| 1 |
1
제1 하우징;제1 하우징의 일 측에 배치되는 제2 하우징;상기 제2 하우징의 일 측에 배치되어 시험체를 수용할 수 있는 제3 하우징; 상기 제1 하우징과 상기 제2 하우징을 서로 연결하는 제1 전도체; 및상기 제2 하우징과 제3 하우징을 서로 연결하는 제2 전도체;를 포함하고,상기 제1 하우징 및 상기 제2 하우징에는 각각 냉각제가 수용되고,상기 시험체는 상기 제2 전도체와 맞닿아 냉각되고,상기 제2 하우징 내에 수용되는 제2 냉각제의 존재 여부에 따라 냉각 시스템의 상태가 제어될 수 있는,냉각 시스템
|
| 2 |
2
삭제
|
| 3 |
3
제1항에 있어서,상기 냉각 시스템의 제1 상태는 상기 제2 하우징 내에 제2 냉각제가 잔존하여, 제2 냉각제를 통하여 상기 제1 하우징 내의 제1 냉각제와 상기 시험체 사이의 열전도가 이루어져 상기 시험체에 대한 냉각이 이루어지는, 냉각 시스템
|
| 4 |
4
제3항에 있어서,상기 냉각 시스템의 제2 상태는 제2 하우징 내에서 제2 냉각제가 모두 제거되어, 상기 제1 하우징 내의 제1 냉각제에 의한 상기 시험체에 대한 냉각이 중단되는 상태인, 냉각 시스템
|
| 5 |
5
제4항에 있어서,상기 제2 하우징의 일 부분에 배치되는 유로;를 더 포함하고,상기 유로를 통하여 제2 하우징 내에 상기 제2 냉각제를 공급하거나 배출할 수 있는, 냉각 시스템
|
| 6 |
6
제5항에 있어서,상기 제3 하우징의 일 부분에 배치되는 흡입부;를 더 포함하고,상기 흡입부는,상기 냉각 시스템의 외측을 향해 연장되거나, 상기 제2 하우징 및 상기 제1 하우징을 관통하여 형성될 수 있는, 냉각 시스템
|
| 7 |
7
제6항에 있어서,상기 흡입부에 의하여 상기 제1 상태에서 상기 제3 하우징은 내측은 진공 상태로 형성될 수 있는,냉각 시스템
|
| 8 |
8
제7항에 있어서, 상기 흡입부는, 상기 흡입부 내에 상기 시험체와 연결될 수 있는 센서를 더 포함하고,상기 센서는 상기 시험체의 전기적 상태를 실시간으로 체크할 수 있는,냉각 시스템
|
| 9 |
9
제3항에 있어서,상기 제1 하우징과 상기 제2 하우징을 연결하는 연결통로;를 더 포함하고,상기 연결통로를 통해서 1 하우징 내의 제1 냉각제가 상기 제1 하우징으로부터 상기 제2 하우징으로 유동될 수 있는, 냉각 시스템
|
| 10 |
10
제9항에 있어서,상기 연결통로는,연결통로 내에 냉각제의 유동을 조절할 수 있는 개폐요소;를 더 포함하는,냉각 시스템
|
| 11 |
11
제4항에 있어서,제2 상태에서는 제3 하우징이 제2 하우징으로부터 탈거되며, 상기 제3 하우징 내의 상기 시험체는 교체 또는 보수될 수 있는, 냉각 시스템
|
