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(A) Fe-55 및 Ni-59 함유 시료를 준비하는 단계;(B) 상기 시료에 함유된 Fe-55 및 Ni-59로부터 발생되는 X선을 전하로 변환하고, 상기 전하가 드리프트(drift) 전기장에서 이동할 때 매개 물질로서 실리콘을 이용하여 광자에너지의 세기를 측정하는 적어도 하나의 X선 검출기로 검출하여 상기 Fe-55 및 상기 Ni-59의 X선 유래의 에너지 스펙트럼을 얻는 단계; 및(C) 상기 얻어진 Fe-55 및 Ni-59의 X선 유래의 에너지 스펙트럼으로부터 상기 시료에 함유된 Fe-55와 Ni-59의 방사능을 결정하는 단계;를 포함하는 것인 방사성 핵종의 분석 방법
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청구항 1에 있어서,상기 Fe-55 및 Ni-59 함유 시료는 Fe-55 및 Ni-59 함유 방사성 고체 폐기물을 용융시킨 후에 상기 용융된 방사성 고체 폐기물을 침전시켜서 얻어지는 것인 방사성 핵종의 분석 방법
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청구항 1에 있어서,상기 X선 검출기는 SDD(Silicon Drift Detector)를 포함하는 것인 방사성 핵종의 분석 방법
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청구항 1에 있어서,상기 방사성 핵종의 분석 방법은 액체질소를 이용하여 냉각하는 단계를 실질적으로 포함하지 않는 것인 방사성 핵종의 분석 방법
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청구항 1에 있어서,상기 방사성 핵종의 분석 방법은 유기 폐액을 포함하는 2차 방사성 폐기물이 실질적으로 발생하지 않는 것인 방사성 핵종의 분석 방법
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청구항 1에 있어서,상기 (B) 단계에서, 일정한 간격으로 이격된 복수의 X선 검출기로 검출하여 상기 에너지 스펙트럼을 얻는 것인 방사성 핵종의 분석 방법
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청구항 1에 있어서,(A1) 제1 보관용기에 수용된 Fe-55 및 Ni-59 함유 시료를 준비하는 단계;(B1) 상기 시료에 함유된 Fe-55 및 Ni-59로부터 발생되는 X선을 전하로 변환하고, 상기 전하가 드리프트 전기장에서 이동할 때 매개 물질로서 실리콘을 이용하여 광자에너지의 세기를 측정하는 적어도 하나의 X선 검출기로 검출하여 상기 Fe-55 및 상기 Ni-59의 X선 유래의 에너지 스펙트럼을 얻는 단계; 및(C1) 상기 얻어진 Fe-55 및 Ni-59의 X선 유래의 에너지 스펙트럼으로부터 상기 시료에 함유된 Fe-55와 Ni-59의 방사능을 결정한 후에, 상기 제1 보관용기를 외부로 이송하고, Fe-55 및 Ni-59 함유 시료가 수용된 제2 보관용기로 대체시키는 단계를 포함하는 사이클을 일정한 시간 간격으로 반복적으로 수행하는 것인 방사성 핵종의 분석 방법
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청구항 7에 있어서,상기 (C1) 단계에서, 상기 제1 보관용기를 상기 제1 보관용기와 일련(series)으로 배열되어 있는 상기 제2 보관용기로 대체시키는 것인 방사성 핵종의 분석 방법
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청구항 7에 있어서,상기 제1 보관용기로부터 상기 적어도 하나의 X선 검출기까지의 거리가 20 mm 이하인 것인 방사성 핵종의 분석 방법
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Fe-55 및 Ni-59 함유 시료를 보관하기 위한 제1 보관용기;상기 제1 보관용기로부터 일정한 거리에 배치되며, 상기 시료에 함유된 Fe-55 및 Ni-59로부터 발생되는 X선을 전하로 변환하고, 상기 전하가 드리프트 전기장에서 이동할 때 매개 물질로서 실리콘을 이용하여 광자에너지의 세기를 측정하여, 상기 Fe-55 및 상기 Ni-59의 X선 유래의 에너지 스펙트럼을 얻는 적어도 하나의 X선 검출기; 및상기 얻어진 Fe-55 및 Ni-59의 X선 유래의 에너지 스펙트럼으로부터 상기 시료에 함유된 Fe-55와 Ni-59의 방사능을 결정하는 측정부;를 포함하는 것인 방사성 핵종의 분석 장치
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청구항 10에 있어서,상기 Fe-55 및 Ni-59 함유 시료가 수용된 상기 제1 보관용기를 일정한 시간 간격으로 외부로 이송시켜서, 상기 제1 보관용기를 Fe-55 및 Ni-59 함유 시료가 수용된 제2 보관용기로 대체시키기 위한 이송 수단을 더 포함하는 것인 방사성 핵종의 분석 장치
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청구항 11에 있어서,상기 이송 수단은 상기 제1 보관용기와 상기 제2 보관용기는 일련(series)으로 배열되어 있는 것인 방사성 핵종의 분석 장치
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청구항 10에 있어서,상기 X선 검출기는 SDD(Silicon Drift Detector)를 포함하는 것인 방사성 핵종의 분석 장치
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청구항 10에 있어서,상기 방사성 핵종의 분석 장치는 액체질소를 이용하는 냉각부재를 실질적으로 포함하지 않는 것인 방사성 핵종의 분석 장치
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청구항 10에 있어서,상기 제1 보관용기로부터 상기 적어도 하나의 X선 검출기까지의 거리가 20 mm 이하인 것인 방사성 핵종의 분석 장치
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청구항 10에 있어서,상기 적어도 하나의 X선 검출기는, 일정한 간격으로 이격된 복수의 X선 검출기인 것인 방사성 핵종의 분석 장치
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