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기판 처리 장치 및 기판 처리 방법

  • 기술번호 : KST2020014762
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 기판 처리 장치가 개시된다. 기판 처리 장치는, 기판을 지지하는 지지 유닛, 지지 유닛의 상부에 배치되는 상부 전극 유닛, 상부 전극 유닛에 결합되며 기판 상에 공정 가스를 공급하는 가스 공급 유닛, 지지 유닛에 놓인 기판의 하부에 배치되는 하부 전극 및 상부 전극 유닛의 상부 전극으로 전력을 인가하고 상기 하부 전극은 접지 처리하는 전원을 포함하고, 상부 전극 유닛은, 베이스 부재, 베이스 부재 상에 형성되는 유전층 및 유전층에 메쉬 구조로 제공되어 플라즈마를 발생시키는 상부 전극을 포함한다.
Int. CL H01J 37/32 (2006.01.01) H01L 21/67 (2006.01.01) H01L 21/02 (2006.01.01)
CPC H01J 37/3255(2013.01) H01J 37/3255(2013.01) H01J 37/3255(2013.01) H01J 37/3255(2013.01) H01J 37/3255(2013.01) H01J 37/3255(2013.01)
출원번호/일자 1020190045859 (2019.04.19)
출원인 세메스 주식회사, 광운대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2020-0122757 (2020.10.28) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.04.19)
심사청구항수 21

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 세메스 주식회사 대한민국 충청남도 천안시 서북구
2 광운대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 노원구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박지훈 서울특별시 송파구
2 이항림 충청남도 천안시 서북구
3 김민영 경기도 화성
4 최은하 서울시 노원구
5 최진성 서울시 성북구
6 임준섭 서울시 노원구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 권혁수 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(삼일빌딩, 역삼동)(KS고려국제특허법률사무소)
2 송윤호 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 *** (역삼동) *층(삼일빌딩)(케이에스고려국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.04.19 수리 (Accepted) 1-1-2019-0402935-41
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.12.05 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2020.03.13 수리 (Accepted) 9-1-2020-0011769-75
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.03.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0198539-58
5 [지정기간연장]기간 연장신청서·기간 단축신청서·기간 경과 구제신청서·절차 계속신청서
2020.05.26 수리 (Accepted) 1-1-2020-0528502-20
6 [지정기간연장]기간 연장신청서·기간 단축신청서·기간 경과 구제신청서·절차 계속신청서
2020.06.23 수리 (Accepted) 1-1-2020-0645848-78
7 [지정기간연장]기간 연장신청서·기간 단축신청서·기간 경과 구제신청서·절차 계속신청서
2020.07.30 수리 (Accepted) 1-1-2020-0799548-08
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.08.31 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-0917610-77
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2020.08.31 수리 (Accepted) 1-1-2020-0917609-20
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판을 처리하는 장치에 있어서,기판을 지지하는 지지 유닛;상기 지지 유닛의 상부에 배치되는 상부 전극 유닛;상기 상부 전극 유닛에 결합되며 기판 상에 공정 가스를 공급하는 가스 공급 유닛;상기 지지 유닛에 놓인 기판의 하부에 배치되는 하부 전극; 및상기 상부 전극 유닛의 상부 전극으로 전력을 인가하고 상기 하부 전극은 접지 처리하는 전원;을 포함하고,상기 상부 전극 유닛은,베이스 부재;상기 베이스 부재 상에 형성되는 유전층; 및상기 유전층에 메쉬 구조로 제공되어 플라즈마를 발생시키는 상부 전극을 포함하는 기판 처리 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 상부 전극은, 상부에서 바라볼 때 상기 하부 전극에 대응하는 크기로 제공되는 기판 처리 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 기판 처리 장치는, 대기압 플라즈마 처리 장치인 기판 처리 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 상부 전극 유닛 및 상기 가스 공급 유닛을 상하로 이동시키는 구동부;를 더 포함하며,상기 구동부는,상기 상부 전극 유닛 및 상기 가스 공급 유닛을 상기 지지 유닛을 향하여 이동시켜, 상기 가스 공급 유닛을 상기 지지 유닛에 형성되는 결합 부재에 접촉시켜서 기판 주변으로 처리 공간이 형성되도록 하는 기판 처리 장치
