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커패시터 손실 계수의 측정 방법

  • 기술번호 : KST2020014684
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 실시예에 의한 손실 계수 측정 방법은 (a) 미리 정해진 주파수에서 측정 대상 커패시터와 제1 저항이 연결된 상태에서 손실 계수를 측정하는 단계와, (b) 미리 정해진 주파수에서 측정 대상 커패시터와 제2 저항이 연결된 상태에서 손실 계수를 측정하는 단계 및 (a) 단계의 결과와 (b) 단계의 결과로부터 측정 대상 커패시터와 연결된 저항이 0으로 수렴할 때의 손실계수를 연산하는 (c) 단계를 포함한다.
Int. CL G01R 27/26 (2006.01.01)
CPC G01R 27/2694(2013.01)
출원번호/일자 1020190059062 (2019.05.20)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-2170794-0000 (2020.10.21)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20201027) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.05.20)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정재갑 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인(유한)아이시스 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 인화빌딩 *층 (삼성동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.05.20 수리 (Accepted) 1-1-2019-0516410-89
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.10.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.12.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2020-0053931-11
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.05.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0320342-46
5 [지정기간연장]기간 연장신청서·기간 단축신청서·기간 경과 구제신청서·절차 계속신청서
2020.07.08 수리 (Accepted) 1-1-2020-0710720-47
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.08.06 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-0826059-17
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2020.08.06 수리 (Accepted) 1-1-2020-0826037-13
8 등록결정서
Decision to grant
2020.10.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0705319-70
9 [명세서등 보정]보정서(심사관 직권보정)
2020.10.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-5027011-91
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
(a) 미리 정해진 전압과 미리 정해진 주파수에서 측정 대상 커패시터와 제1 저항이 연결된 상태에서 손실 계수를 측정하는 단계,(b) 상기 미리 정해진 전압과 상기 미리 정해진 주파수에서 상기 측정 대상 커패시터와 제2 저항이 연결된 상태에서 손실 계수를 측정하는 단계 및 (c) 상기 (a) 단계의 결과와 상기 (b) 단계의 결과로부터 상기 측정 대상 커패시터와 연결된 저항이 0으로 수렴할 때의 손실계수를 연산하는 단계를 포함하고, 상기 (a) 단계 및 상기 (b) 단계는, 상기 측정 대상 커패시터에 동일한 전압이 인가된 상태에서 수행되는 커패시터의 손실 계수 측정 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 (c) 단계 수행 이전에 상기 측정 대상 커패시터와 제3 저항이 연결된 상태에서 손실 계수를 측정하는 단계를 더 수행하는 커패시터의 손실 계수 측정 방법
3 3
제2항에 있어서, 상기 제1 저항, 상기 제2 저항 및 상기 제3 저항은 상기 측정 대상 커패시터와 직렬로 연결된 커패시터의 손실 계수 측정 방법
4 4
삭제
5 5
제1항에 있어서, 상기 (c) 단계는, 상기 (a) 단계의 결과와 상기 (b) 단계의 결과를 선형 피팅(linear fitting)하여 상기 측정 대상 커패시터와 연결된 저항이 0으로 수렴할 때의 손실계수를 연산하여 수행하는 커패시터의 손실 계수 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.