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광학 네트워크-온-칩의 최악의 OSNR 분석 방법에 있어서,프로세서의 제어 하에 광신호의 경로(Ps)에 대한 유효성을 검사하고, 검사된 상기 광신호 경로를 광신호 경로의 후보군으로 설정하는 단계;설정된 상기 광신호 경로의 후보군 각각을 선택하되 광 신호의 특성을 고려하여 설정된 탐색 조건을 통해 미리 특정 탐색 범위를 가진 후보군을 결정하고, 선택된 상기 광신호 경로의 후보군 중에서 누화 잡음이 발생하는 누화잡음 경로(Px)를 탐색하되 상기 탐색 조건의 만족 여부에 따라 탐색 범위 또는 탐색 종료를 결정하는 단계; 및 탐색된 상기 누화잡음 경로와 상기 광신호 경로의 후보군에서 OSNR(optical signal-to-noise ratio)이 가장 작은 상기 광신호 경로를 이용하여, 최악의 OSNR을 산출하는 단계;를 포함하는 광학 네트워크-온-칩의 최악의 OSNR 분석 방법
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제1 항에 있어서,상기 탐색 단계는,설정된 기준 누화잡음보다 높은 경우에 상기 누화잡음 경로를 탐색하는 것을 특징으로 하는 광학 네트워크-온-칩의 최악의 OSNR 분석 방법
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제2 항에 있어서,상기 탐색 단계는,상기 설정된 기준 누화잡음의 임계값에 따라 탐색 조건을 달리하는 것을 특징으로 하는 광학 네트워크-온-칩의 최악의 OSNR 분석 방법
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제3 항에 있어서,상기 탐색 조건은,상기 광신호 경로와 상기 누화잡음 경로가 교차하는 라우터로부터 인접한 라우터에서 출발하는 광신호 경로를 우선적으로 탐색하는 것을 특징으로 하는 광학 네트워크-온-칩의 최악의 OSNR 분석 방법
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제3 항에 있어서,상기 탐색 조건은,상기 광신호 경로와 상기 누화잡음 경로가 교차하는 라우터로부터 상기 광신호 경로의 목적지가 가까운 상기 누화잡음 경로를 우선적으로 탐색하는 것을 특징으로 하는 광학 네트워크-온-칩의 최악의 OSNR 분석 방법
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제3 항에 있어서,상기 탐색 조건은,상기 광신호 경로와 교차할 때까지 더 적은 수의 드랍 상태의 MR(micro-ring resonator)을 지나는 상기 누화잡음 경로를 우선적으로 탐색하는 것을 특징으로 하는 광학 네트워크-온-칩의 최악의 OSNR 분석 방법
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제3 항에 있어서,상기 탐색 조건은,동일한 누화잡음을 가지는 복수의 상기 누화잡음 경로 중 더 적은 수의 라우터를 통과하는 상기 누화잡음 경로를 최악의 경우로 선정하는 것을 특징으로 하는 광학 네트워크-온-칩의 최악의 OSNR 분석 방법
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제3 항에 있어서,상기 탐색 조건은,상기 누화잡음 경로 중 상기 누화잡음이 상기 설정된 기준 누화잡음의 임계값 이상일 경우 탐색을 종료하는 것을 특징으로 하는 광학 네트워크-온-칩의 최악의 OSNR 분석 방법
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제3 항에 있어서,상기 탐색 조건은,탐색가능한 상기 누화잡음 경로가 없을 경우, 탐색을 종료하는 것을 특징으로 하는 광학 네트워크-온-칩의 최악의 OSNR 분석 방법
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