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비아 형성 방법, 이를 기반으로 하는 반도체 장치의 제조 방법 및 반도체 장치

  • 기술번호 : KST2021007994
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 비아 형성 방법, 이를 기반으로 하는 반도체 장치의 제조 방법 및 반도체 장치에 관한 것으로, 비아 형성 방법은, 적어도 하나의 소자가 형성된 기판에 중간층이 형성되는 단계 및 상기 중간층의 일 면에 대해 요구 회전 속도로 미리 정의된 기간 동안 평탄화를 수행하여 상기 적어도 하나의 소자에 대응하는 적어도 하나의 부분을 상기 중간층으로부터 이탈시킴으로써, 상기 적어도 하나의 소자에 대응하는 적어도 하나의 비아를 상기 중간층에 형성하는 단계를 포함할 수 있다.
Int. CL H01L 21/768 (2006.01.01)
CPC H01L 21/76877(2013.01) H01L 21/76805(2013.01) H01L 21/7684(2013.01)
출원번호/일자 1020190160371 (2019.12.05)
출원인 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2021-0070533 (2021.06.15) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.12.05)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유현용 서울특별시 서초구
2 진동규 인천광역시 미추홀구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김홍석 대한민국 서울시 구로구 디지털로**길 **, ***호(구로동, 코오롱싸이언스밸리*차)(동진국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.12.05 수리 (Accepted) 1-1-2019-1256798-79
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.11.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0835613-59
3 [지정기간연장]기간 연장신청서·기간 단축신청서·기간 경과 구제신청서·절차 계속신청서
2021.02.01 수리 (Accepted) 1-1-2021-0130834-39
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2021.02.02 수리 (Accepted) 1-1-2021-0134489-73
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2021.02.02 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2021-0134508-53
6 [출원서 등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2021.03.02 수리 (Accepted) 1-1-2021-0243646-79
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
적어도 하나의 소자가 형성된 기판에 중간층이 형성되는 단계;상기 중간층의 일 면에 대해 요구 회전 속도로 미리 정의된 기간 동안 평탄화를 수행하여 상기 적어도 하나의 소자에 대응하는 적어도 하나의 부분을 상기 중간층으로부터 이탈시킴으로써, 상기 적어도 하나의 소자에 대응하는 적어도 하나의 비아를 상기 중간층에 형성하는 단계;를 포함하는 비아 형성 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 요구 회전 속도는, 적어도 90 이상의 분당 회전수를 포함하는 비아 형성 방법
3 3
제1항에 있어서,상기 미리 정의된 기간은, 적어도 25초의 기간을 포함하는 비아 형성 방법
4 4
제1항에 있어서,상기 평탄화는 상기 중간층의 일 면에 대해 회전력 및 마찰력을 인가 가능한 평탄화부에 의해 수행되되, 상기 평탄화부의 회전 속도는 상기 요구 회전 속도까지 단 기간 동안 급격히 가속되는 비아 형성 방법
5 5
제1항에 있어서,상기 중간층은 이산화규소를 이용하여 제조된 것인 비아 형성 방법
6 6
제1항에 있어서,상기 적어도 하나의 소자는, 금속 소재로 이루어진 적어도 하나의 접촉 금속 소자를 포함하는 비아 형성 방법
7 7
제6항에 있어서,상기 금속 소재는, 구리, 텅스텐, 금, 은 및 백금 중 적어도 하나를 포함하는 비아 형성 방법
8 8
적어도 하나의 소자가 형성된 하부 기판에 중간층이 형성되는 단계;상기 중간층의 일 면에 대해 요구 회전 속도로 미리 정의된 기간 동안 평탄화를 수행하여 상기 적어도 하나의 소자에 대응하는 적어도 하나의 부분을 상기 중간층으로부터 이탈시킴으로써, 상기 적어도 하나의 소자에 대응하는 적어도 하나의 비아를 상기 중간층에 형성하는 단계; 및상기 적어도 하나의 비아가 형성된 중간층의 일 면에 상부 기판이 형성되는 단계;를 포함하는 반도체 장치의 제조 방법
9 9
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항의 방법을 이용하여 제조된 반도체 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
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