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광학적으로 연결된 복수개의 광원을 포함하며, 세기(amplitude) 변조가 일정 수준 이내로 억제되는 광신호를 출력하는 광원부;상기 광원부 측과 광학적으로 연결되고, 상기 광원부에서 출력된 광신호를 변조하여 광학적으로 연결된 시험광섬유 측으로 전달하는 광변조부;상기 시험광섬유와 광학적으로 연결되고, 상기 시험광섬유로부터 브릴루앙 산란에 의한 광신호를 검출하는 광검출부;를 포함하는 것을 특징으로 하되,상기 광원부는, 사인파 형태의 전류 변조를 인가하는 신호발생기를 포함하여 구성되고, 상기 광변조부는, 상기 광원부측에서 출력된 광신호를 전달받아서 프로브광과 펌프광으로 나누어 분배하는 광분배기와,상기 광분배기와 광학적으로 연결되고, 상기 광분배기로부터 상기 프로브광을 전달받아서 측대역신호를 포함하는 광신호로 변조하는 단일측파변조기와,상기 단일측파변조기와 광학적으로 연결되고, 상기 단일측파변조기에서 전달되는 상기 프로브광을 전달받아서 편광시키는 편광스위치와,상기 편광스위치와 광학적으로 연결되고, 상기 펌프광이 상기 시험광섬유에서 상기 단일측파변조기 측으로 진행되는 것을 억제하는 광고립기와,상기 편광스위치에서 편광된 프로브광신호를 상기 광고립기를 통해 시험광섬유에 광학적으로 연결시키는 지연광섬유를 포함하며,상기 광원부에 포함되는 상기 복수개의 광원은 제1광원 및 제2광원이고, 상기 제1광원은 세기와 주파수가 변조된 제1광신호를 출력하고,상기 제2광원은 상기 제1광원에서 출력된 상기 제1광신호를 주입받아서 상기 세기 변조가 일정 수준 이내로 억제되는 광신호인 제2광신호를 출력하며,상기 제2광원에서 출력되는 제2광신호의 주파수는 상기 제1광원에서 출력된 제1광신호의 주파수에 따르며, 상기 제2광원에서 출력되는 상기 제2광신호의 세기 변조가 억제되는 수준은 1dB 이내인 것을 특징으로하고, 상기 광변조부는, 상기 광분배기와 광학적으로 연결되고, 상기 광분배기로부터 상기 펌프광을 전달받아서 변조하는 위상변조기; 및 상기 위상변조기와 광학적으로 연결되고, 상기 위상변조기로부터 전달되는 상기 펌프광을 증폭하는 광증폭기를 더 포함하고, 상기 위상변조기에 의해 변조된 광신호는 입출력 전후의 주파수가 동일하되, 상기 펌프광의 주파수는 상기 제2광신호의 주파수인 것을 특징으로 하는, 브릴루앙 광 상관영역 분석시스템
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제 1항에 있어서,상기 제2광원에서 출력되는 제2광신호의 변조 주파수에 따른 세기-주파수 위상 지연은 160도(degree) 내지 200도 사이의 범위 내에서 일정 수준으로 유지되는 것을 특징으로 하는, 브릴루앙 광 상관영역 분석시스템
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제 2항에 있어서,상기 제1광원은 마스터 레이저다이오드이고, 상기 제2광원은 슬레이브 레이저다이오드이되, 내부 광고립기(internal isolator)가 제외된 레이저다이오드인 것을 특징으로 하는, 브릴루앙 광 상관영역 분석시스템
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제 3항에 있어서, 상기 신호발생기는, 상기 마스터 레이저다이오드에 사인파 형태의 전류 변조를 인가하고,상기 광원부는,상기 마스터 레이저다이오드 및 상기 슬레이브 레이저다이오드와 광학적으로 연결된 제1광순환기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는, 브릴루앙 광 상관영역 분석시스템
