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기판 처리 장치, 물질막 증착 장치, 및 상압 화학 기상 증착 장치

  • 기술번호 : KST2021009869
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 반응 기체가 공급되는 입구 및 잔여 기체가 배출되는 출구를 갖는 반응 챔버; 상기 입구의 전단에 배치되고 상기 입구로 공급되는 반응 기체를 이온화시키도록 구성된 복수의 이오나이저들; 및 상기 반응 챔버를 가열하도록 구성된 히터를 포함하고, 상기 복수의 이오나이저들은: 상기 반응 기체를 양성으로 이온화시키도록 구성된 제 1 이오나이저; 및 상기 반응 기체를 음성으로 이온화시키도록 구성된 제 2 이오나이저를 포함하는 기판 처리 장치가 제공된다.
Int. CL C23C 16/503 (2006.01.01) C23C 16/453 (2006.01.01) C23C 16/24 (2006.01.01)
CPC C23C 16/503(2013.01) C23C 16/453(2013.01) C23C 16/24(2013.01)
출원번호/일자 1020200007960 (2020.01.21)
출원인 삼성전자주식회사, 서울대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2021-0094694 (2021.07.30) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김웅식 서울특별시 관악구
2 황농문 서울특별시 관악구
3 이윤정 서울특별시 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2020.01.21 수리 (Accepted) 1-1-2020-0070341-12
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2020-5265458-48
3 특허고객번호 정보변경(경정)신고서·정정신고서
2021.07.29 수리 (Accepted) 4-1-2021-5205564-29
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
반응 기체가 공급되는 입구 및 잔여 기체가 배출되는 출구를 갖는 반응 챔버;상기 입구의 전단에 배치되고 상기 입구로 공급되는 반응 기체를 이온화시키도록 구성된 복수의 이오나이저들; 및상기 반응 챔버를 가열하도록 구성된 히터;를 포함하고,상기 복수의 이오나이저들은:상기 반응 기체를 양성으로 이온화시키도록 구성된 제 1 이오나이저; 및상기 반응 기체를 음성으로 이온화시키도록 구성된 제 2 이오나이저;를 포함하는 기판 처리 장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 제 1 이오나이저 및 상기 제 2 이오나이저는 상기 반응 챔버의 입구에 병렬적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치
3 3
제 1 항에 있어서,상기 제 1 이오나이저 및 상기 제 2 이오나이저는 각각 입구부, 방전부, 및 출구부를 포함하고,상기 반응 기체의 흐름 방향에 있어서, 상기 출구부의 연장 길이는 상기 입구부의 연장 길이보다 더 큰 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치
4 4
제 3 항에 있어서,상기 출구부의 내경은 상기 방전부로부터 멀어질수록 감소하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치
5 5
제 3 항에 있어서,상기 방전부는 전극 지지부 및 상기 전극 지지부를 관통하여 상기 제 1 이오나이저 및 상기 제 2 이오나이저의 내부 공간으로 연장되는 방전 전극을 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치
6 6
제 1 항에 있어서,상기 제 1 이오나이저와 상기 제 2 이오나이저가 각각 복수로 제공된 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치
7 7
제 6 항에 있어서,복수의 상기 제 1 이오나이저들 및 복수의 상기 제 2 이오나이저들이 각각 상기 반응 챔버의 입구에 병렬적으로 연결된 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치
8 8
증착 기체가 공급되는 입구 및 잔여 기체가 배출되는 출구를 갖고, 물질막을 형성하고자 하는 기판을 수용할 수 있는 증착 챔버;상기 입구의 전단에 배치되고 상기 입구로 공급되는 증착 기체를 양성으로 이온화시키도록 구성된 제 1 이오나이저;상기 입구의 전단에 배치되고 상기 입구로 공급되는 증착 기체를 음성으로 이온화시키도록 구성된 제 2 이오나이저;상기 제 1 이오나이저에 양의 직류 전원을 공급하도록 구성된 제 1 파워 장치; 및상기 제 2 이오나이저에 음의 직류 전원을 공급하도록 구성된 제 2 파워 장치;를 포함하는 물질막 증착 장치
9 9
제 8 항에 있어서,상기 물질막을 형성할 때 상기 증착 챔버의 내부의 압력은 약 0
10 10
증착 기체가 공급되는 입구 및 잔여 기체가 배출되는 출구를 갖고, 내부 압력이 약 0
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.