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이상 패턴 발생 탐지 장치의 제어부가 미리 정의된 X 데이터를 이용하여 이진 이상치 탐지를 위한 모델을 구성하는 제1 단계;상기 제어부가 상기 구성된 모델에서 Z 데이터에 대하여 정상 및 이상치의 이진 레이블을 출력한 후, 참조 윈도우 및 탐지 윈도우를 설정하는 제2 단계;상기 제어부가 상기 참조 윈도우 및 탐지 윈도우에서의 이상치 표본 비율(, )을 계산하고, 상기 이상치 표본 비율(, )을 이용하여 검정통계량()을 계산한 후 정규분포에서의 p-value를 계산하는 제3 단계; 및상기 제어부가 상기 p-value를 기 설정된 임계 값()과 비교하여, 상기 비교 결과 상기 p-value가 임계 값()보다 작지 않으면 탐지 범위를 앞으로 이동하여 상기 제3 단계를 반복 수행하고, 상기 p-value가 임계 값()보다 작으면 이상 패턴이 발생한 것을 탐지하는 제4 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 스트림에서 이상 패턴 발생 탐지 방법
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제 1항에 있어서, 상기 검정통계량은 아래의 수학식 2에 의해 산출되는 것을 특징으로 하는 데이터 스트림에서 이상 패턴 발생 탐지 방법
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제 2항에 있어서, 상기 은 아래의 수학식 1에 의해 산출되는 것을 특징으로 하는 데이터 스트림에서 이상 패턴 발생 탐지 방법
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제 1항에 있어서, 상기 X 데이터는 모델 구성에 사용하는 정상 데이터를 의미하고, 상기 Z 데이터는 테스트에 사용되는 데이터 스트림을 의미하는 것을 특징으로 하는 데이터 스트림에서 이상 패턴 발생 탐지 방법
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이상 패턴 발생 탐지 장치의 제어부가 미리 정의된 X 데이터를 이용하여 이상치 지수를 생성하는 이상치 탐지를 위한 모델을 구성하는 제1 단계;상기 제어부가 상기 구성된 모델에서 Z 데이터에 대해 이상치 지수 스트림으로 변환하고, X 데이터에서의 이상치 지수 스트림을 이용하여 임계 값 앙상블을 구성하고, Z 데이터에 대해 이진 값 스트림 앙상블로 변환하는 제2 단계;상기 제어부가 각 참조 윈도우 및 탐지 윈도우에서의 이상치 표본 비율을 계산하여, 각각의 p-value를 계산하는 제3 단계; 및상기 p-value를 기 설정된 임계 값()과 비교하여, 상기 p-value가 임계 값()보다 작지 않으면 탐지 범위를 앞으로 이동하여 상기 제3 단계를 반복 수행하고, 상기 p-value가 임계 값()보다 작으면 이상 패턴이 발생한 것을 탐지하는 제4 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 스트림에서 이상 패턴 발생 탐지 방법
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제 5항에 있어서, 상기 X 데이터는 모델 구성에 사용하는 정상 데이터를 의미하고, 상기 Z 데이터는 테스트에 사용되는 데이터 스트림을 의미하는 것을 특징으로 하는 데이터 스트림에서 이상 패턴 발생 탐지 방법
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