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기설정된 크기의 전류를 생성하는 전류 생성부; 상기 생성된 전류를 통해 가열되고, 식물체의 유량(sap flow) 변화에 따른 열 손실에 기초하여 저항 값이 변화하는 감지 저항을 구비하는 저항 센싱부;복수의 초퍼(chopper), 복수의 비반전 증폭기 및 반전 증폭기를 포함하는 증폭 회로를 구비하고, 상기 생성된 전류 및 상기 변화된 저항 값에 대응되는 입력 전압을 수신하며, 상기 수신한 입력 전압에 대응되는 상기 증폭 회로의 동작을 통해 고주파 노이즈가 제거된 증폭 신호를 출력하는 계측 증폭부 및 상기 증폭 신호에 포함된 오프셋(offset) 신호에 대응되는 기준 전압을 생성하고, 상기 생성된 기준 전압을 상기 계측 증폭부의 입력으로 피드백(feed-back)하는 오프셋 제거부를 포함하고,상기 오프셋 제거부는, 상기 증폭 신호를 입력으로 수신하는 비교기(comparator); 상기 비교기의 출력에 대응되어 크기가 증가하는 기설정된 카운터 변수의 값이 기설정된 비트 값을 초과하면, 이진 검색 종료 신호를 생성하는 이진 검색 회로(binary search logic) 및 상기 이진 검색 종료 신호를 수신하면, 상기 이진 검색 종료 신호에 대응되는 크기의 기준 전압을 생성하는 디지털-아날로그 변환기(digital-to-analog converter, DAC)를 포함하며, 상기 기설정된 비트 값은 상기 디지털-아날로그 변환기의 해상도에 대응되는 비트 값인자동 오프셋 조절장치
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제1항에 있어서, 상기 계측 증폭부의 출력단과 연결되는 저역 통과 필터(low pass filter, LPF)를 더 포함하는 자동 오프셋 조절장치
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제1항에 있어서, 상기 계측 증폭부는, 상기 입력 전압 및 상기 기준 전압을 입력으로 수신하는 입력 초퍼(chopper);상기 입력 초퍼의 출력을 입력으로 수신하는 제1 비반전 증폭기와 제2 비반전 증폭기; 상기 제1 비반전 증폭기와 상기 제2 비반전 증폭기의 출력을 입력으로 수신하는 반전 증폭기 및 상기 반전 증폭기의 출력을 입력으로 수신하는 출력 초퍼를 포함하는 자동 오프셋 조절장치
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제1항에 있어서, 상기 이진 검색 회로는,상기 이진 검색 종료 신호가 생성될 때까지 상기 기준 전압의 크기가 조절되도록 상기 디지털-아날로그 변환기를 제어하는자동 오프셋 조절장치
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제1항에 있어서, 상기 계측 증폭부는, 상기 입력 전압 및 상기 이진 검색 종료 신호에 대응되는 크기의 기준 전압을 수신하여 오프셋이 제거된 증폭 신호를 출력하는 자동 오프셋 조절장치
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제1항에 있어서,상기 오프셋이 제거된 증폭 신호를 디지털 신호로 변환하는 아날로그-디지털 변환기(analog-to-digital converter, ADC)를 더 포함하는 자동 오프셋 조절장치
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제1항에 있어서, 상기 이진 검색 회로는, 복수의 D-플립플롭(DFF)들로 구성되는 D-플립플롭 어레이를 포함하는 자동 오프셋 조절장치
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기설정된 크기의 전류를 생성하는 전류 생성부; 상기 생성된 전류를 통해 가열되고, 식물체의 유량(sap flow) 변화에 따른 열 손실에 기초하여 저항 값이 변화하는 감지 저항을 구비하는 저항 센싱부; 상기 생성된 전류 및 상기 변화된 저항 값에 대응되는 입력 전압을 수신하여, 상기 입력 전압에 대응되는 증폭 신호를 출력하는 계측 증폭부 및상기 증폭 신호에 포함된 오프셋(offset) 신호에 대응되는 기준 전압을 생성하고, 상기 생성된 기준 전압을 상기 계측 증폭부의 입력으로 피드백(feed-back)하는 오프셋 제거부를 포함하는 자동 오프셋 조절장치
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제8항에 있어서, 상기 계측 증폭부의 출력단과 연결되는 저역 통과 필터(low pass filter, LPF)를 더 포함하는 자동 오프셋 조절장치
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제8항에 있어서, 상기 계측 증폭부는, 상기 입력 전압 및 상기 기준 전압을 입력으로 수신하는 입력 초퍼(chopper);상기 입력 초퍼의 출력을 입력으로 수신하는 제1 비반전 증폭기와 제2 비반전 증폭기; 상기 제1 비반전 증폭기와 상기 제2 비반전 증폭기의 출력을 입력으로 수신하는 반전 증폭기 및 상기 반전 증폭기의 출력을 입력으로 수신하는 출력 초퍼를 포함하는 자동 오프셋 조절장치
