맞춤기술찾기

홈으로 가기
맞춤기술찾기
이전대상기술
프린트하기

이전대상기술

연계형 현미경의 동일 위치 추적을 위한 시스템 및 그의 동작 방법

  • 기술번호 : KST2021006705
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
상담신청 PDF 받기
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 다양한 실시예들에 따른 초고해상도 연계형 현미경 시스템 및 그의 동작 방법은, 제 1 현미경 모듈을 통해, 네 개의 정점들을 포함하는 사각의 평면을 갖는 육면체로 제조되고, 정점들 중 어느 하나에 인접하여 모따기된 플레이트로부터 정점들 중 나머지에 대해 제 1 정점 좌표들을 검출하고, 제 2 현미경 모듈을 통해, 플레이트로부터 정점들 중 나머지에 대해 제 2 정점 좌표들을 검출하고, 제 1 정점 좌표들과 제 2 정점 좌표들을 기반으로, 플레이트 상에서 제 2 현미경 모듈을 통해 촬영하기 위한 적어도 하나의 대상 좌표를 검출하도록 구성될 수 있다.
Int. CL G02B 21/36 (2006.01.01) G02B 21/34 (2006.01.01) G06T 7/70 (2017.01.01) G06T 7/246 (2017.01.01)
CPC G02B 21/367(2013.01) G02B 21/34(2013.01) G06T 7/70(2013.01) G06T 7/246(2013.01) G06T 2207/10061(2013.01)
출원번호/일자 1020190147440 (2019.11.18)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2021-0059973 (2021.05.26) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.11.18)
심사청구항수 15

