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혼성신호 회로의 성능예측을 위한 스펙트럼 누출(Spectral Leakage) 기반의 루프백 방법에 있어서, 온칩(On-Chip) DSP 코어(DSP core)에 의해 디지털 합성 단일톤 사인파 입력 신호(A digitally-synthesized single-tone sinusoidal stimulus)를 생성하여 비선형 DAC 채널(DAC channel)에서 샘플링하며, DAC 출력 신호를 아날로그 루프백 경로(Analog loopback path)를 통해 비선형 ADC 채널(ADC channel)로 공급하여 공정 테스트를 위한 상기 DAC 채널 및 상기 ADC 채널 각각을 측정하는 단계; 및상기 온칩 DSP 코어에 의해 후처리를 수행하며, 두 개의 개별 상기 DAC 채널 및 상기 ADC 채널의 고조파를 예측하는 단계를 포함하는 혼성신호 회로의 성능예측을 위한 루프백 방법
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제1항에 있어서,상기 DAC 출력 신호는DAC 고조파 계수에 의한 비일관적인 샘플링에 의해 유입되는 DAC 고조파와 스펙트럼 누출 사이의 상관관계를 나타내는 것을 특징으로 하는, 혼성신호 회로의 성능예측을 위한 루프백 방법
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제3항에 있어서,상기 DAC 채널 및 상기 ADC 채널 각각을 측정하는 단계는샘플링된 상기 DAC 출력 신호를 수정하지 않으며, 상기 아날로그 루프백 경로를 통해 스펙트럼상 가중된 DAC 출력 신호를 상기 비선형 ADC 채널에 전달하는, 혼성신호 회로의 성능예측을 위한 루프백 방법
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제4항에 있어서,상기 아날로그 루프백 경로를 통한 루프백 응답은상기 DAC 고조파와 DAC 및 ADC 고조파 계수에 의한 스펙트럼 누출에 따라 ADC 고조파와 상기 DAC 출력 신호 사이의 상관관계를 나타내는 것을 특징으로 하는, 혼성신호 회로의 성능예측을 위한 루프백 방법
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제1항에 있어서,상기 DAC 채널 및 상기 ADC 채널의 고조파를 예측하는 단계는상기 아날로그 루프백 경로를 통한 루프백 응답과, 비일관적인 샘플링 요소로부터 개별 DAC 고조파 계수 및 ADC 고조파 계수를 산출하며, 상기 DAC 고조파 계수 및 상기 ADC 고조파 계수를 이용하여 상기 DAC 채널 및 상기 ADC 채널의 고조파 계수를 산출하는, 혼성신호 회로의 성능예측을 위한 루프백 방법
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제1항에 있어서,상기 DAC 채널 및 상기 ADC 채널 각각을 측정하는 단계를 수행하기 전에, 루프백 경로의 전달 함수를 도출하여 상관관계를 모델링하는 단계를 더 포함하는 혼성신호 회로의 성능예측을 위한 루프백 방법
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제8항에 있어서,상기 상관관계를 모델링하는 단계는상기 DAC 채널에서 상기 아날로그 루프백 경로를 통한 상기 ADC 채널로의 경로인 상기 루프백 경로의 전달 함수를 도출하여 상관관계를 모델링하여 특정 모델을 획득하는 것을 특징으로 하는, 혼성신호 회로의 성능예측을 위한 루프백 방법
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제9항에 있어서,상기 특정 모델은DAC 및 ADC 고조파 계수와 상기 DAC 채널 및 상기 ADC 채널의 고조파에 의해 결정되는 루프백 응답을 나타내는, 혼성신호 회로의 성능예측을 위한 루프백 방법
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혼성신호 회로의 성능예측을 위한 스펙트럼 누출(Spectral Leakage) 기반의 루프백 시스템에 있어서, 온칩(On-Chip) DSP 코어(DSP core)에 의해 디지털 합성 단일톤 사인파 입력 신호(A digitally-synthesized single-tone sinusoidal stimulus)를 생성하여 비선형 DAC 채널(DAC channel)에서 샘플링하며, DAC 출력 신호를 아날로그 루프백 경로(Analog loopback path)를 통해 비선형 ADC 채널(ADC channel)로 공급하여 공정 테스트를 위한 상기 DAC 채널 및 상기 ADC 채널 각각을 측정하는 측정부; 및상기 온칩 DSP 코어에 의해 후처리를 수행하며, 두 개의 개별 상기 DAC 채널 및 상기 ADC 채널의 고조파를 예측하는 고조파 예측부를 포함하는 혼성신호 회로의 성능예측을 위한 루프백 시스템
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제11항에 있어서,상기 측정부는샘플링된 상기 DAC 출력 신호를 수정하지 않으며, 상기 아날로그 루프백 경로를 통해 스펙트럼상 가중된 DAC 출력 신호를 상기 비선형 ADC 채널에 전달하는, 혼성신호 회로의 성능예측을 위한 루프백 시스템
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제11항에 있어서,상기 고조파 예측부는상기 아날로그 루프백 경로를 통한 루프백 응답과, 비일관적인 샘플링 요소로부터 개별 DAC 고조파 계수 및 ADC 고조파 계수를 산출하며, 상기 DAC 고조파 계수 및 상기 ADC 고조파 계수를 이용하여 상기 DAC 채널 및 상기 ADC 채널의 고조파 계수를 산출하는, 혼성신호 회로의 성능예측을 위한 루프백 시스템
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제11항에 있어서,상기 측정부를 수행하기 전에, 루프백 경로의 전달 함수를 도출하여 상관관계를 모델링하는 모델링부를 더 포함하는 혼성신호 회로의 성능예측을 위한 루프백 시스템
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제16항에 있어서,상기 모델링부는상기 DAC 채널에서 상기 아날로그 루프백 경로를 통한 상기 ADC 채널로의 경로인 상기 루프백 경로의 전달 함수를 도출하여 상관관계를 모델링하여 특정 모델을 획득하는 것을 특징으로 하는, 혼성신호 회로의 성능예측을 위한 루프백 시스템
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