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개방형 루프로 형성되고, 자기장을 발생 시켜 일측의 개방된 통로로 자기력선이 순환되어 상기 통로에 배치되는 시편에 자기장이 인가되도록 형성되는 전자석부;적어도 일부분이 상기 통로 내에 형성되어 상기 통로 내에 배치되는 상기 시편을 가압 고정하고, 상기 시편에 인가되는 하중이 일정 하중으로 고정되도록 하중 측정부가 형성되는 고정부; 및상기 시편에 접촉되고 상기 시편에 시간, 온도 및 진동수 중 적어도 어느 하나 이상을 인가하여 상기 시편의 기계적 물성을 측정하는 물성 측정부가 형성되는 측정부;를 포함하는, 자기유변형탄성체 시험 장치
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제 1 항에 있어서,상기 고정부는 상기 통로에서 상기 전자석부에 형성된 제 1 전극부와 일정거리 이격되어 형성되고,상기 고정부와 상기 전자석부에 형성된 제 2 전극부 사이에 상기 시편이 적어도 한쌍 형성되고,적어도 한쌍의 상기 시편 사이에 상기 측정부가 형성되어, 상기 고정부와 상기 제 2 전극부가 적어도 한쌍의 상기 시편과 적어도 한쌍의 상기 시편 사이의 측정부를 가압하고,상기 측정부는 양측에 형성된 적어도 한쌍의 상기 시편의 전단변형을 측정하기 위하여 시간, 온도 및 진동수 중 적어도 어느 하나 이상을 제어하는, 자기유변형탄성체 시험 장치
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제 1 항에 있어서,상기 전자석부는,제 1 수직부, 제 2 수직부 및 상기 제 1 수직부와 상기 제 2 수직부를 연결하는 수평부로 형성된 지그;상기 제 1 수직부를 관통하여 결합되는 제 1 전극부;상기 제 1 수직부 측면에서 상기 제 1 전극부를 감싸도록 형성되는 제 1 코일부;상기 제 2 수직부를 관통하여 결합되는 제 2 전극부;상기 제 2 수직부 측면에서 상기 제 2 전극부를 감싸도록 형성되는 제 2 코일부; 및상기 제 1 전극부의 둘레에 형성되어 상기 자기장의 세기를 측정하는 자기센서;를 포함하는, 자기유변형탄성체 시험 장치
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제 3 항에 있어서,상기 전자석부는,상기 제 1 전극부 및 상기 제 2 전극부 중 적어도 하나 이상이 횡방향 이동하여 상기 시편을 가압하여 고정할 수 있도록 상기 제 1 전극부 및 상기 제 2 전극부 중 적어도 하나 이상의 단부에 연결되어 형성되는 미세 조절부;를 더 포함하는, 자기유변형탄성체 시험 장치
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제 1 항에 있어서,상기 고정부는,하중 또는 하중의 변화를 측정하는 로드셀; 및상기 로드셀에 연결되고 상기 통로 내에 배치되는 상기 시편을 고정할 수 있도록 평판형상으로 형성되는 시편 고정부;를 포함하는, 자기유변형탄성체 시험 장치
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제 1 항에 있어서,상기 측정부는,시간, 온도 및 진동수 중 적어도 어느 하나 이상을 제어하여 상기 시편의 물성을 측정하는 동적기계분석장치;상기 통로 내에서 상기 고정부의 일측에 형성되는 분석판; 및상기 동적기계분석장치에서 인가되는 변화를 상기 분석판에 전달할 수 있도록 상기 동적기계분석장치와 상기 분석판을 연결하는 분석장치 연결부;를 포함하는, 자기유변형탄성체 시험 장치
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제 1 항에 있어서,상기 시편에 인가되는 시간, 온도 및 진동수 중 적어도 어느 하나 이상을 제어하고, 상기 전자석부에 인가되는 전류의 세기 또는 시간을 설정하는 제어부;를 더 포함하는, 자기유변형탄성체 시험 장치
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제 7 항에 있어서,상기 제어부는,상기 시편을 상기 전자석부 및 상기 고정부의 정위치에 배치하기 위하여 상기 전자석부에 임시 전류를 인가하는 임시 전류 인가부; 및상기 전자석부의 전류량을 감소시키면서 전류의 방향을 정방향과 역방향으로 반복인가하여 잔류자기장을 소거할 수 있는 탈자부;를 포함하는, 자기유변형탄성체 시험 장치
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개방형 루프로 형성되고 일측의 개방된 통로로 자기력선이 순환되는 전자석부, 시편에 일정 하중을 인가하여 가압 고정하는 고정부 및 시편의 물성을 측정하는 측정부를 형성하는 자기유변형 탄성체 시험 장치를 준비하는, 장치 준비 단계;상기 전자석부에 임시 전류를 인가하여 상기 시편이 상기 통로 내에서 상기 고정부와 상기 전자석부에 붙어 고정되어 정위치에 배치되는 시편 고정 단계; 및상기 전자석부의 전류량을 감소시키면서 전류의 방향을 정방향과 역방향으로 반복인가하여 잔류자기장을 소거하는 탈자 단계; 및상기 측정부에서 상기 시편에 시간, 온도 및 진동수 중 적어도 어느 하나 이상을 인가하고 되돌아오는 파형을 측정하여 상기 시편의 기계적 물성을 측정하는 측정 단계;를 포함하는, 자기유변형탄성체 시험 방법
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제 9 항에 있어서,상기 측정 단계는,상기 시편에 자기장을 인가하지 않은 상태에서, 상기 측정부에서 상기 시편에 시간, 온도 및 진동수 중 적어도 어느 하나 이상을 인가하여 측정된 상기 시편의 기계적 물성을 측정하는 자기장 비인가 변위 측정 단계;제어부에서 전달받은 신호에 따라 상기 시편에 자기장을 인가하고, 상기 측정부에서 상기 시편에 시간, 온도 및 진동수 중 적어도 어느 하나 이상을 인가하여 측정된 상기 시편의 기계적 물성을 측정하는 자기장 인가 변위 측정 단계; 및상기 자기장 비인가 변위 측정 단계와 상기 자기장 인가 변위 측정 단계에서 측정된 값을 비교하여 MR효과를 산출 하는 산출 단계;를 포함하는, 자기유변형탄성체 시험 방법
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