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서로 다른 영역의 파장을 갖는 제1 광원 및 제2 광원을 각각 출력하는 광원부;상기 제1 광원 및 상기 제2 광원을 합치며, 합쳐진 제3 광원을 외부로 출력하는 광 송출부;상기 제3 광원이 물체에 반사되어 돌아오는 제4 광원을 수집하는 집광부;수집된 상기 제4 광원을 검출하여 전기적인 광신호로 출력하는 검출부;상기 검출부의 위치를 이동시키는 보정부; 및상기 검출부로부터 상기 광신호를 수신하고, 상기 광신호의 세기와 저장된 기준 신호의 세기를 비교하여, 상기 광신호가 최대 신호 세기를 찾도록 상기 보정부를 통하여 상기 검출부 위치를 이동시켜 보정하는 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 보정 가능한 광 탐지 장치
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2 |
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제1항에 있어서,상기 보정부는,상기 검출부 아래에 부착되며, 전압을 인가하여 수축 및 팽창되어 나노 단위로 상기 검출부를 위치를 미세 조정하는 압전 소자; 및상기 압전 소자 아래에 부착되며 마이크로 단위로 X, Y 또는 Z 축 방향으로 움직여 상기 검출부의 위치를 조정하는 스테이지;를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 보정 가능한 광 탐지 장치
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제2항에 있어서,상기 제어부는,상기 검출부에서 측정된 상기 광신호 세기와 저장된 기준 신호 세기를 비교하며, 상기 스테이지를 움직여 상기 검출부를 위치를 조정한 후, 상기 압전 소자로 상기 검출부의 위치를 미세 조정하여 상기 광신호가 최대 신호 세기를 찾는 것을 특징으로 하는 자동 보정 가능한 광 탐지 장치
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4 |
4
제1항에 있어서,상기 광 송출부는,상기 광원부에서 출력된 상기 제1 광원의 방향을 변경하는 제1 미러;방향이 변경된 상기 제1 광원을 통과시키고, 상기 광원부에서 출력된 상기 제2 광원의 방향을 변경하여 통과한 상기 제1 광원과 합쳐주는 제2 미러;상기 제2 미러에서 합쳐진 상기 제3 광원의 방향을 변경하는 제3 미러; 및상기 제3 미러에 의해 방향이 변경된 상기 제3 광원을 방향을 변경하여 외부로 출력하는 제4 미러;를 포함하며,상기 집광부는,물체에 반사되어 돌아오는 상기 제4 광원의 방향을 변경하여 상기 검출부에 집광시키는 제5 미러;를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 보정 가능한 광 탐지 장치
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5 |
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제4항에 있어서,상기 제2 미러는,낮은 파장대의 상기 제1 광원은 통과시키면서, 높은 파장대의 상기 제2 광원은 반사하는 다이크로익 미러이고,상기 제5 미러는,상기 제3 광원이 통과하도록 중심 부분에 중앙홀이 형성되어 있고, 물체에 반사되어 돌아오는 상기 제4 광원의 방향을 변경시켜 상기 검출부로 집광시키는 것을 특징으로 하는 자동 보정 가능한 광 탐지 장치
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6 |
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제어부가 물체에 반사되어 돌아오는 광원을 검출하여 전기적인 광신호를 출력하는 검출부로부터 상기 광신호를 수신하는 단계; 및상기 제어부가 수신한 광신호의 세기와 저장된 기준 신호의 세기를 비교하며, 상기 광신호가 최대 신호 세기를 찾도록 보정부를 통하여 상기 검출부 위치를 이동시켜 보정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 보정 가능한 광 탐지 장치를 이용한 자동 보정 방법
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제6항에 있어서,상기 검출부로부터 상기 광신호를 수신하는 단계는,광원부가 서로 다른 영역의 파장을 갖는 제1 광원 및 제2 광원을 각각 출력하는 단계;광 송출부가 상기 제1 광원 및 상기 제2 광원을 합치며, 합쳐진 제3 광원을 외부로 출력하는 단계;집광부가 상기 제3 광원이 물체에 반사되어 돌아오는 제4 광원을 수집하는 단계; 및검출부가 수집된 상기 제4 광원을 검출하여 전기적인 광신호로 출력하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 보정 가능한 광 탐지 장치를 이용한 자동 보정 방법
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제6항에 있어서,상기 검출부 위치를 이동시켜 보정하는 단계는,수신한 광신호의 세기가 기준 신호 세기 미만인 경우, 상기 제어부는 상기 보정부를 통하여 상기 검출부 위치를 이동시키면서 상기 광신호의 최대 신호 세기를 찾는 단계; 및상기 광신호의 최대 신호 세기를 찾으면, 상기 제어부는 상기 검출부의 위치를 고정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 보정 가능한 광 탐지 장치를 이용한 자동 보정 방법
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