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시료의 회절 패턴(Diffraction Pattern, DP) 이미지로부터 면간 거리 및 면간 각도를 측정하는 측정 모듈;시료의 성분 정보가 입력되면, 데이터베이스를 참조하여 상기 시료의 성분 정보에 대응하는 결정 구조들을 가지는 1차 후보군을 선정하는 1차 후보군 선정 모듈;상기 데이터베이스를 참조하여, 선정된 상기 1차 후보군에 포함된 결정 구조들 중 측정된 상기 면간 거리와 매칭되는 면간 거리를 가지는 결정 구조들을 2차 후보군으로 선정하는 2차 후보군 선정 모듈; 및상기 데이터베이스를 참조하여, 선정된 상기 2차 후보군에 포함된 결정 구조들 중 측정된 상기 면간 각도와 매칭되는 면간 각도를 가지는 면지수에 기초하여 상기 시료의 결정 구조를 결정하는 결정 모듈을 포함하는, 시료의 결정 구조 분석 장치
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제1항에 있어서,상기 측정 모듈은,상기 회절 패턴 이미지의 임의의 원점을 중심으로 제1 방향, 제2 방향 및 제3 방향 각각에 대하여, 각 방향에 존재하는 스팟들을 등간격으로 보정하는, 시료의 결정 구조 분석 장치
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제1항에 있어서,상기 1차 후보군 선정 모듈은,상기 성분 정보 외에 성분비에 대응되는 결정 구조를 상기 1차 후보군으로 선정하는, 시료의 결정 구조 분석 장치
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제1항에 있어서,상기 2차 후보군 선정 모듈은, 측정된 상기 면간 거리와 선정된 상기 1차 후보군에 포함된 결정 구조의 면간 거리간의 오차가 ±5% 이하일 때 매칭되는 것으로 판단하며,상기 결정 모듈은, 측정된 상기 면간 각도와 선정된 상기 2차 후보군에 포함된 결정 구조의 면간 각도 간의 오차가 ±5% 이하일 때 매칭되는 것으로 결정하는, 시료의 결정 구조 분석 장치
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제1항에 있어서,상기 결정 모듈은, 선정된 상기 2차 후보군에 포함된 결정 구조의 면지수 중 상기 면간 거리 연산에 이용된 면지수로부터 면간 각도를 연산하고,연산된 상기 면간 각도와 측정된 상기 면간 각도를 비교하여 측정된 상기 면간 각도에 매칭되는 면지수를 결정하고,상기 데이터베이스를 참조하여 결정된 상기 면지수를 가지는 결정 구조를 상기 시료의 결정 구조로 결정하는, 시료의 결정 구조 분석 장치
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제1항에 있어서,측정된 상기 면간 거리는, 상기 회절 패턴 이미지내의 임의의 원점으로부터 첫번째로 가까운 스팟까지의 제1 방향의 벡터에 포함된 2개의 스팟 사이의 제1 면간 거리, 상기 회절 패턴 이미지내의 임의의 원점으로부터 두번째로 가까운 스팟까지의 제2 방향의 벡터에 포함된 2개의 스팟 사이의 제2 면간 거리 및 제1 방향의 벡터 및 제2 방향의 벡터의 합인 제3 방향의 벡터에 포함된 2개의 스팟 사이의 제3 면간 거리를 포함하며,측정된 상기 면간 각도는, 상기 제1 방향의 벡터와 상기 제2 방향의 벡터 사이의 제1 면간 각도 및 상기 제2 방향의 벡터 및 상기 제3 방향의 벡터 사이의 제2 면간 각도를 포함하는, 시료의 결정 구조 분석 장치
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제1항에 있어서,상기 데이터베이스에는,성분 정보 및 성분비에 따른 다양한 결정 구조들, 결정 구조별로 격자 상수, 면지수들 및 면지수별 면간 거리를 포함하는 결정 구조 정보가 저장된, 시료의 결정 구조 분석 장치
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측정 모듈에서, 시료의 회절 패턴(Diffraction Pattern, DP) 이미지로부터 면간 거리 및 면간 각도를 측정하는 제1 단계와,1차 후보군 선정 모듈에서, 시료의 성분 정보가 입력되면, 데이터베이스를 참조하여 상기 시료의 성분 정보에 대응하는 결정 구조들을 가지는 1차 후보군을 선정하는 제2 단계와,2차 후보군 선정 모듈에서, 상기 데이터베이스를 참조하여, 선정된 상기 1차 후보군에 포함된 결정 구조들 중 측정된 상기 면간 거리와 매칭되는 면간 거리를 가지는 결정 구조들을 2차 후보군으로 선정하는 제3 단계와,결정 모듈에서, 상기 데이터베이스를 참조하여, 선정된 상기 2차 후보군에 포함된 결정 구조들 중 측정된 상기 면간 각도와 매칭되는 면간 각도를 가지는 면지수에 기초하여 상기 시료의 결정 구조를 결정하는 제4 단계를 포함하는, 시료의 결정 구조 분석 방법
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제8항의 방법을 컴퓨터상에서 실행하기 위한 프로그램을 기록한, 컴퓨터로 독출 가능한 기록 매체
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