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다중 주파수 음파를 이용한 미세입자 응집 제거 시스템

  • 기술번호 : KST2021000706
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일 실시예는. 정화 영역으로 유입되는 매질 내의 미세입자를 측정하여 미세입자측정데이터를 출력하는 유입미세입자측정부; 상기 미세입자 측정데이터를 기초로 서로 다른 크기 분포의 미세입자들의 응집을 위한 서로 다른 주파수를 가지는 두 개 이상의 저주파음원들을 생성하여 저주파음파발생부로 출력하는 제어부; 및 상기 미세입자 응집을 위한 서로 다른 두 개 이상의 저주파음원들에 대응하는 저주파음파들을 상기 정화 영역 내부로 방출하는 저주파음파발생부;를 포함하여 구성되어, 서로 다른 주파수를 갖는 두 개 이상의 저주파음파를 이용하여 서로 다른 크기 분포에 속하는 미세입자들을 동시에 응집시키는 것에 의해 미세입자의 응집효율을 현저히 향상시키고, 고가의 처리제 또는 고성능 필터를 사용함이 없이 용이하게 미세입자를 제거할 수 있도록 하는 미세입자 응집 제거 시스템을 제공한다.
Int. CL B01D 49/00 (2006.01.01) B01D 53/30 (2006.01.01)
CPC B01D 49/006(2013.01) B01D 53/30(2013.01)
출원번호/일자 1020190091508 (2019.07.29)
출원인 한국생산기술연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2021-0013820 (2021.02.08)
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.07.29)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국생산기술연구원 대한민국 충청남도 천안시 서북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이효수 인천광역시 연수구
2 이해중 인천광역시 연수구
3 신형원 인천 연수구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 한상수 대한민국 서울시 서초구 효령로**길 ** *층 (브릿지웰빌딩)(에이치앤피국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.07.29 수리 (Accepted) 1-1-2019-0774493-31
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2020.04.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2020.07.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2020-0170351-06
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.11.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0791427-42
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2021.01.18 수리 (Accepted) 1-1-2021-0064262-41
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2021.01.18 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2021-0064234-73
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번호 청구항
1 1
정화 영역으로 유입되는 매질 내의 미세입자를 측정하여 미세입자측정데이터를 출력하는 유입미세입자측정부;상기 미세입자 측정데이터를 기초로 서로 다른 크기 분포의 미세입자들의 응집을 위한 서로 다른 주파수를 가지는 두 개 이상의 저주파음원들을 생성하여 저주파음파발생부로 출력하는 제어부; 및상기 미세입자 응집을 위한 서로 다른 두 개 이상의 저주파음원들에 대응하는 저주파음파들을 상기 정화 영역 내부로 방출하는 저주파음파발생부;를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 미세입자 응집 제거 시스템
2 2
제1항에 있어서,상기 정화 영역 내부의 매질에 포함되는 미세입자를 측정하여 미세입자 측정데이터를 생성하여 출력하는 정화영역미세입자측정부;를 포함하는 측정센서부를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 미세입자 응집 제거 시스템
3 3
제1항에 있어서,상기 정화 영역에서 배출되는 매질에 포함되는 미세입자를 측정한 후 잔류 미세입자 농도를 가지는 미세입자 측정데이터를 생성하여 출력하는 잔류미세입자측정부;를 포함하는 측정센서부를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 미세입자 응집 제거 시스템
4 4
제1항에 있어서,상기 정화 영역 내부의 상기 저주파음파들의 주파수 및 음압들을 검출한 후, 상기 제어부로 전송하는 저주파음파측정부;를 포함하는 측정센서부를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 미세입자 응집 제거 시스템
5 5
제1항에 있어서, 상기 제어부는,미세입자 응집을 위한 미세입자 오염도별 주파수 및 음압 데이터를 저장하는 저장부;를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 미세입자 응집 제거 시스템
6 6
제1항에 있어서,상기 저주파음파들의 주파수는 20㎐ 내지 20㎑ 범위인 것을 특징으로 하는 미세입자 응집 제거 시스템
7 7
제1항에 있어서,상기 저주파음파들의 음압은 0㏈ 내지 100㏈ 범위인 것을 특징으로 하는 미세입자 응집 제거 시스템
8 8
제1항에 있어서, 상기 제어부는,상기 정화 영역 내부의 저주파음파들의 주파수 및 음압과 잔류미세입자 측정 정보를 수신하여 저주파음원들의 주파수 및 음압을 가변하여 출력하는 저주파음원 피드백 제어 조정을 수행하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 미세입자 응집 제거 시스템
9 9
제1항에 있어서, 상기 저주파음파발생부는,상기 정화 영역 내에서 서로 대향하여 진행하는 상기 저주파음파들을 방출하도록 서로 대향하는 한 쌍 이상의 쌍으로 설치되는 액추에이터들을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 미세입자 응집 제거 시스템
10 10
제1항에 있어서,상기 제어부에서 출력된 상기 저주파음원들을 증폭하여 출력하는 음원증폭부;를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 미세입자 응집 제거 시스템
11 11
제1항에 있어서,상기 정화 영역 내부의 매질 내에서 상기 저주파음파발생부를 통해 출력된 저주파음파들에 의한 진동 충돌에 의해 응집된 미세입자 응집체를 포집한 후 상기 매질을 외부로 배출하는 배기부;를 더 포함하여 구성되는 특징으로 하는 미세입자 응집 제거 시스템
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술정보통신부 한국생산기술연구원 융합연구사업 음파·음압의 파동간섭을 이용한 음용수 내 마이크로플라스틱 저감·제거효율 기술개발(1/1)