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라인 이미지 센서의 제1 방향을 따라 일렬로 배열되는 복수의 수광 셀 중에서 적어도 하나의 수광 셀 상에 배치되도록 구성되는 테스트 인터페이스 장치로서,상기 적어도 하나의 수광 셀을 향하는 제1 면, 및 광을 방출하는 광원을 향하고 상기 제1 면의 반대면인 제2 면을 갖는 하우징;상기 하우징의 제2 면으로 입사된 광을 상기 제1 면으로 투과시키고, 상기 적어도 하나의 수광 셀로부터 반사되어 상기 제1 면으로 입사된 반사광을 제3 면으로 반사시키는 빔 분리기(Beam Splitter); 및상기 하우징의 상기 제3 면에 상기 제1 방향을 따라 배열되는 복수의 모니터링 센서;를 포함하는, 라인 이미지 센서의 테스트 인터페이스 장치
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제1항에 있어서,상기 제3 면은 상기 제1 면 및 상기 제2 면에 수직한, 라인 이미지 센서의 테스트 인터페이스 장치
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제2항에 있어서,상기 빔 분리기는 상기 제1 면과 상기 제3 면에 대하여 90도 이하의 경사각을 갖는, 라인 이미지 센서의 테스트 인터페이스 장치
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제1항에 있어서,상기 복수의 모니터링 센서는 상기 제1 방향을 따라 균등하게 이격 되어 배열되는, 라인 이미지 센서의 테스트 인터페이스 장치
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제1항에 있어서,상기 수광 셀은 전하 결합 소자(Charge Coupled Device; CCD)이고, 상기 모니터링 센서는 포토다이오드인, 라인 이미지 센서의 테스트 인터페이스 장치
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6
제1항에 있어서,상기 복수의 수광 셀 각각에 대하여 소정 개수의 상기 모니터링 센서가 균등하게 배열되고, 상기 소정 개수는 10 이상 100 이하에서 미리 설정되는, 라인 이미지 센서의 테스트 인터페이스 장치
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제1항 내지 제6항 중 어느 한 항의 라인 이미지 센서의 테스트 인터페이스 장치를 준비하는 단계;상기 라인 이미지 센서에 대하여 수직인 제2 방향에 배치된 광원을 이용하여 상기 라인 이미지 센서를 향하여 광을 조사하는 단계; 상기 라인 이미지 센서 및 상기 광원 사이에서 차단막을 상기 제2 방향에 수직한 제1 방향으로 이동하는 단계;상기 라인 이미지 센서의 복수의 수광 셀 중 제1 수광 셀로부터 광량 신호를 수신하고, 상기 테스트 인터페이스 장치의 복수의 모니터링 센서들로부터 모니터링 신호들을 각각 수신하는 단계; 및상기 광량 신호 및 상기 모니터링 신호들을 이용하여 상기 제1 수광 셀의 성능을 평가하는 단계;를 포함하는, 라인 이미지 센서의 테스트 방법
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제7항에 있어서,상기 제1 수광 셀의 성능을 평가하는 단계는,상기 모니터링 신호들에 기초하여 상기 차단막의 에지가 상기 제1 수광 셀 상에서 상기 제1 방향으로 이동한 거리를 감지하는 단계; 상기 광량 신호를 기초로 상기 제1 수광 셀이 감지한 광량을 산출하는 단계; 및상기 차단막의 이동 거리 및 상기 광량을 이용하여 상기 제1 수광 셀의 차광 비율에 대한 광량의 데이터를 산출하는 단계;를 포함하는, 라인 이미지 센서의 테스트 방법
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제8항에 있어서,상기 모니터링 신호들에 기초하여 상기 차단막이 상기 제1 방향으로 이동한 거리를 감지하는 단계는,상기 복수의 모니터링 센서들 중 상기 제1 방향으로 상기 차단막과 겹치는 모니터링 센서의 개수에 기초하여 상기 차단막의 이동 거리를 산출하는 단계를 포함하는, 라인 이미지 센서의 테스트 방법
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10
제7항에 있어서,상기 제1 수광 셀의 성능을 평가하는 단계는,상기 모니터링 신호들에 기초하여 상기 제1 수광 셀의 전체 면적에 대한 상기 광원으로부터 방출된 상기 광이 입사되는 면적의 수광 비율을 계산하는 단계; 상기 광량 신호를 기초로 상기 제1 수광 셀이 감지한 광량을 산출하는 단계; 및상기 제1 수광 셀의 수광 비율에 대한 광량의 데이터를 산출하는 단계;를 포함하는, 라인 이미지 센서의 테스트 방법
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컴퓨터를 이용하여 제7항 내지 제10항 중 어느 한 항의 방법을 실행하기 위하여 매체에 저장된 컴퓨터 프로그램
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