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비접촉 지문 인식 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2021013060
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 명세서는 비접촉식으로 사용자의 지문을 인식할 수 있는 장치 및 방법을 개시한다. 본 명세서에 따른 비접촉 지문 인식 장치는, 지문으로부터 반사된 빛을 수용하는 메인볼록렌즈; 상기 메인볼록렌즈를 통과한 빛을 수용하도록 복수의 마이크로렌즈가 MxN으로 어레이된 플렌옵틱렌즈; 상기 플렌옵틱렌즈를 통과한 빛을 전기적 신호로 출력하는 이미지 센서; 및 상기 이미지센서에서 출력된 상기 지문에 대한 다시점 이미지를 이용하여 깊이맵을 추출하고, 다시점 이미지의 깊이맵을 이용하여 3차원 지문 형상을 생성하고, 상기 3차원 지문 형상으로부터 2차원 지문 펼침 영상을 생성하는 영상 처리부;를 포함할 수 있다.
Int. CL G06K 9/00 (2006.01.01) G06T 7/571 (2017.01.01) G06T 3/00 (2019.01.01)
CPC G06K 9/00013(2013.01) G06K 9/00201(2013.01) G06T 7/571(2013.01) G06T 3/0037(2013.01) H04N 5/22541(2013.01)
출원번호/일자 1020200061434 (2020.05.22)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2021-0144292 (2021.11.30) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2020.05.22)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박민철 서울특별시 성북구
2 김대연 서울특별시 성북구
3 고결 서울특별시 성북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 티앤아이 대한민국 서울특별시 송파구 법원로 ***, A동 ****호(문정동, 엠스테이트)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2020.05.22 수리 (Accepted) 1-1-2020-0517411-16
2 [출원서 등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2021.01.04 수리 (Accepted) 1-1-2021-0005292-94
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2021.04.19 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2021.06.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2021-0180107-96
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2021.10.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2021-0795722-34
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2021.11.29 접수중 (On receiving) 1-1-2021-1379360-40
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
 2021.11.29 수리 (Accepted) 1-1-2021-1379328-99
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
지문으로부터 반사된 빛을 수용하는 메인볼록렌즈;상기 메인볼록렌즈를 통과한 빛을 수용하도록 복수의 마이크로렌즈가 MxN으로 어레이된 플렌옵틱렌즈;상기 플렌옵틱렌즈를 통과한 빛을 전기적 신호로 출력하는 이미지 센서; 및상기 이미지센서에서 출력된 상기 지문에 대한 다시점 이미지를 이용하여 깊이맵을 추출하고, 다시점 이미지의 깊이맵을 이용하여 3차원 지문 형상을 생성하고, 상기 3차원 지문 형상으로부터 2차원 지문 펼침 영상을 생성하는 영상 처리부;를 포함하는 비접촉 지문 인식 장치
2 2
청구항 1에 있어서,상기 영상 처리부는, 상기 플렌옵틱렌즈에 포함된 마이크로렌즈의 중심점을 기준으로 동일하게 이격된 화소별 데이터를 이용하여 깊이맵을 추출하는 것을 특징으로 하는 비접촉 지문 인식 장치
3 3
청구항 1에 있어서,상기 영상 처리부는, 상기 다시점 이미지의 깊이맵을 이용하여 다양한 초점에서의 영상 집합인 초점스택(focal stack)을 생성하고, 각 초점 스택 영상 내에서 초점이 맞는 부분을 잘라서 초점거리 별 정렬시키고, 정렬된 초점거리 별 영상을 하나로 정합하여 깊이에 따른 3차원 지문 정보를 생성하는 것을 특징으로 하는 비접촉 지문 인식 장치
4 4
청구항 1에 있어서,상기 영상 처리부는, 상기 3차원 지문 형상을 원통투영법을 이용하여 2차원 지문 펼침 영상을 생성하는 것을 특징으로 하는 비접촉 지문 인식 장치
5 5
청구항 1 내지 4 중 어느 한 청구항에 따른 비접촉 지문 인식 장치를 포함하는 사용자 인증 시스템
6 6
메인볼록렌즈 및 복수의 마이크로렌즈가 MxN으로 어레이된 플렌옵틱렌즈를 통과한 빛을 전기적 신호로 출력하는 이미지 센서; 및 영상 처리부를 포함하는 장치를 이용하여 비접촉 지문 인식 방법으로서,(a) 상기 영상 처리부가 상기 이미지센서에서 출력된 상기 지문에 대한 다시점 이미지를 이용하여 깊이맵을 추출하는 단계;(b) 상기 영상 처리부가 다시점 이미지의 깊이맵을 이용하여 3차원 지문 형상을 생성하는 단계; 및(c) 상기 영상 처리부가 상기 3차원 지문 형상으로부터 2차원 지문 펼침 영상을 생성하는 단계;를 포함하는 비접촉 지문 인식 방법
7 7
청구항 6에 있어서,상기 (a) 단계는, 상기 영상 처리부가 상기 플렌옵틱렌즈에 포함된 마이크로렌즈의 중심점을 기준으로 동일하게 이격된 화소별 데이터를 이용하여 깊이맵을 추출하는 단계인 비접촉 지문 인식 방법
8 8
청구항 6에 있어서,상기 (b) 단계는, 상기 영상 처리부가 상기 다시점 이미지의 깊이맵을 이용하여 다양한 초점에서의 영상 집합인 초점스택(focal stack)을 생성하고, 각 초점 스택 영상 내에서 초점이 맞는 부분을 잘라서 초점거리 별 정렬시키고, 정렬된 초점거리 별 영상을 하나로 정합하여 깊이에 따른 3차원 지문 정보를 생성하는 단계인 비접촉 지문 인식 방법
9 9
청구항 6에 있어서,상기 (c) 단계는, 상기 영상 처리부가 상기 3차원 지문 형상을 원통투영법을 이용하여 2차원 지문 펼침 영상을 생성하는 단계인 비접촉 지문 인식 방법
10 10
컴퓨터에서 청구항 6 내지 청구항 9 중 어느 한 청구항에 따른 비접촉 지문 인식 방법의 각 단계들을 수행하도록 작성되어 컴퓨터로 독출 가능한 기록 매체에 기록된 컴퓨터프로그램
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 문화체육관광부 한국과학기술연구원 문화기술연구개발(R＆D) 홀로그램 카메라 및 홀로그램 기반 AR 플랫폼 기술 개발