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양자 오류 정정 부호의 최적화 방법에 있어서,물리적 오류율(pphy) 및 편향도(η)에 기초하여, 하나 이상의 후보 래터스(lattice) 크기 각각에 대한 논리적 오류율(Pfail)을 추정하는 단계;상기 추정된 논리적 오류율(Pfail) 및 타겟 논리적 오류율(Pf,target)에 기초하여, 상기 하나 이상의 후보 래터스 크기 중 최적의 래터스 크기를 결정하는 단계; 및상기 최적의 래터스 크기에 기초하여 큐비트를 배치하는 단계를 포함하고, 상기 편향도(η)가 1 초과인 경우, 상기 하나 이상의 후보 래터스 크기는 정사각형을 제외한 직사각형 형태로 정의되는, 최적화 방법
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제 1 항에 있어서,상기 하나 이상의 후보 래터스 크기는, 논리적 X 연산자의 최소 거리(L1)에 비하여 논리적 Z 연산자의 최소 거리(L2)가 큰 형태로 정의되는, 최적화 방법
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제 2 항에 있어서,상기 최적의 래터스 크기는에 기초하여 결정되는, 최적화 방법
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제 3 항에 있어서,상기 편향도(η)는 η = pZ / px로 정의되고, pZ는 물리적 Z 오류율이고, px는 물리적 X 오류율인, 최적화 방법
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제 4 항에 있어서,상기 추정된 논리적 오류율(Pfail)은로 정의되고,PLx는 논리적 X 오류율이고,PLz는 논리적 Z 오류율인, 최적화 방법
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제 5 항에 있어서,상기 논리적 X 오류율(PLx)은물리적 X 오류율(pX)이 제 1 임계값(pX,low) 미만인 경우,로 정의되는, 최적화 방법
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제 5 항에 있어서,상기 논리적 X 오류율(PLx)은물리적 X 오류율(pX)이 제 2 임계값(pX,high) 초과인 경우,로 정의되며,c1, c2, c3, c4, c5, c6, c7 및 c8은 데이터 특성에 기초하여 주어지는 상수인, 최적화 방법
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제 5 항에 있어서,상기 논리적 Z 오류율(PLz)은물리적 Z 오류율(pZ)이 제 3 임계값(pZ,low) 미만인 경우,로 정의되는, 최적화 방법
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제 5 항에 있어서,상기 논리적 Z 오류율(PLz)은물리적 Z 오류율(pZ)이 제 4 임계값(pZ,high) 초과인 경우,로 정의되며,c1, c2, c3, c4, c5, c6, c7 및 c8은 데이터 특성에 기초하여 주어지는 상수인, 최적화 방법
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제 1 항에 있어서,상기 양자 오류 정정 부호는 서피스(surface) 부호인, 최적화 방법
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양자 오류 정정 부호의 최적화 장치에 있어서,물리적 오류율(pphy), 편향도(η), 하나 이상의 후보 래터스(lattice) 크기, 또는 타겟 논리적 오류율(Pf,target) 중의 하나 이상을 포함하는 기초 정보를 획득하는, 기초 정보 획득부;상기 물리적 오류율(pphy) 및 상기 편향도(η)에 기초하여, 상기 하나 이상의 후보 래터스(lattice) 크기 각각에 대한 논리적 오류율(Pfail)을 추정하는, 논리적 오류율 추정부;상기 추정된 논리적 오류율(Pfail) 및 상기 타겟 논리적 오류율(Pf,target)에 기초하여, 상기 하나 이상의 후보 래터스 크기 중 최적의 래터스 크기를 결정하는, 래터스 크기 최적화부; 및상기 최적의 래터스 크기에 기초하여 큐비트를 배치하는, 큐비트 배치부를 포함하고, 상기 편향도(η)가 1 초과인 경우, 상기 하나 이상의 후보 래터스 크기는 정사각형을 제외한 직사각형 형태로 정의되는, 최적화 장치
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