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다중 멤브레인 구조를 기반으로 민감도를 조절할 수 있는 이온 측정 시스템

  • 기술번호 : KST2021002107
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 타겟 이온의 농도를 측정하기 위한 이온 측정 시스템을 제안한다. 일 실시예에 따른 이온 측정 시스템은, 적어도 하나의 이온선택성 막, 상기 적어도 하나의 이온선택성 막과 일방향으로 교대로 배치되는 적어도 하나의 투과성 막, 상기 적어도 하나의 이온선택성 막 및 상기 적어도 하나의 투과성 막에 의해 구획된 복수의 공간들, 및 상기 복수의 공간들 중, 상기 일방향으로 양 끝에 위치한 두 개의 공간들에 각각 배치되는 두 개의 전극들을 포함하고, 상기 복수의 공간들에는 미리 설정된 농도의 상기 타겟 이온을 포함하는 기준 용액 및 상기 타겟 이온의 농도를 측정하기 위한 샘플 용액이 상기 일방향으로 교대로 수용된다.
Int. CL G01N 27/06 (2006.01.01) G01N 27/30 (2006.01.01) G01N 27/333 (2006.01.01)
CPC G01N 27/06(2013.01) G01N 27/301(2013.01) G01N 27/333(2013.01)
출원번호/일자 1020190103984 (2019.08.23)
출원인 국방과학연구소
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2021-0023584 (2021.03.04) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.08.23)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정택동 서울특별시 관악구
2 노지헌 서울특별시 관악구
3 연송이 서울특별시 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.08.23 수리 (Accepted) 1-1-2019-0870550-76
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2020.04.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2020.07.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2020-0165321-18
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.11.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0777177-04
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.12.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-1422975-73
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2020.12.28 수리 (Accepted) 1-1-2020-1422974-27
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번호 청구항
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타겟 이온의 농도를 측정하기 위한 이온 측정 시스템에 있어서,적어도 하나의 이온선택성 막;상기 적어도 하나의 이온선택성 막과 일방향으로 교대로 배치되는 적어도 하나의 투과성 막;상기 적어도 하나의 이온선택성 막 및 상기 적어도 하나의 투과성 막에 의해 구획된 복수의 공간들; 및상기 복수의 공간들 중, 상기 일방향으로 양 끝에 위치한 두 개의 공간들에 각각 배치되는 두 개의 전극들을 포함하고,상기 복수의 공간들에는 미리 설정된 농도의 상기 타겟 이온을 포함하는 기준 용액 및 상기 타겟 이온의 농도를 측정하기 위한 샘플 용액이 상기 일방향으로 교대로 수용되는, 이온 측정 시스템
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제1항에 있어서,상기 적어도 하나의 이온선택성 막 및 상기 적어도 하나의 투과성 막의 개수를 조정하여 상기 타겟 이온의 농도를 측정하는 민감도를 조절할 수 있는, 이온 측정 시스템
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제2항에 있어서,상기 적어도 하나의 이온선택성 막 및 상기 적어도 하나의 투과성 막 중, 하나의 이온선택성 막 및 상기 하나의 이온선택성 막과 인접한 하나의 투과성 막은 한 쌍의 멤브레인 유닛을 이루고,상기 멤브레인 유닛의 개수를 조정하여 상기 민감도를 조절할 수 있는, 이온 측정 시스템
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제3항에 있어서,상기 멤브레인 유닛의 개수에 비례하여 상기 민감도가 증가하는, 이온 측정 시스템
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제1항에 있어서,상기 적어도 하나의 이온선택성 막 및 상기 적어도 하나의 투과성 막의 개수는 동일한, 이온 측정 시스템
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제1항에 있어서,상기 일방향으로 양 끝에 위치한 두 개의 공간들에는 상기 기준 용액이 수용되는, 이온 측정 시스템
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제1항에 있어서,상기 적어도 하나의 이온선택성 막, 상기 적어도 하나의 투과성 막, 상기 기준 용액, 및 상기 샘플 용액을 수용하는 내부 공간을 포함하는 용기를 더 포함하는, 이온 측정 시스템
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타겟 이온의 농도를 측정하기 위한 이온 측정 방법에 있어서,적어도 하나의 이온선택성 막 및 적어도 하나의 투과성 막을 일방향으로 교대로 배치하는 단계;미리 설정된 농도의 상기 타겟 이온을 포함하는 기준 용액 및 상기 타겟 이온의 농도를 측정하기 위한 샘플 용액을, 상기 적어도 하나의 이온선택성 막 및 상기 적어도 하나의 투과성 막에 의해 구획된 복수의 공간들에, 상기 일방향으로 교대로 수용시키는 단계; 상기 복수의 공간들 중, 상기 일방향으로 양 끝에 위치한 두 개의 공간들에, 두 개의 전극들을 각각 배치하는 단계; 및상기 두 개의 전극들 사이의 기전력을 측정하여 상기 샘플 용액이 포함하는 상기 타겟 이온의 농도를 측정하는 단계를 포함하는, 이온 측정 방법
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