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실시간으로 자동 초점이 가능한, 측정 대상물의 입체형상을 측정하는 입체형상 측정장치

  • 기술번호 : KST2020015018
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 기준미러를 장착한 광학계 또는 측정시스템을 이송하여 측정대상에 초점을 맞추고 결상을 하는 방식에 따라 3차원 형상측정을 함에 있어, 실시간으로 기준미러와 측정대상물간의 광경로에 따른 차이를 일치시켜 측정 대상물의 입체형상을 측정할 수 있는 입체형상 측정장치 및 이를 이용한 측정대상물의 입체 형상을 측정하는 방법에 관한 것이다.
Int. CL G01B 11/24 (2006.01.01) G01B 9/02 (2022.01.01)
CPC G01B 11/2441(2013.01) G01B 11/2441(2013.01)
출원번호/일자 1020190048987 (2019.04.26)
출원인 ㈜넥센서, 조선대학교산학협력단
등록번호/일자 10-2285818-0000 (2021.07.29)
공개번호/일자 10-2020-0125149 (2020.11.04) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.04.26)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 ㈜넥센서 대한민국 대전광역시 유성구
2 조선대학교산학협력단 대한민국 광주광역시 동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유준호 대전광역시 유성구
2 주기남 광주광역시 광산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 공간 대한민국 대전광역시 서구 둔산서로 ***, *층(둔산 *동, 산업은행B/D)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.04.26 수리 (Accepted) 1-1-2019-0432263-15
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2019.04.30 수리 (Accepted) 1-1-2019-0442625-29
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.06.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.08.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2020-0123687-39
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.03.26 수리 (Accepted) 4-1-2020-5071333-01
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2020-5088703-88
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.04.20 수리 (Accepted) 4-1-2020-5090021-51
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.09.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0663138-38
9 [지정기간연장]기간 연장신청서·기간 단축신청서·기간 경과 구제신청서·절차 계속신청서
2020.11.25 수리 (Accepted) 1-1-2020-1267628-08
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번호 청구항
1 1
광을 방출하며, 하기 제1 광분할기(200)의 일측 방향에 위치하는 광원부(100); 상기 광원부(100)로부터의 광을 측정 대상물(600) 및 하기 기준미러(300)로 각각 분할하는 제1 광분할기(200);상기 광원부와 대향하여 제1 광분할기의 타측방향에 위치하며, 상기 제1 광분할기(200)로부터의 분할된 광이 조사되어 이를 다시 상기 제1 광분할기로 반사하는 기준미러(300); 상기 광원부(100)로부터 측정 대상물의 표면에 조사되어 반사된 광과, 상기 기준미러(300)에서 반사되어 다시 제1 광분할기(200)를 거치는 광경로에 따른 광이 합쳐진 간섭무늬를 촬영하는 촬영부(500); 및 상기 광원부(100)에서 방출하는 광과 독립된 별도의 광을 방출하며, 이에 의하여 상기 제1 광분할기(200)로부터 기준미러에 도달하여 반사되는 광과, 상기 제1 광분할기(200)로부터 측정대상물(600)에 도달하여 반사되는 광 사이의 광경로에 따른 변위측정값을 측정하는 변위 측정부(400);를 포함하는 입체형상 측정장치로서,상기 변위측정부(400)는 광원부(100)에서 방출하는 광과 독립된 별도의 광을 방출하는 변위측정광원(411); 및 상기 변위측정광원(411)으로부터 방출되어 측정대상물(600)과 기준미러(300) 각각에 도달하고 다시 반사되어 합쳐지는 광을 분산시켜, 분산된 광의 간섭정보를 측정하는 분산형 간섭계 분광기(413);를 포함하는 분산변위 간섭계(410);를 포함하며, 상기 분산변위 간섭계(410)내 변위측정광원(411)으로부터 방출된 광은 상기 제1 광분할기(200)를 거쳐 측정대상물 및 기준미러에 각각 조사된 후 다시 제1 광분할기(200)를 거쳐 상기 분산형 간섭계 분광기(413)에 도달하는 것을 특징으로 하는 입체형상 측정장치
