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금형 프레스의 상형과 하형의 평행도를 측정하는 것으로,상기 상형과 하형이 기설정된 위치에 도달하면 신호를 전송하는 위치전송유닛,기설정된 위치에 배치되어 상기 상형의 거리, 상기 하형과의 거리를 측정하는 측정유닛 및상기 감지유닛 및 상기 측정유닛과 연결된 제어부를 포함하며,상기 측정유닛은, 상기 상형과 상기 하형이 상기 기설정된 위치에 도달하면 상기 거리를 측정하고, 상기 제어부는 측정 주기에 따른 차이값과 상기 상형 또는 상기 하형의 길이값으로 상기 평행도를 측정하는금형 프레스 평행도 측정 장치
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금형 프레스의 상형과 하형의 평행도를 측정하는 것으로,상기 상형과 하형이 기설정된 위치에 도달하면 신호를 전송하는 위치전송유닛,상기 상형 또는 상기 하형에 배치되어 상기 상형의 거리 또는 상기 하형과의 거리를 측정하는 측정유닛 및상기 위치전송유닛 및 상기 측정유닛과 연결된 제어부를 포함하며,상기 측정유닛은 상기 상형과 상기 하형이 상기 기설정된 위치에 도달하면 상기 거리를 측정하고, 상기 제어부는 측정 주기에 따른 차이값과 상기 상형 또는 하형 길이값으로 상기 평행도를 측정하는금형 프레스 평행도 측정 장치
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제1항에서,상기 측정유닛은 상기 상형과 상기 하형을 가이드하는 복수의 포스트와 각각 이웃하게 배치되어 있고 상기 제어부와 연결된 제1 내지 제4 상형센서 및 제1 내지 제4 하형센서를 포함하며,상기 제1 내지 제4 상형센서는 상기 상형과의 거리를 측정하며, 상기 제1 내지 제4 하형센서는 상기 하형과의 거리를 측정하는금형 프레스 평행도 측정 장치
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4
제3항에서,상기 제어부는 상기 제1 내지 제4 상형센서의 측정 주기에 따른 최대값과 최소값의 차이값을 산출하고, 산출된 주기 차이값과 상기 상형의 길이값으로 상기 상형의 평행도를 측정하며,상기 상형의 평행도는 다음의 수학식에 의해 산출되는(여기서, L은 차이값이 발생한 상형센서가 위치한 상형부분의 길이값이고, 는 상형센서와 상형의 거리 측정에 따른 주기 차이값이다
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제4항에서,상기 제어부는, X방향으로 배열된 상형센서의 상기 주기 차이값을 산출하고, 상기 주기 차이값과 상기 상형의 X방향 길이값으로 상기 상형의 피칭(Pitching) 평행도를 측정하며,상기 피칭 평행도는 다음의 수학식에 의해 산출되는(여기서, 는 상형의 X방향 길이값이고, 는 X방향으로 배열된 상형센서와 상형의 거리 측정에 따른 주기 차이값이다
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제4항에서,상기 제어부는, Y방향으로 배열된 상형센서의 상기 주기 차이값을 산출하고 상기 주기 차이값과 상기 상형의 Y방향 길이값으로 상기 상형의 롤링(Roll) 평행도를 측정하며,상기 롤링 평행도는 다음의 수학식에 의해 산출되는(여기서, 는 상형의 Y방향의 길이값이고, 는 Y방향으로 배열된 상형센서와 상형의 거리 측정에 따른 주기 차이값이다
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7
제3항에서,상기 제어부는 상기 제1 내지 제4 하형센서의 측정 주기에 따른 최대값과 최소값의 차이값을 산출하고, 산출된 주기 차이값과 하형의 길이값으로 상기 하형의 평행도를 측정하며,상기 하형의 평행도는 다음의 수학식에 의해 산출되는(여기서, L은 차이값이 발생한 하형센서가 위치한 하형부분의 길이값이고, 는 하형센서와 하형의 거리 측정에 따른 주기 차이값이다
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8
