀의 물리적 형상 분석방법
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제1항에 있어서, 상기 (2) 단계에서 실리콘기판상에 그래핀 분말을 산포 또는 그래핀 분산용액을 떨어뜨린 후 건조시켜 제작된 것을 특징으로 하는 그래핀의 물리적 형상 분석방법
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제1항에서, 상기 (3) 단계가 실리콘기판상 상면 또는 홈 바닥면에 부착된 그래핀, 상기 실리콘기판 상면 또는 홈 바닥면에 일부 부착되고 나머지 부위는 홈의 빈 공간에 위치한 그래핀 및 상기 실리콘기판 홈 벽면에 부착된 그래핀이 관찰 가능한 것을 특징으로 하는 그래핀의 물리적 형상 분석방법
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