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제 1항에 있어서, 상기 광검출부는,상기 시험광섬유와 광학적으로 연결되고, 상기 시험광섬유에서 발생된 브릴루앙 산란광을 분기하는 제2광순환기;상기 제2광순환기에서 분기된 상기 브릴루앙 산란광을 수신하고 전기적 신호로 변환하는 광검출기; 상기 광검출기와 전기적으로 연결되고, 상기 광검출기에서 변환된 전기신호를 수신하여 소정의 위상잠금신호에 따라 단속적으로 검출하는 락인증폭기;를 포함하는 것을 특징으로 하는,브릴루앙 광 상관영역 분석시스템
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제 5항에 있어서,상기 광검출부는, 상기 락인증폭기로부터 수신된 전기신호를 브릴루앙 이득 스펙트럼의 형태로 변환하는 데이터수집기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는,브릴루앙 광 상관영역 분석시스템
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복수개의 광원을 포함하는 광원부로부터 세기 변조가 일정 수준 이내로 억제된 광신호가 출력되는 출력단계;상기 출력단계에서 출력된 상기 광신호를 광변조부가 전달받아서 변조하고 시험광섬유측으로 전달하는 변조단계; 및상기 변조단계에서 전달된 광신호가 상기 시험광섬유에서 발생되는 브릴루앙 광 산란을 검출하는 검출단계를 포함하는 것을 특징으로 하되,상기 출력단계에서, 상기 광원부는, 사인파 형태의 전류 변조를 인가하는 신호발생기를 포함하여 구성되고, 상기 변조단계에서, 상기 광변조부는, 상기 광원부측에서 출력된 광신호를 전달받아서 프로브광과 펌프광으로 나누어 분배하는 광분배기와,상기 광분배기와 광학적으로 연결되고, 상기 광분배기로부터 상기 프로브광을 전달받아서 측대역신호를 포함하는 광신호로 변조하는 단일측파변조기와,상기 단일측파변조기와 광학적으로 연결되고, 상기 단일측파변조기에서 전달되는 상기 프로브광을 전달받아서 편광시키는 편광스위치와,상기 편광스위치와 광학적으로 연결되고, 상기 펌프광이 상기 시험광섬유에서 상기 단일측파변조기 측으로 진행되는 것을 억제하는 광고립기와,상기 편광스위치에서 편광된 프로브광신호를 상기 광고립기를 통해 시험광섬유에 광학적으로 연결시키는 지연광섬유를 포함하며,상기 출력단계에서,상기 세기 변조가 일정 수준 이내로 억제되어 출력되는 광신호는 제2광신호이고, 상기 출력단계는, 상기 광원부의 상기 복수개의 광원에 포함되는 마스터 레이저다이오드로부터 세기와 주파수가 변조된 제1광신호가 출력되는 제1광신호출력단계; 및상기 제1광신호출력단계에서 출력된 상기 제1광신호가 상기 광원부의 상기 복수개의 광원에 포함되는 슬레이브 레이저다이오드로 주입되고, 상기 슬레이브 레이저다이오드로부터 세기 변조가 1dB 이내의 수준으로 억제되는 상기 제2광신호가 출력되는 제2광신호출력단계를 포함하고, 상기 슬레이브 레이저다이오드에서 출력되는 상기 제2광신호의 주파수는 상기 마스터 레이저다이오드에서 출력된 제1광신호의 주파수에 따르며, 상기 광변조부는, 상기 광분배기와 광학적으로 연결되고, 상기 광분배기로부터 상기 펌프광을 전달받아서 변조하는 위상변조기; 및 상기 위상변조기와 광학적으로 연결되고, 상기 위상변조기로부터 전달되는 상기 펌프광을 증폭하는 광증폭기를 더 포함하고, 상기 위상변조기에 의해 변조된 광신호는 입출력 전후의 주파수가 동일하되, 상기 펌프광의 주파수는 상기 제2광신호의 주파수인 것을 특징으로 하는,브릴루앙 광 상관영역 분석시스템을 이용한 분석방법
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