제7항에서,상기 제어부는, X방향으로 배열된 하형센서의 상기 주기 차이값을 산출하고, 산출된 주기 차이값과 상기 하형의 X방향 길이값으로 상기 하형의 피칭(Pitching) 평행도를 측정하며,상기 피칭 평행도는 다음의 수학식에 의해 산출되는(여기서, 는 하형의 X방향 길이값이고, 는 X방향으로 배열된 하형센서와 하형의 거리 측정에 따른 주기 차이값이다
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9
제7항에서,상기 제어부는, Y방향으로 배열된 하형센서의 상기 주기 차이값을 산출하고, 산출된 주기 차이값과 상기 하형의 Y방향 길이값으로 상기 상형의 롤링(Roll) 평행도를 측정하며,상기 롤링 평행도는 다음의 수학식에 의해 산출되는(여기서, 는 하형의 Y방향의 길이값이고, 는 Y방향으로 배열된 하형센서와 하형의 거리 측정에 따른 주기 차이값이다
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10
제2항에서,상기 측정유닛은 상기 상형과 상기 하형을 가이드하는 복수의 포스트와 각각 이웃하게 배치되어 상기 제어부와 연결된 제1 내지 제4 상하센서를 포함하며, 상기 제1 내지 제4 상하센서는 상기 상형과 상기 하형의 거리를 측정하는금형 프레스 평행도 측정 장치
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11
제10항에서,상기 제어부는 상기 제1 내지 제4 상하센서의 측정 주기에 따른 최대값과 최소값의 차이값을 산출하고, 산출된 주기 차이값과 상기 상형과 상기 하형의 길이값으로 상기 상형과 상기 하형의 평행도를 측정하며,상기 상형 또는 상기 하형의 평행도는 다음의 수학식에 의해 산출되는(여기서, L은 차이값이 발생한 상하센서가 위치한 상형 또는 하형부분의 길이값이고, 는 상형과 하형의 거리 측정에 따른 주기 차이값이다
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12
제11항에서,상기 제어부는, X방향으로 배열된 상하센서의 상기 주기 차이값을 산출하고, 상기 주기 차이값과 상기 상형 또는 상기 하형 길이값으로 상기 상형과 상기 하형의 피칭(Pitching) 평행도를 측정하며,상기 피칭 평행도는 다음의 수학식에 의해 산출되는(여기서, 는 상형 또는 하형의 X방향 길이값이고, 는 X방향으로 배열된 상하센서가 위치한 상형과 하형의 거리 측정에 따른 주기 차이값이다
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13
제11항에서,상기 제어부는, Y방향으로 배열된 상하센서의 상기 주기 차이값을 산출하고 상기 주기 차이값과 상기 상형 또는 상기 하형의 Y방향 길이값으로 상기 상형과 상기 하형의 롤링(Roll) 평행도를 측정하며,상기 롤링 평행도는 다음의 수학식에 의해 산출되는(여기서, 는 상형 또는 하형의 Y방향의 길이값이고, 는 Y방향으로 배열된 상하센서가 위치한 상형과 하형의 거리 측정에 따른 주기 차이값이다
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14
제1항 또는 제2항에서,상기 측정유닛은 비 접촉 레이저 센서 또는 갭(GAP)센서를 포함하는 금형 프레스 평행도 측정 장치
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금형 프레스의 상형과 하형을 작동하는 단계,상기 상형과 하형이 기설정된 위치에 도달하였는지 감지하는 단계,상기 상형과 상기 하형이 기설정된 위치에 도달하면 상기 상형의 거리, 상기 하형과의 거리를 측정하는 단계,상기 거리를 측정하는 단계를 반복하는 단계,상기 거리 측정 주기에 따른 차이값을 산출하는 단계 및산출된 상기 차이값을 상기 상형 또는 상기 하형의 길이값으로 나누어 상기 상형 또는 상기 하형의 평행도를 측정단계를 포함하며,상기 평행도는 다음의 수학식에 의해 산출되는(여기서, L은 차이값이 발생한 상형센서가 위치한 상형부분의 길이값이고, 는 상형센서와 상형의 거리 측정에 따른 주기 차이값이다
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