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이미지 디모자이킹을 위한 에지 예측 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2020014735
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 이미지 내의 적어도 하나의 G 픽셀에 대한 에지 존재 여부 및 에지 방향을 검출하는 단계, 이미지 내의 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 인접한 G 픽셀로 구성된 적어도 하나의 제1 참조 픽셀의 에지 존재 여부에 따른 조건부 확률을 산출하여 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 대한 에지 존재 여부를 판단하는 단계 및 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 인접한 G 픽셀로 구성된 적어도 하나의 제2 참조 픽셀의 에지 방향을 기초로 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 대한 에지 방향을 결정하는 단계를 포함하는 이미지 디모자이킹을 위한 에지 예측 방법이 개시된다.
Int. CL G06T 3/40 (2006.01.01)
CPC G06T 3/4015(2013.01) G06T 3/4015(2013.01) G06T 3/4015(2013.01)
출원번호/일자 1020190044390 (2019.04.16)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2020-0121617 (2020.10.26) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.04.16)
심사청구항수 20

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정제창 서울특별시 강남구
2 박대준 서울특별시 강서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인이상 대한민국 서울특별시 서초구 바우뫼로 ***(양재동, 우도빌딩 *층)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.04.16 수리 (Accepted) 1-1-2019-0390157-10
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.06.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.08.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2020-0057038-46
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.05.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0371916-27
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2020.07.21 수리 (Accepted) 1-1-2020-0757172-61
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.07.21 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-0757185-54
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번호 청구항
1 1
이미지 내의 적어도 하나의 G 픽셀에 대한 에지 존재 여부 및 에지 방향을 검출하는 단계;상기 이미지 내의 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 인접한 G 픽셀로 구성된 적어도 하나의 제1 참조 픽셀의 에지 존재 여부에 따른 조건부 확률을 산출하여 상기 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 대한 에지 존재 여부를 판단하는 단계; 및상기 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 인접한 G 픽셀로 구성된 적어도 하나의 제2 참조 픽셀의 에지 방향을 기초로 상기 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 대한 에지 방향을 결정하는 단계를 포함하는, 에지 예측 방법
2 2
청구항 1에 있어서,상기 이미지 내의 적어도 하나의 G 픽셀에 대한 에지 존재 여부 및 에지 방향을 검출하는 단계는,상기 적어도 하나의 G 픽셀에 인접한 G 픽셀로 구성된 적어도 하나의 제3 참조 픽셀을 기초로 상기 적어도 하나의 G 픽셀에 대한 에지 존재 여부 및 에지 방향을 검출하는 단계를 포함하는, 에지 예측 방법
3 3
청구항 2에 있어서,상기 적어도 하나의 G 픽셀에 인접한 G 픽셀로 구성된 적어도 하나의 제3 참조 픽셀을 기초로 상기 적어도 하나의 G 픽셀에 대한 에지 존재 여부 및 에지 방향을 검출하는 단계는,상기 적어도 하나의 제3 참조 픽셀의 성분 값을 기초로 상기 적어도 하나의 G 픽셀에서의 수평 변화량 및 수직 변화량을 산출하는 단계; 및상기 수평 변화량 및 상기 수직 변화량을 기초로 상기 적어도 하나의 G 픽셀에 대한 에지 존재 여부 및 에지 방향을 검출하는 단계를 포함하는, 에지 예측 방법
4 4
청구항 3에 있어서,상기 수평 변화량 및 상기 수직 변화량을 기초로 상기 적어도 하나의 G 픽셀에 대한 에지 존재 여부 및 에지 방향을 검출하는 단계는,상기 수평 변화량 및 상기 수직 변화량을 기초로 상기 적어도 하나의 G 픽셀을 에지가 존재하지 않는 픽셀, 에지가 수직 방향인 픽셀 및 에지가 수평 방향인 픽셀 중 어느 하나로 결정하는 단계를 포함하는, 에지 예측 방법
5 5
청구항 1에 있어서,상기 조건부 확률은,베이지안(baysian) 기반의 조건부 확률을 포함하는, 에지 예측 방법
6 6
청구항 1에 있어서,상기 적어도 하나의 제1 참조 픽셀은,상기 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀이 중심인 SCSP(Small Cross-Shaped Pattern) 그리드에 포함된 적어도 하나의 G 픽셀을 포함하는, 에지 예측 방법
7 7
