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입력 스펙트럼을 측정하기 위한 하나 이상의 센서를 포함하는 측정부; 및상기 측정부의 성능으로부터 정의되는 특성 매트릭스 및 상기 측정부의 측정 결과로부터 상기 입력 스펙트럼을 복원한 복원 스펙트럼을 연산하는 프로세서;를 포함하는, 스펙트럼 분석기
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제1항에 있어서,상기 특성 매트릭스는 N행 Q(Q003e#N)열의 매트릭스인, 스펙트럼 분석기
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제1항에 있어서,상기 측정부는 서로 다른 파장의 신호를 검출하는 복수의 센서를 포함하는, 스펙트럼 분석기
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제3항에 있어서,상기 복원 스펙트럼의 해상도는 상기 복수의 센서의 개수에 의해 정해지는 해상도보다 높은, 스펙트럼 분석기
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제4항에 있어서,상기 입력 스펙트럼의 파장 범위를 W, 상기 복수의 센서의 개수를 N이라고 라고 할 때, 상기 복원 스펙트럼의 파장 해상 간격은 W/Q (Q003e#N)인, 스펙트럼 분석기
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제3항에 있어서,상기 복수의 센서의 개수를 N이라고 할 때,상기 특성 매트릭스는 N보다 큰 Q개의 복수의 센서로부터 배드(bad) 센서를 제거하여 N개의 유효 센서를 추출하는 과정에서 행과 열의 개수가 각각 N, Q인 매트릭스로 정의되는, 스펙트럼 분석기
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제6항에 있어서,상기 프로세서는상기 특성 매트릭스를 F라고 할 때, F*FT 로 정의되는 매트릭스 K의 비대각 위치의 값에 의한 불안정성을 최소화하도록, K-1의 근사된 매트릭스 Kap-1를 연산하는, 스펙트럼 분석기
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제7항에 있어서,상기 프로세서는복원 스펙트럼(S)를 다음 식에 따라 연산하는, 스펙트럼 분석기
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제7항에 있어서,상기 프로세서는상기 매트릭스 K의 상기 비대각 위치의 값이 상기 매트릭스 Kap에 기여하는 정도를 나타내는 변수 η(0003c#η003c#1)를 사용하여 상기 매트릭스 Kap-1을 연산하는, 스펙트럼 분석기
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제7항에 있어서,상기 프로세서는상기 매트릭스 K의 대각 위치의 값(diagonal term)으로 이루어진 대각선 행렬(diagonal matrix), D 및 비대각 위치의 값(off-diagonal term)으로 이루어진 비대각선 행렬(off-diagonal matrix), G를 정의하여,K-1을 G에 대해 급수 전개하고 고차항을 제거하는 방식으로 Kap-1을 정하는, 스펙트럼 분석기
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제10항에 있어서,상기 프로세서는Σ=D+ηG (0003c#η003c#1)를 만족하는 매트릭스 Σ를 정의하고, K-1을 GΣ-1에 대해 급수 전개하고 고차항을 제거하는 방식으로 Kap-1을 정하는, 스펙트럼 분석기
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제11항에 있어서,상기 프로세서는 0
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하나 이상의 센서를 포함하며 소정의 특성 매트릭스를 가지는 측정부를 준비하는 단계;상기 측정부로부터 입력 스펙트럼에 대한 측정값을 획득하는 단계; 및상기 측정값 및 상기 특성 매트릭스로부터 상기 입력 스펙트럼를 복원한 복원 스펙트럼을 연산하는 단계;를 포함하는, 스펙트럼 분석 방법
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제13항에 있어서,상기 측정부는 서로 다른 공진 파장을 가지는 복수의 센서를 포함하는, 스펙트럼 분석 방법
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제14항에 있어서,상기 복원 스펙트럼을 연산하는 단계는상기 복원 스펙트럼의 해상도가 상기 복수의 센서의 개수에 의해 정해지는 해상도보다 높아지는 연산법을 사용하는, 스펙트럼 분석 방법
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제14항에 있어서,복원 스펙트럼을 연산하는 단계는상기 입력 스펙트럼의 파장 범위를 W, 상기 복수의 센서의 개수를 N이라고 라고 할 때, 상기 복원 스펙트럼의 파장 해상 간격은 W/Q (Q003e#N)가 되는 연산법을 사용하는, 스펙트럼 분석 방법
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제13항에 있어서,상기 측정부를 준비하는 단계는Q개의 복수의 센서로부터 배드(bad) 센서를 제거하여 N개의 유효 센서를 추출하는 단계를 포함하는, 스펙트럼 분석 방법
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제17항에 있어서,상기 측정부를 준비하는 단계는상기 Q개의 복수의 센서에 소정의 기준 신호를 인가하는 단계;상기 인가된 기준 신호에 따라, 상기 Q개의 센서 중 i 번째 센서, mi 가 파장 λj 에 반응한 신호값을 i행 j열의 행렬값 f'ij (1≤i,j≤Q, i,j,Q는 자연수)로 하는 Q행 Q열의 매트릭스 F'를 만드는 단계; 상기 행렬값 f'ij을 참조하여 상기 Q개의 센서 중 상기 배드 센서를 판정하는 단계; 및상기 매트릭스 F'에서 상기 Q개의 센서 중 상기 배드 센서로 판정된 센서에 해당하는 행을 삭제한 N행 Q열의 매트릭스 F를 상기 특성 매트릭스로 설정하는 단계;를 포함하는, 스펙트럼 분석 방법
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제13항에 있어서,상기 복원 스펙트럼을 연산하는 단계는상기 특성 매트릭스를 F라고 할 때, F*FT 로 정의되는 매트릭스 K의 비대각 위치의 값에 의한 불안정성을 최소화하도록, K-1로부터 근사된 매트릭스 Kap-1를 연산하고, 상기 복원 스펙트럼(S)를 다음 식에 따라 연산하는, 스펙트럼 분석 방법
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제16항에 있어서,상기 복원 스펙트럼을 연산하는 단계는상기 매트릭스 K의 상기 비대각 위치의 값이 상기 매트릭스 Kap에 기여하는 정도를 나타내는 변수 η(0003c#η003c#1)를 사용하여 상기 매트릭스 Kap-1을 연산하는, 스펙트럼 분석 방법
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