5 5
제4항에 있어서,상기 가스 공급 유닛은,상기 베이스 부재와의 사이에 가스 유입 공간 및 가스 배출 공간을 형성하도록 상기 베이스 부재의 아래에서 상기 베이스 부재에 결합되는 가이드 부재;상기 가스 유입 공간을 통해 상기 처리 공간으로 공정 가스를 공급하기 위한 가스 공급 라인 및 가스 공급 밸브를 포함하는 가스 공급부; 및상기 가스 배출 공간을 통해 상기 처리 공간의 공정 가스를 배기시키기 위한 가스 배기 라인 및 가스 배기 밸브를 포함하는 가스 배기부;를 포함하는 기판 처리 장치
6 6
제5항에 있어서,상기 가이드 부재는,중공의 직육면체 형상을 가지며, 상기 가스 유입 공간 및 상기 가스 배출 공간은 서로 맞은편에 위치하는 기판 처리 장치
7 7
제6항에 있어서,상기 가이드 부재는, 측면에 상기 처리 공간을 관찰할 수 있는 복수의 홀이 형성되는 기판 처리 장치
8 8
제6항에 있어서,상기 가이드 부재는, 투명한 재질로 제공되는 기판 처리 장치
9 9
제5항에 있어서,상기 가스 공급 유닛 및 상기 전원을 제어하는 제어 유닛;을 더 포함하며,상기 제어 유닛은, 상기 가스 배기 밸브가 닫힌 상태에서 상기 가스 공급 밸브를 개방하여 상기 처리 공간으로 공정 가스를 공급하고, 상기 가스 공급 밸브가 개방된 시점부터 기설정된 시간 이후 상기 상부 전극 유닛의 상부 전극으로 전력을 인가하고 상기 하부 전극은 접지 처리하여 플라즈마를 생성하는 기판 처리 장치
10 10
제5항에 있어서,상기 가스 공급 유닛 및 상기 전원을 제어하는 제어 유닛;을 더 포함하며,상기 제어 유닛은, 상기 가스 공급 밸브를 개방하여 상기 처리 공간으로 공정 가스를 공급하면서 동시에 상기 가스 배기 밸브를 개방하여 상기 처리 공간의 공정 가스를 배기하고, 상기 가스 공급 밸브가 개방된 시점부터 기설정된 시간 이후 상기 상부 전극 유닛의 상부 전극으로 전력을 인가하고 상기 하부 전극은 접지 처리하여 플라즈마를 생성하는 기판 처리 장치
11 11
제1항에 있어서,상기 공정 가스는, 질소(N2), 공기, 아르곤(Ar), CxFx 가스 중 어느 하나의 단일 가스 또는 상기 단일 가스에 수증기(H2O) 및 산소(O2) 중 적어도 하나를 혼합한 혼합 가스를 포함하는 기판 처리 장치
12 12
제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서,상기 메쉬 구조는, 다각형 형상을 가지는 기판 처리 장치
13 13
제12항에 있어서,상기 메쉬 구조는, 삼각형, 사각형 및 육각형 벌집 형상 중 어느 하나의 반복적인 메쉬 형태인 기판 처리 장치
14 14
제1항에 따른 기판 처리 장치를 이용하여 기판을 플라즈마 처리하는 방법에 있어서,기판 주변으로 처리 공간을 형성하기 위하여 상기 가스 공급 유닛을 상기 지지 유닛을 향하여 이동시켜, 상기 가스 공급 유닛을 상기 지지 유닛에 형성되는 결합 부재에 접촉시키는 단계;상기 처리 공간으로 공정 가스를 공급하는 단계;상기 상부 전극 유닛으로 전력을 인가하여 플라즈마를 생성하는 단계; 및상기 플라즈마를 이용하여 기판을 플라즈마 처리하는 단계를 포함하는 기판 처리 방법
15 15
제14항에 있어서,상기 플라즈마는 대기압에서 생성되는 기판 처리 방법
16 16
제14항에 있어서,상기 상부 전극은, 상부에서 바라볼 때 상기 하부 전극에 대응하는 크기로 제공되는 기판 처리 방법
17 17
제14항에 있어서,상기 공정 가스를 공급하는 단계는,상기 가스 배기 밸브가 닫힌 상태에서 상기 가스 공급 밸브를 개방하여 상기 처리 공간으로 공정 가스를 공급하고,상기 플라즈마를 생성하는 단계는,상기 가스 공급 밸브가 개방된 시점부터 기설정된 시간 이후 상기 상부 전극 유닛의 상부 전극으로 전력을 인가하고 상기 하부 전극은 접지 처리하여 플라즈마를 생성하는 기판 처리 방법
18 18
제14항에 있어서,상기 공정 가스를 공급하는 단계는,상기 가스 공급 밸브를 개방하여 상기 처리 공간으로 공정 가스를 공급하면서 동시에 상기 가스 배기 밸브를 개방하여 상기 처리 공간의 공정 가스를 배기하고,상기 플라즈마를 생성하는 단계는,상기 가스 공급 밸브가 개방된 시점부터 기설정된 시간 이후 상기 상부 전극 유닛의 상부 전극으로 전력을 인가하고 상기 하부 전극은 접지 처리하여 플라즈마를 생성하는 기판 처리 방법
19 19
제14항에 있어서,상기 공정 가스는, 질소(N2), 공기, 아르곤(Ar), CxFx 가스 중 어느 하나의 단일 가스 또는 상기 단일 가스에 수증기(H2O) 및 산소(O2) 중 적어도 하나를 혼합한 혼합 가스를 포함하는 기판 처리 방법
20 20
제14항 내지 제19항 중 어느 한 항에 있어서,상기 메쉬 구조는, 다각형 형상을 가지는 기판 처리 방법
21 21
제20항에 있어서,상기 메쉬 구조는, 삼각형, 사각형 및 육각형 벌집 형상 중 어느 하나의 반복적인 메쉬 형태인 기판 처리 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.