청구항 1에 있어서,상기 이미지 내의 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 인접한 G 픽셀로 구성된 적어도 하나의 제1 참조 픽셀의 에지 존재 여부에 따른 조건부 확률을 산출하여 상기 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 대한 에지 존재 여부를 판단하는 단계는,상기 적어도 하나의 G 픽셀이 중심인 LCSP(Large Cross-Shaped Pattern) 그리드에 따른 적어도 하나의 제4 참조 픽셀의 에지 존재 여부에 따른 우도(likelihood)를 산출하는 단계; 및상기 적어도 하나의 제1 참조 픽셀의 에지 존재 여부 및 상기 우도를 기초로 조건부 확률을 산출하는 단계를 포함하는, 에지 예측 방법
8 8
청구항 1에 있어서,상기 이미지 내의 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 인접한 G 픽셀로 구성된 적어도 하나의 제1 참조 픽셀의 에지 존재 여부에 따른 조건부 확률을 산출하여 상기 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 대한 에지 존재 여부를 판단하는 단계는,상기 적어도 하나의 제1 참조 픽셀의 에지 존재 여부에 따라 분류된 케이스 테이블을 이용하여 상기 조건부 확률을 산출하는 단계를 포함하는, 에지 예측 방법
9 9
청구항 1에 있어서,상기 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 인접한 G 픽셀로 구성된 적어도 하나의 제2 참조 픽셀의 에지 방향을 기초로 상기 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 대한 에지 방향을 결정하는 단계는,상기 적어도 하나의 제2 참조 픽셀 중 에지가 존재하는 픽셀을 추출하는 단계; 및상기 에지가 존재하는 픽셀 중 과반수의 에지 방향을 상기 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 대한 에지 방향으로 결정하는 단계를 포함하는, 에지 예측 방법
10 10
청구항 1에 있어서,상기 적어도 하나의 G 픽셀에 대한 에지 존재 여부 및 에지 방향과 상기 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 대한 에지 존재 여부 및 에지 방향을 기초로 상기 이미지에 대한 에지 맵을 생성하는 단계를 더 포함하는, 에지 예측 방법
11 11
적어도 하나의 프로세서(processor); 및 상기 적어도 하나의 프로세서를 통해 실행되는 적어도 하나의 명령이 저장된 메모리(memory)를 포함하고,상기 적어도 하나의 명령은,이미지 내의 적어도 하나의 G 픽셀에 대한 에지 존재 여부 및 에지 방향을 검출하도록 실행되고,상기 이미지 내의 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 인접한 G 픽셀로 구성된 적어도 하나의 제1 참조 픽셀의 에지 존재 여부에 따른 조건부 확률을 산출하여 상기 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 대한 에지 존재 여부를 판단하도록 실행되고,상기 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 인접한 G 픽셀로 구성된 적어도 하나의 제2 참조 픽셀의 에지 방향을 기초로 상기 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 대한 에지 방향을 결정하도록 실행되는, 에지 예측 장치
12 12
청구항 11에 있어서,상기 적어도 하나의 명령은,상기 적어도 하나의 G 픽셀에 인접한 G 픽셀로 구성된 적어도 하나의 제3 참조 픽셀을 기초로 상기 적어도 하나의 G 픽셀에 대한 에지 존재 여부 및 에지 방향을 검출하도록 실행되는, 에지 예측 장치
13 13
청구항 12에 있어서,상기 적어도 하나의 명령은,상기 적어도 하나의 제3 참조 픽셀의 성분 값을 기초로 상기 적어도 하나의 G 픽셀에서의 수평 변화량 및 수직 변화량을 산출하도록 실행되고,상기 수평 변화량 및 상기 수직 변화량을 기초로 상기 적어도 하나의 G 픽셀에 대한 에지 존재 여부 및 에지 방향을 검출하도록 실행되는, 에지 예측 장치
14 14
청구항 13에 있어서,상기 적어도 하나의 명령은,상기 수평 변화량 및 상기 수직 변화량을 기초로 상기 적어도 하나의 G 픽셀을 에지가 존재하지 않는 픽셀, 에지가 수직 방향인 픽셀 및 에지가 수평 방향인 픽셀 중 어느 하나로 결정하도록 실행되는, 에지 예측 장치
15 15
청구항 11에 있어서,상기 조건부 확률은,베이지안(baysian) 기반의 조건부 확률을 포함하는, 에지 예측 장치
16 16
청구항 11에 있어서,상기 적어도 하나의 제1 참조 픽셀은,상기 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀이 중심인 SCSP(Small Cross-Shaped Pattern) 그리드에 포함된 적어도 하나의 G 픽셀을 포함하는, 에지 예측 장치
17 17
청구항 11에 있어서,상기 적어도 하나의 명령은,상기 적어도 하나의 G 픽셀이 중심인 LCSP(Large Cross-Shaped Pattern) 그리드에 따른 적어도 하나의 제4 참조 픽셀의 에지 존재 여부에 따른 우도(likelihood)를 산출하도록 실행되고,상기 적어도 하나의 제1 참조 픽셀의 에지 존재 여부 및 상기 우도를 기초로 조건부 확률을 산출하도록 실행되는, 에지 예측 장치
18 18
청구항 11에 있어서,상기 적어도 하나의 명령은,상기 적어도 하나의 제1 참조 픽셀의 에지 존재 여부에 따라 분류된 케이스 테이블을 이용하여 상기 조건부 확률을 산출하도록 실행되는, 에지 예측 장치
19 19
청구항 11에 있어서,상기 적어도 하나의 명령은,상기 적어도 하나의 제2 참조 픽셀 중 에지가 존재하는 픽셀을 추출하도록 실행되고,상기 에지가 존재하는 픽셀 중 과반수의 에지 방향을 상기 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 대한 에지 방향으로 결정하도록 실행되는, 에지 예측 장치
20 20
청구항 11에 있어서,상기 적어도 하나의 명령은,상기 적어도 하나의 G 픽셀에 대한 에지 존재 여부 및 에지 방향과 상기 적어도 하나의 R 또는 B 픽셀에 대한 에지 존재 여부 및 에지 방향을 기초로 상기 이미지에 대한 에지 맵을 생성하도록 실행되는, 에지 예측 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.