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레이저 빔을 방사하는 광원부;상기 광원부에서 방사한 상기 레이저 빔을 수신할 수 있도록 회전 가능한 김발부;상기 레이저 빔을 수신 가능한 방향을 향하도록, 상기 김발부의 움직임을 제어하는 김발 제어부;상기 김발 제어부에 의하여 제어된 상기 김발부를 향하여 분석용 빔을 방사하는 제어 기능 분석용 광원부; 및상기 분석용 빔을 촬영하여 상기 김발부의 각도 제어 기능을 분석하는 제어 기능 분석부를 포함하는 김발 시험 장치
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제 1 항에 있어서,상기 광원부는,비콘 빔을 모사한 레이저 빔을 방사하는 비콘 레이저를 포함하는 김발 시험 장치
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제 2 항에 있어서,상기 김발 제어부는,상기 비콘 레이저에서 방사되어 상기 김발부를 통하여 수신된 레이저 빔의 영상을 촬영하는 카메라에서 수집된 상기 레이저 빔의 위치를 분석하여, 상기 레이저 빔이 상기 카메라의 영상의 중심에 위치하도록 추적하여 상기 김발부의 각도를 제어하는 것을 특징으로 하는 김발 시험 장치
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제 2 항에 있어서,상기 광원부는,상기 레이저 빔을 상기 김발부로 평행하게 송광하는 시준기; 및상기 레이저 빔이 한쪽 방향으로만 진행되도록 유도함으로써, 상기 레이저 빔이 상기 비콘 레이저로 유입되는 것을 방지하기 위한 광 아이솔레이터를 더 포함하는 김발 시험 장치
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제 2 항에 있어서,상기 광원부는,통신 빔을 모사한 레이저 빔을 방사하는 통신 레이저를 더 포함하는 김발 시험 장치
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제 5 항에 있어서,상기 광원부는,상기 통신 레이저에서 방사된 레이저 빔과 상기 비콘 레이저에서 방사된 레이저 빔을 결합하는 빔 결합기를 더 포함하는 김발 시험 장치
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제 5 항에 있어서,상기 통신 레이저에서 방사된 레이저 빔의 위치를 추적하여 상기 김발부를 제어하는 보조 제어부를 더 포함하는 김발 시험 장치
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제 1 항에 있어서,상기 김발부는,김발부 본체; 상기 김발부를 통과하여 진행하는 레이저 빔의 방위각을 조정할 수 있도록 상기 김발부 본체가 지면에 수직한 축을 중심으로 회전할 수 있게 설계된 방위각 모터;상기 김발부를 통과하여 진행하는 레이저 빔의 고저각을 조정할 수 있는 고저각 거울; 및상기 고저각 거울이 지면에 평행한 축을 중심으로 회전할 수 있게 설계된 고저각 모터를 포함하는 김발 시험 장치
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제 8 항에 있어서,상기 김발부는,상기 김발부 본체에 연결되고, 상기 김발부 본체가 사용자에 의하여 입력된 초기 방위각 및 초기 고저각을 지향하도록 지지함으로써, 상기 김발부의 초기 조건을 조정할 수 있는 스테이지를 더 포함하는 김발 시험 장치
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제 1 항에 있어서,상기 제어 기능 분석부는,상기 김발부의 지향 각도를 분석하는 빔 프로파일러; 및상기 분석용 빔의 경로에 위치하여 상기 분석용 빔의 일부를 상기 빔 프로파일러로 송광하는 분석용 빔 분할기를 포함하는 김발 시험 장치
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제 2 항에 있어서,상기 김발 제어부는,상기 광원부로부터 출력되어 상기 김발부를 통하여 수신된 비콘 빔을 촬영하는 카메라;상기 비콘 빔의 경로에 위치하고, 상기 비콘 빔의 일부를 상기 카메라로 송광하는 비콘 빔 분할기; 및상기 카메라 상에서의 상기 비콘 빔의 위치를 분석하여 상기 김발부의 각도를 제어하는 김발 제어기를 포함하는 김발 시험 장치
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제 7 항에 있어서,상기 보조 제어부는,상기 통신 레이저에서 방사된 통신 빔의 경로 상에 위치하여 상기 통신 빔의 경로를 조정하는 고속 조정 거울;상기 통신 빔의 위치를 추출하는 위치 민감 검출기;상기 통신 빔의 경로 상에 위치하여 상기 통신 빔의 일부를 상기 위치 민감 검출기로 송광하는 통신 빔 분할기; 및상기 위치 민감 검출기 상에서 상기 통신 빔의 위치를 분석하여 상기 통신 빔을 상기 위치 민감 검출기 상의 영점 위치가 되도록 상기 고속 조정 거울을 제어하는 거울 제어기를 포함하는 김발 시험 장치
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제 12 항에 있어서,상기 보조 제어부는,상기 통신 빔의 진행 경로를 기준으로, 고속 조정 거울보다 상류에 위치하고, 상기 통신 빔의 크기를 조정하는 빔 조정기를 더 포함하는 김발 시험 장치
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광원부로부터 김발부를 향하여 비콘 빔을 방사하는 단계;김발 제어부에서 상기 비콘 빔을 영상으로 입력받아 상기 김발부를 제어하는 단계;제어 기능 분석용 광원부에서 분석용 빔을 방사하는 단계; 및제어 기능 분석부에서 제어된 상기 김발부를 통과한 상기 분석용 빔을 촬영하여 상기 김발 제어부의 김발 제어 기능을 확인하는 단계를 포함하는 김발 시험 방법
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광원부로부터 김발부를 향하여 비콘 빔 및 통신 빔을 방사하는 단계;김발 제어부에서 상기 김발부를 제어하는 단계;보조 제어부가 상기 통신 빔의 위치를 측정하여 고속조정거울을 제어하는 단계;제어 기능 분석용 광원부로부터 분석용 빔을 제어 기능 분석부를 향하여 방사하는 단계; 및상기 제어 기능 분석부에서 제어된 상기 김발부와 상기 고속조정거울을 통과한 상기 분석용 빔을 촬영하여 상기 김발 제어부의 김발 제어 기능과 상기 보조 제어부의 광학계 제어 기능을 확인하는 단계를 포함하고,상기 김발 제어부에서 상기 김발부를 제어하는 단계는,상기 광원부로부터 출력되어 상기 김발부를 통하여 수신된 상기 비콘 빔을 촬영하는 카메라에서 수집된 상기 비콘 빔의 위치를 분석하여, 상기 비콘 빔이 상기 카메라의 영상의 중심에 위치하도록 상기 김발부의 각도를 제어하는 것을 특징으로 하는 김발 시험 방법
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