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파라볼릭 미러를 이용한 반사형 FPM

  • 기술번호 : KST2021012309
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 파라볼릭 미러를 이용한 반사형 FPM에 관한 것으로, 보다 상세하게는 다수의 LED광원이 구비되며, 대물렌즈를 투과하여 서로 다른 각도로 측정대상물에 순차적으로 복수의 LED 제1빔을 조사하는 제1LED 어레이로 구성된 제1패널을 갖는 제1조명기; 다수의 LED광원이 구비되며, 상기 제1조명기에 의한 조사 후, 서로 다른 각도로 측정대상물에 순차적으로 복수의 LED 제2빔을 조사하는 제2LED 어레이로 구성된 제2패널로 구성된 제2조명기; 상기 제2조명기에 의해 발생된 각각의 제2빔이 반사되어 상기 측정대상물로 입사되도록 하는 파라볼릭 미러; LED 제1빔 또는 제2빔이 조사된 측정대상물에서 나오는 빔을 수집하도록 구성된 렌즈; 및 상기 렌즈로부터 광을 수광하고 복수의 LED 빔 각각에 대한 이미지를 취득하는 광검출기;을 포함하는 것을 특징으로 하는 파라볼릭 미러를 이용한 반사형 FPM에 관한 것이다.
Int. CL G02B 21/36 (2006.01.01) G02B 21/02 (2006.01.01) G02B 21/06 (2006.01.01)
CPC G02B 21/361(2013.01) G02B 21/02(2013.01) G02B 21/06(2013.01)
출원번호/일자 1020200020510 (2020.02.19)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2021-0105711 (2021.08.27) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2020.02.19)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 안희경 대전광역시 유성구
2 이휘형 대전광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 아이퍼스 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2020.02.19 수리 (Accepted) 1-1-2020-0178020-60
2 [출원서 등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2020.02.25 수리 (Accepted) 1-1-2020-0198857-15
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2021.06.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2021-0514670-91
4 [출원서 등 보완]보정서
2021.08.10 수리 (Accepted) 1-1-2021-0922635-60
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2021.08.10 수리 (Accepted) 1-1-2021-0922634-14
6 [공지예외적용 보완 증명서류]서류제출서
2021.08.10 수리 (Accepted) 1-1-2021-0922636-16
7 등록결정서
Decision to grant
2021.09.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2021-0767196-16
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번호 청구항
1 1
FPM에 있어서, 다수의 LED광원이 구비되며, 대물렌즈를 투과하여 서로 다른 각도로 측정대상물에 순차적으로 복수의 LED 제1빔을 조사하는 제1LED 어레이로 구성된 제1패널을 갖는 제1조명기; 다수의 LED광원이 구비되며, 상기 제1조명기에 의한 조사 후, 서로 다른 각도로 측정대상물에 순차적으로 복수의 LED 제2빔을 조사하는 제2LED 어레이로 구성된 제2패널을 갖는 제2조명기; 상기 제2조명기에 의해 발생된 각각의 제2빔이 반사되어 상기 측정대상물로 입사되도록 하는 파라볼릭 미러; LED 제1빔과 제2빔이 조사된 측정대상물에서 나오는 빔을 수집하도록 구성된 렌즈; 및상기 렌즈로부터 광을 수광하고 복수의 제1빔 및 제2빔 각각에 대한 이미지를 취득하는 광검출기;을 포함하는 것을 특징으로 하는 파라볼릭 미러를 이용한 반사형 FPM
2 2
제 1항에 있어서, 상기 제1패널은 판형태이고, 상기 제1LED 어레이는, 상기 제1패널의 중심점과, 상기 중심점을 기준으로 서로 원주방향으로 소정간격 이격되어 배치된 링형이고, 상기 링형 제1LED 어레이는 반경방향으로 특정 간격 이격된 복수로 배열되는 것을 특징으로 하는 파라볼릭 미러를 이용한 반사형 FPM
3 3
제 2항에 있어서, 상기 제2패널은 중앙홀이 형성된 링판형태이고, 상기 제2LED 어레이는, 상기 제2패널의 중심점을 기준으로 서로 원주방향으로 소정간격 이격되어 배치된 링형이고, 상기 링형 제2LED 어레이는 반경방향으로 특정 간격 이격된 복수로 배열되는 것을 특징으로 하는 파라볼릭 미러를 이용한 반사형 FPM
4 4
제 3항에 있어서, 상기 제1패널의 중심점에 위치된 광원부터 순차적으로 반경이 작은 제1LED 어레이 상의 광원들이 순차적으로 조사된 후, 제2패널에서 반경이 작은 제2LED어레이 상의 광원부터 순차적으로 조사되도록 제어하는 LED제어부를 더 포함하고, 상기 광검출기는 각각의 빔에 대한 이미지를 취득하는 것을 특징으로 하는 파라볼릭 미러를 이용한 반사형 FPM
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제 4항에 있어서, 상기 이미지 각각을 스펙트럼 도메인에 위치시켜 스티칭하여 상기 측정대상물의 위상정보를 갖는 합성 이미지를 산출하는 분석수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 파라볼릭 미러를 이용한 반사형 FPM
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제 1항에 있어서, 상기 제1빔은 상기 제1조명기에서 조사되어 광학계를 통과하여 빔스플리터에 의해 반사된 후, 대물렌즈를 거쳐 측정대상물에 입사되는 것을 특징으로 하는 파라볼릭 미러를 이용한 반사형 FPM
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술정보토통신부 한국표준과학연구원 한국표준과학연구원 연구운영비지원 첨단측정장비 핵심기술 개발
2 산업통상자원부 한국생산기술연구원 산업기술혁신사업(기계산업핵심기술개발사업) 고정밀 광학부품용 가공기 및 초정밀 Grooving 머신실증