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이퓨즈(E-Fuse: Electrical Fuse) OTP(One Time Programmable) 메모리 장치에 있어서,이퓨즈 셀;상기 이퓨즈 셀에 읽기 전류를 인가하여 상기 이퓨즈 셀에 대한 셀출력 전압을 생성하는 셀출력전압 생성부;기준 전류가 생성되도록 구동되어 상기 기준 전류에 따라 기준 전압을 생성하는 기준전압 생성부;서로 다른 복수의 복사 전류를 각각 생성하는 복수의 전류 복사회로;상기 복수의 전류 복사회로 중에서 하나의 전류 복사회로를 선택하여 상기 하나의 전류 복사회로에 대응하는 복사 전류가 제2 구동 전류로서 흐르도록 하는 전류선택부;상기 복수의 전류 복사회로에 연결되되, 상기 제2 구동 전류에 따라 상기 기준전압 생성부에 상기 기준 전류가 생성되도록 구동하는 제2 구동회로; 및상기 셀출력 전압과 상기 기준 전압 사이의 차이를 기반으로 상기 이퓨즈 셀의 데이터에 대한 정보를 생성하는 데이터 판독부를 포함하되,상기 복수의 복사 전류는 정상동작 전류, 상기 정상동작 전류보다 작은 제1 검증전류 및 상기 정상동작 전류보다 큰 제2 검증전류를 포함하고,상기 전류선택부의 선택에 의해 상기 제1 검증전류 또는 상기 제2 검증전류에 대응되는 기준 전류가 상기 기준전압 생성부에 인가되는 경우, 상기 데이터 판독부는 상기 제1 검증전류 또는 상기 제2 검증전류에 대응되는 기준 전압과 상기 셀출력 전압 사이의 차이에 기초하여 상기 이퓨즈 셀에 오류가 발생하였는지 여부를 나타내는 정보를 생성하는 이퓨즈 OTP 메모리 장치
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제1항에 있어서,상기 데이터 판독부는,상기 셀출력 전압과 상기 기준 전압을 각각 차동입력으로서 수신하는 차동증폭기를 포함하되, 상기 차동입력의 차이에 따른 상기 차동증폭기의 출력을 기반으로 상기 데이터 판독을 수행하는 것을 특징으로 하는 이퓨즈 OTP 메모리 장치
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제1항에 있어서,기설정된 크기의 제1 구동 전류를 발생하되 상기 복수의 전류 복사회로에 대한 전류 미러로서 형성되는 제1 구동회로를 더 포함하는 이퓨즈 OTP 메모리 장치
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제3항에 있어서,상기 제1 구동회로에 의해 구동되어 제3 구동전류를 생성하고 상기 셀출력전압 생성부에서 상기 읽기 전류가 생성되도록 상기 셀출력전압 생성부를 구동하는 제3 구동회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이퓨즈 OTP 메모리 장치
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제5항에 있어서,상기 셀출력전압 생성부는 상기 제3 구동회로에 대한 전류 미러를 포함하는 것을 특징으로 하는 이퓨즈 OTP 메모리 장치
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제1항에 있어서,상기 이퓨즈 셀은 프로그래밍되기 전의 것이고 상기 제1 검증전류에 대응되는 기준 전류가 생성된 경우, 상기 데이터 판독부는 상기 셀출력 전압이 상기 기준 전압보다 클 경우 상기 이퓨즈 셀에 오류가 발생하였음을 나타내는 정보를 생성하는 것을 특징으로 하는 이퓨즈 OTP 메모리 장치
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제1항에 있어서,상기 이퓨즈 셀은 프로그래밍된 것이고 상기 제2검증전류에 대응되는 기준 전류가 생성된 경우, 상기 데이터 판독부는 상기 셀출력 전압이 상기 기준 전압보다 작을 경우 상기 이퓨즈셀에 오류가 발생하였음을 나타내는 정보를 생성하는 것을 특징으로 하는 이퓨즈 OTP 메모리 장치
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이퓨즈 OTP 메모리 장치가 이퓨즈 OTP 메모리를 구동하는 방법에 있어서,이퓨즈 셀에 읽기 전류를 인가하여 상기 이퓨즈 셀에 대한 셀출력 전압을 생성하는 과정;기준전압 생성부에 기준 전류가 생성되도록 구동되어 상기 기준 전류에 따라 기준 전압을 생성하는 과정;서로 다른 복수의 복사 전류를 생성하는 복수의 전류 복사회로 중에서 하나의 전류 복사회로를 선택하여 상기 하나의 전류 복사회로에 대응하는 복사 전류가 제2 구동 전류로서 흐르도록 하는 선택과정; 및상기 복수의 전류 복사회로에 연결된 제2 구동회로가 상기 제2 구동 전류에 따라 상기 기준전압 생성부에 상기 기준 전류가 생성되도록 구동하는 과정을 포함하되,상기 복수의 복사 전류는 정상동작 전류, 상기 정상동작 전류보다 작은 제1 검증전류 및 상기 정상동작 전류보다 큰 제2 검증전류를 포함하고,상기 선택과정에서 상기 제1 검증전류 또는 상기 제2 검증전류에 대응되는 기준 전류가 인가되는 경우, 상기 제1 검증전류 또는 상기 제2 검증전류에 대응되는 기준 전압과 상기 셀출력 전압 사이의 차이에 기초하여 상기 이퓨즈 셀에 오류가 발생하였는지 여부를 나타내는 정보를 생성하는 과정을 더 포함하는 이퓨즈 OTP 메모리 구동 방법
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