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 김두리 서울특별시 성동구
2 김근호 서울특별시 성동구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 양성보 대한민국 서울특별시 강남구 선릉로***길 ** (논현동) 삼성빌딩 *층(피앤티특허법률사무소)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2019.11.18 수리 (Accepted) 1-1-2019-1178918-54
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2020.07.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2020.09.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2020-0170891-38
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2020.11.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0817905-64
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
 2021.01.07 수리 (Accepted) 1-1-2021-0017906-55
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2021.01.07 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2021-0017907-01
7 등록결정서
Decision to grant		 2021.04.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2021-0340403-36
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제 1 현미경 모듈과 제 2 현미경 모듈을 갖는 연계형 현미경 시스템의 동작 방법에 있어서, 상기 제 1 현미경 모듈을 통해, 네 개의 정점들을 포함하는 사각의 평면을 갖는 육면체로 제조되고, 상기 정점들 중 어느 하나에 인접하여 모따기된 플레이트로부터 상기 정점들 중 나머지에 대해 제 1 정점 좌표들을 검출하는 동작;상기 제 2 현미경 모듈을 통해, 상기 플레이트로부터 상기 정점들 중 나머지에 대해 제 2 정점 좌표들을 검출하는 동작; 및상기 제 1 정점 좌표들과 상기 제 2 정점 좌표들을 기반으로, 상기 플레이트 상에서 상기 제 2 현미경 모듈을 통해 촬영하기 위한 적어도 하나의 대상 좌표를 검출하는 동작을 포함하는 방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 제 1 현미경 모듈을 통해, 상기 제 1 정점 좌표들을 기반으로 상기 평면 내측의 샘플과 관련된 적어도 하나의 기준 좌표를 검출하는 동작을 더 포함하는 방법
3 3
제 2 항에 있어서, 상기 대상 좌표 검출 동작은,상기 제 1 정점 좌표들과 상기 제 2 정점 좌표들을 기반으로 선형 좌표 변환을 수행하여, 상기 기준 좌표로부터 상기 대상 좌표를 검출하는 동작을 포함하는 방법
4 4
제 2 항에 있어서, 상기 기준 좌표 검출 동작은, 상기 제 1 현미경 모듈을 통해, 상기 샘플을 촬영하면서, 상기 기준 좌표를 검출하는 동작을 포함하는 방법
5 5
제 2 항에 있어서, 상기 제 2 현미경 모듈을 통해, 상기 플레이트 상에서 상기 대상 좌표로부터 상기 샘플을 촬영하는 동작을 더 포함하는 방법
6 6
제 1 항에 있어서, 상기 대상 좌표 검출 동작은, 상기 제 1 정점 좌표들로부터 검출되는 두 개의 제 1 모서리 벡터들과 상기 제 2 정점 좌표들로부터 검출되는 두 개의 제 2 모서리 벡터들을 이용하여, 상기 선형 좌표 변환을 수행하는 동작을 포함하는 방법
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 제 1 현미경 모듈은 광학 현미경이고, 상기 제 2 현미경 모듈은 전자 현미경인 방법
8 8
제 1 항에 있어서,상기 플레이트는 슬라이드 글라스 또는 커버 글라스 중 적어도 어느 하나를 포함하는 방법
9 9
연계형 현미경 시스템에 있어서, 네 개의 정점들을 포함하는 사각의 평면을 갖는 육면체로 제조되고, 상기 정점들 중 어느 하나에 인접하여 모따기된 플레이트 내측의 샘플을 각각 촬영하도록 구성되는 제 1 현미경 모듈과 제 2 현미경 모듈; 및상기 제 1 현미경 모듈과 상기 제 2 현미경 모듈이 상기 플레이트 내측에서 동일한 위치를 촬영하도록 상기 위치를 검출하도록 구성되는 프로세서를 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 제 1 현미경 모듈을 통해, 상기 플레이트로부터 상기 정점들 중 나머지에 대해 제 1 정점 좌표들을 검출하고, 상기 제 2 현미경 모듈을 통해, 상기 플레이트로부터 상기 정점들 중 나머지에 대해 제 2 정점 좌표들을 검출하고, 상기 제 1 정점 좌표들과 상기 제 2 정점 좌표들을 기반으로, 상기 플레이트 상에서 상기 제 2 현미경 모듈을 통해 촬영하기 위한 적어도 하나의 대상 좌표를 검출하도록 구성되는 시스템
10 10
제 9 항에 있어서, 상기 프로세서는, 상기 제 1 현미경 모듈을 통해, 상기 샘플을 촬영하면서, 상기 제 1 정점 좌표들을 기반으로 상기 평면 내측의 샘플과 관련된 적어도 하나의 기준 좌표를 검출하도록 구성되는 시스템
11 11
제 10 항에 있어서, 상기 프로세서는, 상기 제 1 정점 좌표들과 상기 제 2 정점 좌표들을 기반으로 선형 좌표 변환을 수행하여, 상기 기준 좌표로부터 상기 대상 좌표를 검출하도록 구성되는 시스템
12 12
제 10 항에 있어서, 상기 프로세서는,상기 제 2 현미경 모듈을 통해, 상기 플레이트 상에서 상기 대상 좌표로부터 상기 샘플을 촬영하도록 구성되는 시스템
13 13
제 9 항에 있어서, 상기 프로세서는,상기 제 1 정점 좌표들로부터 검출되는 두 개의 제 1 모서리 벡터들과 상기 제 2 정점 좌표들로부터 검출되는 두 개의 제 2 모서리 벡터들을 이용하여, 상기 선형 좌표 변환을 수행하도록 구성되는 시스템
14 14
제 9 항에 있어서, 상기 제 1 현미경 모듈은 광학 현미경이고, 상기 제 2 현미경 모듈은 전자 현미경인 시스템
15 15
제 9 항에 있어서, 상기 플레이트는 슬라이드 글라스 또는 커버 글라스 중 적어도 어느 하나를 포함하는 시스템
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술정보통신부 한양대학교 산학협력단 바이오.의료기술개발(R＆D) 새로운 유세포 혈구분석 데이터 기반의 멀티레벨 질환진단모델 개발연구
2 과학기술정보통신부 한양대학교 산학협력단 개인기초연구(과기정통부)(R＆D) 멀티센싱 초고해상도 현미경 기술 개발과 이를 이용한 단분자 화학 특성 영상화