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전자파와 차단 캐비티 프로브를 이용한 도체 균열 검출장치 및 도체 균열 검출 방법

  • 기술번호 : KST2020015097
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전자파와 차단 캐비티 프로브를 이용한 도체 균열 검출장치 및 도체 균열 검출 방법에 관한 것으로, 차단 캐비티 프로브를 통하여 도체판의 균열을 공진없이 검출하는 전자파와 차단 캐비티 프로브를 이용한 도체 균열 검출장치 및 도체 균열 검출 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 전자파와 차단 캐비티 프로브를 이용한 도체 균열 검출장치에 있어서, 측정대상인 도체판에 접촉하기 위한 개구부를 포함하고 도체판의 균열 여부를 측정하기 위한 차단 캐비티 프로브, 상기 차단 캐비티 프로브에 결합되고 전자파를 생성하는 전자파 신호 발생기, 상기 차단 캐비티 프로브 내에 흐르는 전류를 조절하기 위한 전류 조정기, 상기 차단 캐비티 프로브의 저항값을 변환시켜 상기 차단 캐비티 프로브의 감도를 조절하기 위한 가변 저항기, 상기 차단 캐비티 프로브 내에 흐르는 전류를 측정하기 위한 미터기, 그리고 상기 도체판의 균열 여부를 판단하는 균열 판단부를 포함한다. 이와 같이 본 발명의 실시예에 따르면, 전자파와 슬롯이 있는 차단 캐비티 프로브를 사용하여 균열 검출시스템을 구축할 수 있으며, 전자파의 주파수 대역도 마이크로파 대역을 사용할 수 있으므로 차단 캐비티는 종래에 비하여 작은 부피로 소형화하여 제작할 수 있다.
Int. CL G01N 27/04 (2006.01.01) G01R 19/165 (2006.01.01)
CPC G01N 27/041(2013.01) G01N 27/041(2013.01)
출원번호/일자 1020190049712 (2019.04.29)
출원인 영남대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2020-0126132 (2020.11.06) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.04.29)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 영남대학교 산학협력단 대한민국 경상북도 경산시

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김기채 대구광역시 수성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인태백 대한민국 서울 금천구 가산디지털*로 *** 이노플렉스 *차 ***호

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.04.29 수리 (Accepted) 1-1-2019-0438907-50
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5220555-67
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2020.01.21 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2020.03.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2020-0120708-96
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.08.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0588662-58
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.10.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-1140877-60
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2020.10.27 수리 (Accepted) 1-1-2020-1140878-16
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.12.07 수리 (Accepted) 4-1-2020-5277862-17
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번호 청구항
1 1
전자파와 차단 캐비티 프로브를 이용한 도체 균열 검출장치에 있어서,측정대상인 도체판에 접촉하기 위한 개구부를 포함하고 도체판의 균열 여부를 측정하기 위한 차단 캐비티 프로브,상기 차단 캐비티 프로브에 결합되고 전자파를 생성하는 전자파 신호 발생기,상기 차단 캐비티 프로브 내에 흐르는 전류를 조절하기 위한 전류 조정기,상기 차단 캐비티 프로브의 저항값을 변환시켜 상기 차단 캐비티 프로브의 감도를 조절하기 위한 가변 저항기, 상기 차단 캐비티 프로브 내에 흐르는 전류를 측정하기 위한 미터기, 그리고상기 도체판의 균열 여부를 판단하는 균열 판단부를 포함하는 도체 균열 검출장치
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제1항에 있어서,상기 차단 캐비티 프로브는,직사각형, 정사각형, 원형 및 타원형 중에서 어느 하나를 이용하는 도체 균열 검출장치
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제2항에 있어서, 상기 전류 조정기는,설치된 중공형 동축선로의 길이를 가변하여 전류를 조정하고, 균열이 없는 도체판에서 측정되는 기준 전류가 0이 되도록 설정하는 도체 균열 검출장치
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제3항에 있어서, 상기 균열 판단부는,상기 측정된 전류가 상기 기준 전류와 같으면 상기 도체판에 균열이 없는 것으로 판단하고, 상기 측정된 전류가 상기 기준 전류보다 크면 상기 도체판에 균열이 있는 것으로 판단하는 도체 균열 검출장치
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도체 균열 검출장치를 이용한 도체 균열 검출방법에 있어서,측정대상인 도체판에 접촉하기 위한 개구부를 포함하고 도체판의 균열 여부를 측정하는 차단 캐비티 프로브, 그리고상기 차단 캐비티 프로브에 결합되고 전자파를 생성하는 단계,상기 차단 캐비티 프로브 내에 흐르는 전류를 조절하는 단계,상기 차단 캐비티 프로브의 저항값을 변환시켜 상기 차단 캐비티 프로브의 감도를 조절하는 단계, 상기 차단 캐비티 프로브 내에 흐르는 전류를 측정하는 단계, 그리고상기 도체판의 균열 여부를 판단하는 단계를 포함하는 도체 균열 검출방법
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제5항에 있어서,상기 차단 캐비티 프로브는,직사각형, 정사각형, 원형 및 타원형 중에서 어느 하나를 이용하는 도체 균열 검출방법
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제2항에 있어서, 상기 전류를 조절하는 단계는,설치된 중공형 동축선로의 길이를 가변하여 전류를 조정하고, 균열이 없는 도체판에서 측정되는 기준 전류가 0이 되도록 설정하는 도체 균열 검출방법
8 8
제7항에 있어서, 상기 균열 여부를 판단하는 단계는,상기 측정된 전류가 상기 기준 전류와 같으면 상기 도체판에 균열이 없는 것으로 판단하고, 상기 측정된 전류가 상기 기준 전류보다 크면 상기 도체판에 균열이 있는 것으로 판단하는 도체 균열 검출방법
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육부 영남대학교 산학협력단 개인기초연구(교육부)(R&D) 마이크로파를 이용한 금속의 미시균열 검출법 연구