2 2
제1항에 있어서,상기 제1 광분할기(200)는 광원부(100)와 기준미러(300) 사이를 수평이동 또는 수직이동이 가능한 것을 특징으로 하는 입체형상 측정장치
3 3
제1항에 있어서, 상기 기준미러(300)는 광원부(100)와 제1 광분할기(200) 사이의 광경로와 평행으로 수평이동이 가능한 것을 특징으로 하는 입체형상 측정장치
4 4
제1항에 있어서, 상기 변위측정부(400)는 상기 광원부(100)와 제1 광분할기(200) 사이의 광경로에 상기 분산변위 간섭계(410)내 변위측정광원(411)으로부터 방출된 광을 분할하는 제2 광분할기(420);를 추가적으로 포함하여,상기 분산변위 간섭계(410)내 변위측정광원(411)으로부터 방출된 광이 제1 광분할기(200)를 거쳐 측정대상물과 기준미러에 도달하고 다시 반사되어 제1 광분할기(200)를 거쳐 상기 분산변위 간섭계(410)내 분산형 간섭계 분광기(413)로 도달할 수 있도록 하는 것을 특징으로 하는 입체형상 측정장치
5 5
제1항에 있어서, 상기 변위측정부(400)는 상기 촬영부(500)와 제1 광분할기(200) 사이의 광경로에 상기 분산변위 간섭계(410)내 변위측정광원(411)으로부터 방출된 광을 분할하는 제2 광분할기(420);를 추가적으로 포함하여,상기 분산변위 간섭계(410)내 변위측정광원(411)으로부터 방출된 광이 제1 광분할기(200)를 거쳐 측정대상물과 기준미러에 도달하고 다시 반사되어 제1 광분할기(200)를 거쳐 상기 분산변위 간섭계(410)내 분산형 간섭계 분광기(413)로 도달할 수 있도록 하는 것을 특징으로 하는 입체형상 측정장치
6 6
제4항 또는 제5항에 있어서, 상기 분산변위 간섭계(410)내 변위측정광원(411)과 제2 광분할기(420) 사이에는, 상기 변위측정광원(411)으로부터 방출되어 측정대상물에 도달한 후 반사되어 제1광분할기 및 제2 광분할기를 거쳐 돌아오는 반사광을 상기 분산변위 간섭계(410)내 분산형 간섭계 분광기(413)로 분할하는 분산변위 간섭계내 광분할기(412)를 추가적으로 포함하는 것을 특징으로 하는 입체형상 측정장치
7 7
제4항에 있어서, 상기 분산변위 간섭계(410)내 변위측정광원(411)은 광원부(100)와 제1 광분할기(200) 사이의 광경로와 수직한 방향에 위치하여 광원부(100)에서 방출하는 광과 독립된 별도의 광을 상기 제2 광분할기(420) 방향으로 방출하는 것을 특징으로 하는 입체형상 측정장치
8 8
제5항에 있어서, 상기 분산변위 간섭계(410)내 변위측정광원(411)은 상기 촬영부(500)와 제1 광분할기(200) 사이의 광경로와 수직한 방향에 위치하여 광원부(100)에서 방출하는 광과 독립된 별도의 광을 상기 제2 광분할기(420) 방향으로 방출하는 것을 특징으로 하는 입체형상 측정장치
9 9
제6항에 있어서, 상기 분산형 간섭계 분광기(413)는 상기 변위측정광원(411)으로부터 방출되어 측정대상물에 도달한 후 반사되어 제1광분할기, 제2 광분할기 및 분산변위 간섭계내 광분할기(412)를 거치는 반사광을 분산시키는 분산변위 분광소자(415) 및 상기 분광소자로부터 분산된 광을 측정하는 분산변위 광측정장치(414)을 포함하는 것을 특징으로 하는 입체형상 측정장치
10 10
제1항에 있어서, 상기 입체형상 측정장치는 마이켈슨, 미라우 또는 리닉 타입 중에서 선택되는 어느 하나인 것을 특징으로 하는 입체형상 측정장치
11 11
제1항에 있어서, 상기 분산변위 간섭계(410)는 적어도 일부를 광섬유 방식으로 구성되는 것을 특징으로 하는 입체형상 측정장치
12 12
제1항에 있어서, 상기 입체형상 측정장치는 상기 변위측정부(400)에서 얻어진 변위측정값으로부터, 상기 변위측정광원(411)으로부터 방출된 광이 상기 제1 광분할기(200)로부터 기준미러에 도달하여 반사되는 광과, 상기 제1 광분할기(200)로부터 측정대상물(600)에 도달하여 반사되는 광 사이의 광경로에 따른 각각의 거리를 일치시키기 위해 상기 측정 대상물(600)을 독립적으로 이동시키거나, 또는 상기 측정대상물(600)을 고정시키고 상기 광원부(100), 제1 광분할기(200) 및 기준미러(300) 중 적어도 하나를 포함하는 입체 형상측정장치의 적어도 일부분을 독립적으로 이동시킬 수 있는 제어부(700);를 추가적으로 포함하는 것을 특징으로 하는 입체형상 측정장치
13 13
제11항에 있어서,상기 제어부(700)는 추가적으로 제1 광분할기(200) 또는 기준미러(300)의 위치를 이동시킬 수 있는 것을 특징으로 하는 입체형상 측정장치
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제1항 내지 제13항 중 어느 한 항에 따른 입체형상 측정장치를 이용하여 측정대상물의 입체 형상을 측정하는 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술정보통신부 ㈜넥센서 2018년 기술이전사업화사업 지능형 광섬유 기반 변위/두께 측정 광센서