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두께 측정 장치

  • 기술번호 : KST2020014462
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일 실시 예에 따르면, 두께 측정 장치는 전자기파를 시편 방향으로 조사하는 방출부, 상기 시편이 위치하는 방향에서부터 출력되는 전자기파를 수신하는 수신부 및 상기 수신부로부터 신호를 받아 상기 시편의 두께를 산출하는 제어부를 포함하고, 상기 시편이 제1 두께를 갖는 경우, 상기 수신부는 제1 전자기파를 수신하고, 상기 시편이 제2 두께를 갖는 경우, 상기 수신부는 제2 전자기파를 수신하고, 상기 제1 전자기파는 제1 시점에서 제1 피크값을 가지고, 상기 제2 전자기파는 제2 시점에서 제2 피크값을 가지고, 상기 제1 두께가 상기 제2 두께보다 큰 경우, 상기 제1 피크값은 상기 제2 피크값보다 작은 값이다.
Int. CL G01B 11/06 (2006.01.01) H01L 21/66 (2006.01.01)
CPC G01B 11/06(2013.01) G01B 11/06(2013.01)
출원번호/일자 1020190089442 (2019.07.24)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-2167799-0000 (2020.10.13)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20201020) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.07.24)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김학성 서울시 성동구
2 박동운 서울특별시 성동구
3 오경환 서울특별시 성동구
4 김헌수 서울특별시 성동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 아이피에스 대한민국 서울특별시 서초구 반포대로**길 **, *층 (서초동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 서울특별시 성동구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.07.24 수리 (Accepted) 1-1-2019-0759638-68
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.11.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.12.09 수리 (Accepted) 9-1-2019-0056450-91
6 등록결정서
Decision to grant
2020.07.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0509376-19
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
전자기파를 시편 방향으로 조사하는 방출부;상기 시편이 위치하는 방향에서부터 출력되는 전자기파를 수신하는 수신부; 및상기 수신부로부터 신호를 받아 상기 시편의 두께를 산출하는 제어부를 포함하고,상기 시편이 제1 두께를 갖는 경우, 상기 수신부는 제1 전자기파를 수신하고,상기 시편이 제2 두께를 갖는 경우, 상기 수신부는 제2 전자기파를 수신하고,상기 제1 전자기파는 제1 시점에서 제1 피크값을 가지고,상기 제2 전자기파는 제2 시점에서 제2 피크값을 가지고,상기 제1 두께가 상기 제2 두께보다 큰 경우, 상기 제1 피크값은 상기 제2 피크값보다 작은 값인두께 측정 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 제1 시점은 상기 제2 시점보다 빠른 시점인두께 측정 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 제1 두께는 상기 제1 시점 및 상기 제1 피크값과 반비례 관계에 있는두께 측정 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 제어부는 상기 제1 전자기파 및 상기 제2 전자기파에 대해 FFT(Fast Fourier Transform) 알고리즘을 이용하여 상기 시편의 복소상대굴절률을 산출하는 복소상대굴절률 산출부 및 흡광계수를 산출하는 흡광계수 산출부를 포함하는두께 측정 장치
5 5
제4항에 있어서,상기 제어부는,주파수 영역에서 상기 시편의 두께에 대한 복소상대굴절률 및 흡광계수에 대한 함수를 미리 저장하는 함수 저장부를 포함하고,상기 복소상대굴절률 산출부 및 상기 흡광계수 산출부로부터 산출된 값과 상기 함수 저장부에 저장된 값에 기초하여 상기 시편의 두께를 산출하는 두께 산출부를 포함하는두께 측정 장치
6 6
제5항에 있어서,상기 제어부는 상기 두께 산출부로부터 산출된 데이터를 저장하는 데이터 저장부를 포함하고,상기 데이터 저장부에 저장된 데이터가 상기 함수 저장부로 전달되어 상기 함수 저장부에 저장된 함수가 수정 가능한두께 측정 장치
7 7
제4항에 있어서,상기 제1 두께가 상기 제2 두께보다 큰 경우, 상기 제1 전자기파의 복소상대굴절률은 상기 제2 전자기파의 복소상대굴절률보다 작은두께 측정 장치
8 8
제4항에 있어서,상기 제1 두께가 상기 제2 두께보다 큰 경우, 상기 제1 전자기파의 흡광계수는 상기 제2 전자기파의 흡광계수보다 큰두께 측정 장치
9 9
제4항에 있어서,주파수가 증가하는 경우, 상기 제1 전자기파의 복소상대굴절률도 증가하는두께 측정 장치
10 10
제4항에 있어서,상기 제1 전자기파는 제1 주파수에서 제1 복소상대굴절률을 갖고, 제2 주파수에서 제2 복소상대굴절률을 갖고,상기 제1 전자기파는 상기 제1 주파수에서 상기 제1 복소상대굴절률에 대하여 제1 기울기를 갖고, 상기 제2 주파수에서 상기 제2 복소상대굴절률에 대하여 제2 기울기를 갖고,상기 제1 주파수가 상기 제2 주파수보다 작은 경우, 상기 제1 기울기는 상기 제2 기울기보다 큰두께 측정 장치
11 11
제4항에 있어서,주파수가 증가하는 경우, 상기 제1 전자기파의 흡광계수는 감소하는두께 측정 장치
12 12
제4항에 있어서,상기 제1 전자기파는 제1 주파수에서 제1 흡광계수를 갖고, 제2 주파수에서 제2 흡광계수를 갖고,상기 제1 전자기파는 상기 제1 주파수에서 상기 제1 흡광계수에 대하여 제1 기울기를 갖고, 상기 제2 주파수에서 상기 제2 흡광계수에 대하여 제2 기울기를 갖고,상기 제1 주파수가 상기 제2 주파수보다 작은 경우, 상기 제1 기울기의 절대값은 상기 제2 기울기의 절대값보다 큰두께 측정 장치
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제1항에 있어서,상기 제1 전자기파 및 상기 제2 전자기파는 테라헤르츠파인두께 측정 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술정보통신부(2017Y) (재)한국연구재단 원자력연구개발사업 / 방사선기술개발사업 / 첨단 비파괴검사기술개발 구조용 복합재료 및 반도체 패키징 재료의 잠닉손상 정밀진단을 위한 Photo-Mixing 기반의 고속 고분해능 THz 영상/분광 기술 개발