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MFI 씨앗층이 형성된 지지체 위에 유기구조유도체를 포함하는 이차 성장용액을 첨가하고 수열합성시켜 MFI 제올라이트 분리막을 제조하는 단계; 및상기 MFI 제올라이트 분리막을 100~300℃의 온도 및 오존 분위기하에서 소성시켜 상기 유기구조유도체를 제거하는 단계를 포함하는 MFI 제올라이트 분리막의 결함의 수와 크기를 감소시키는 MFI 제올라이트 분리막의 결함구조 조절방법
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제1항에 있어서, 0
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제1항에 있어서, 상기 MFI 제올라이트 분리막은 MFI 씨앗층이 형성된 지지체 위에 유기구조유도체: SiO2: H2O: Al2O3: Na2O = 1~100: 5~500: 1,000~50,000: 0~100: 0~1,000의 몰비로 구성된 이차 성장용액을 첨가하고 수열합성시키는 단계를 포함하는 방법에 의해 제조되는 것을 특징으로 하는 MFI 제올라이트 분리막의 결함구조 조절방법
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제3항에 있어서, 상기 유기구조유도체는 TPAOH (tetrapropylammonium hydroxide), TPABr (tetrapropylammonium bromide), TPAF (tetrapropylammonium fluoride), TPACl(tetrapropylammonium chloride), TPAI(tetrapropylammonium iodide), TEAOH (tetraethylammonium hydroxide), TEABr (tetraethylammonium bromide), TEAF (tetraethylammonium fluoride), TEACl (tetraethylammonium chloride) 및 TEAI (tetraethylammonium iodide)로 구성된 군에서 선택되는 1종 이상인 것을 특징으로 하는 MFI 제올라이트 분리막의 결함구조 조절방법
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제3항에 있어서, 상기 수열합성은 80~200 ℃의 온도에서 12~240 시간 동안 수행되는 것을 특징으로 하는 MFI 제올라이트 분리막의 결함구조 조절방법
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제3항에 있어서, 상기 수열합성 이후에 분리막을 30~200 ℃의 온도에서 1~24 시간 동안 건조시키는 단계를 추가로 포함하는 MFI 제올라이트 분리막의 결함구조 조절방법
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제3항에 있어서, 상기 지지체는 알루미나, 폴리프로필렌, 폴리에틸렌, 폴리테트라플루오로에틸렌, 폴리설폰, 폴리이미드, 실리카, 글래스 감마-알루미나, 멀라이트(mullite), 지르코니아(zirconia), 티타니아(titania), 이트리아(yttria), 세리아(ceria), 바나디아(vanadia), 실리콘, 스테인레스 스틸 및 카본으로 구성된 군에서 선택되는 1종 이상인 것을 특징으로 하는 MFI 제올라이트 분리막의 결함구조 조절방법
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제1항 내지 제7항 중 어느 한 방법에 의해 제조된 MFI 제올라이트 분리막을 이용하여 크실렌 이성질체를 포함하는 방향족 탄화수소의 혼합물로부터 p-크실렌을 분리하는 p-크실렌의 분리방법
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제8항에 있어서, 상기 크실렌 이성질체는 p-크실렌, m-크실렌, o-크실렌, 에틸벤젠인 것을 특징으로 하는 p-크실렌의 분리방법
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제8항에 있어서, 50 ℃ 이상의 온도에서 수행되는 것을 특징으로 하는 p-크실렌의 분리방법
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