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특허분류코드를 활용한 발명패턴 분석시스템에 있어서, 출원인 정보를 입력받는 검색단말 및상기 검색단말로부터 상기 출원인 정보를 수신받아 특허분류코드를 이용하여 출원인의 기술발명을 추출하는 메인서버를 포함하는 특허분류코드를 활용한 발명패턴 분석시스템
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제 1항에 있어서, 상기 메인서버는, 지식재산권 데이터베이스;상기 지식재산권 데이터베이스에서 출원인 발명데이터를 수집하는 수집부;상기 수집부에서 수집된 발명데이터를 섹션, 클래스, 서브 클래스, 메인그룹 및 서브그룹 및 그 이하의 구조를 포함하는 CPC 및 IPC를 이용하여 정제하는 전처리부;상기 전처리부에 의해 정제된 발명데이터를 CPC 및 IPC를 이용하여 결과값을 도출하는 비교부;상기 전처리부에 의해 정제된 발명데이터를 분석하는 분석부 및상기 분석부에 의해 분석된 발명데이터에서 가장 높은 비율을 차지하는 대표기술의 특허분류코드를 추출하는 추출부를 포함하는 특허분류코드를 활용한 발명패턴 분석시스템
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제 2항에 있어서,상기 지식재산권 데이터베이스는,한국특허정보원(KIPRIS), USPTO, EPO 및 특허 문헌 정보를 제공하는 웹 서버 중 하나 또는 2개 이상의 집합으로부터 발명데이터를 수집하여 저장하는 것을 특징으로 하는 특허분류코드를 활용한 발명패턴 분석시스템
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제 2항에 있어서,상기 전처리부는,상기 수집된 출원인 발명데이터를 CPC 및 IPC를 섹션, 클래스, 서브 클래스, 메인그룹 및 서브그룹까지 남기고 나머지는 제거하여 정제하는 것을 특징으로 하는 특허분류코드를 활용한 발명패턴 분석시스템
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제 2항에 있어서, 상기 분석부는 4가지 발명패턴을 적용하여 분석하며, 상기 4가지 발명패턴은 동일(S; Same), 전이(T; Transition), 확장(E; Expansion) 및 독립(I; independent)을 포함하는 것을 특징으로 하는 특허분류코드를 활용한 발명패턴 분석시스템
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제 5항에 있어서, 상기 동일(S)은 상기 전처리부에 의해 정제된 발명데이터의 CPC 및 IPC가 상기 서브그룹까지 동일한 경우이고,상기 전이(T)는 상기 전처리부에 의해 정제된 발명데이터의 CPC 및 IPC가 서브그룹부터 달라지는 경우이고, 상기 확장(E)은 상기 전처리부에 의해 정제된 발명데이터의 CPC 및 IPC가 메인그룹부터 달라지는 경우이고,상기 독립(I)은 상기 전처리부에 의해 정제된 발명데이터의 CPC 및 IPC가 서브 클래스 이상부터 달라지는 경우를 특징으로 하는 특허분류코드를 활용한 발명패턴 분석시스템
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제 5항에 있어서, 상기 추출부는,상기 분석부에 의해 분석된 발명데이터에서 CPC 및 IPC를 이용하여 대표기술을 도출하는 도출부;상기 도출부에 의해 도출된 대표기술을 상기 4가지 발명패턴 별로 CPC 및 IPC의 빈도를 측정하는 측정부 및상기 측정부에 의해 측정된 빈도를 가지고 높은 비율을 차지하는 대표기술의 특허분류코드를 도출하여 발명의 추이를 분석하는 추이분석부를 포함하는 특허분류코드를 활용한 발명패턴 분석시스템
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특허분류코드를 활용한 발명패턴 분석방법은, 출원인 정보를 입력받는 단계;상기 출원인 정보를 이용하여 출원인 발명데이터를 수집하는 단계;상기 수집된 발명데이터를 섹션, 클래스, 서브 클래스, 메인그룹 및 서브그룹 및 그 이하의 구조를 포함하는 CPC 및 IPC를 이용하여 정제하는 단계;상기 정제된 발명데이터를 분석하는 단계 및상기 분석된 발명데이터에서 가지고 높은 비율을 차지하는 대표기술의 특허분류코드를 추출하는 단계를 포함하는 특허분류코드를 활용한 발명패턴 분석방법
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제 8항에 있어서,상기 CPC 및 IPC를 이용하여 정제하는 단계는,상기 정제된 발명데이터를 CPC 및 IPC를 이용하여 결과값을 도출하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 특허분류코드를 활용한 발명패턴 분석방법
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제 8항에 있어서,상기 대표기술의 특허분류코드를 추출하는 단계는,상기 분석된 발명데이터에서 CPC 및 IPC를 이용하여 대표기술을 도출하는 단계;상기 도출된 대표기술을 상기 4가지 발명패턴 별로 CPC 및 IPC의 빈도를 측정하는 단계 및상기 측정된 빈도를 가지고 높은 비율을 차지하는 대표기술의 특허분류코드를 도출하여 발명의 추이를 분석하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허분류코드를 활용한 발명패턴 분석방법
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