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제8항에 있어서, 상기 오프셋 제거부는, 상기 증폭 신호를 입력으로 수신하는 비교기(comparator); 상기 비교기의 출력을 입력으로 수신하는 이진 검색 회로(binary search logic) 및 상기 이진 검색 회로의 출력을 입력으로 수신하고, 상기 수신한 이진 검색 회로의 출력에 대응하여 상기 기준 전압의 크기를 조절하는 디지털-아날로그 변환기(digital-to-analog converter, DAC)를 포함하는 자동 오프셋 조절장치
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제11항에 있어서, 상기 이진 검색 회로는,상기 디지털-아날로그 변환기에서 기설정된 횟수만큼 반복하여 상기 기준 전압의 크기가 조절되도록 제어하는자동 오프셋 조절장치
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제11항에 있어서, 상기 이진 검색 회로는,상기 비교기의 출력에 대응되어 크기가 증가하는 기설정된 카운터 변수의 값이 상기 디지털-아날로그 변환기의 해상도에 대응되는 비트 값을 초과하면, 이진 검색 종료 신호를 생성하는 자동 오프셋 조절장치
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제13항에 있어서, 상기 디지털-아날로그 변환기는, 상기 생성된 이진 검색 종료 신호를 수신하면, 상기 이진 검색 종료 신호에 대응되는 일정한 크기의 기준 전압을 출력하는 자동 오프셋 조절장치
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제14항에 있어서, 상기 계측 증폭부는, 상기 입력 전압 및 상기 일정한 크기의 기준 전압을 수신하여 오프셋이 제거된 증폭 신호를 출력하는 자동 오프셋 조절장치
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제15항에 있어서, 상기 오프셋이 제거된 증폭 신호를 디지털 신호로 변환하는 아날로그-디지털 변환기(analog-to-digital converter, ADC)를 더 포함하는 자동 오프셋 조절장치
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제11항에 있어서, 상기 이진 검색 회로는, 복수의 D-플립플롭(DFF)들로 구성되는 D-플립플롭 어레이를 포함하는 자동 오프셋 조절장치
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전류 생성부에서, 기설정된 크기의 전류를 생성하여, 상기 생성된 전류를 통해 저항 센싱부에 구비된 감지 저항이 가열되고, 식물체의 유량(sap flow) 변화에 따른 열 손실에 기초하여 상기 가열된 감지 저항의 저항 값이 변화하는 단계;계측 증폭부에서, 상기 생성된 전류 및 상기 변화된 저항 값에 대응되는 입력 전압을 수신하여, 상기 입력 전압에 대응되는 증폭 신호를 출력하는 단계 및오프셋 제거부에서, 상기 증폭 신호에 포함된 오프셋(offset) 신호에 대응되는 기준 전압을 생성하고, 상기 생성된 기준 전압을 상기 계측 증폭부의 입력으로 피드백(feed-back)하는 단계를 포함하는 자동 오프셋 조절방법
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제18항에서, 상기 피드백 하는 단계는, 비교기(comparator)에서, 상기 증폭 신호를 입력으로 수신하는 단계; 이진 검색 회로(binary search logic)에서, 상기 비교기의 출력을 입력으로 수신하는 단계 및 디지털-아날로그 변환기(digital-to-analog converter, DAC)에서, 상기 이진 검색 회로의 출력을 입력으로 수신하고, 상기 수신한 이진 검색 회로의 출력에 대응하여 상기 기준 전압의 크기를 조절하는 단계를 더 포함하는 자동 오프셋 조절방법
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제19항에서, 상기 비교기의 출력을 입력으로 수신하는 단계는, 상기 비교기의 출력에 대응되어 크기가 증가하는 기설정된 카운터 변수의 값이 상기 디지털-아날로그 변환기의 해상도에 대응되는 비트 값을 초과하면, 이진 검색 종료 신호를 생성하고, 상기 기준 전압의 크기를 조절하는 단계는, 상기 생성된 이진 검색 종료 신호를 수신하면, 상기 이진 검색 종료 신호에 대응되는 일정한 크기의 기준 전압을 출력하는자동 오프셋 조절방법
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