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광대역 광원;상기 광대역 광원의 출력광을 제공받아 선형 편광된 광을 출력하는 제1 편광기;상기 제1 편광기를 통하여 상기 선형 편광된 광을 제공받아 분기하는 편광 유지 광섬유 방향성 결합기;상기 편광 유지 광섬유 방향성 결합기를 통하여 상기 선형 편광된 광을 제공받아 다중 반사하는 광을 생성하는 전자파 전기 광학 프로브;상기 전자파 전기 광학 프로브의 상기 다중 반사된 광을 상기 편광 유지 광섬유 방향성 결합기로 제공받아 선형 편광시키는 제2 편광기; 및상기 제2 편광기를 투과한 광을 검출하는 광 검출기를 포함하고,상기 전자파 전기 광학 프로브는:빠른 축과 느린 축을 포함하는 프로브 편광 유지 광섬유; 및 상기 프로브 편광 유지 광섬유의 일단에 배치되고 면내에서 서로 수직한 이상(extra-ordinary) 광축과 정상(ordinary) 광축을 가진 판 구조의 전기 광학 결정을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자파 전기 광학 프로브 정렬 장치
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제1 항에 있어서,상기 전기 광학 결정을 눌러 지지하고 상기 프로브 편광 유지 광섬유에 대하여 상기 전기 광학 결정을 회전시키는 회전부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자파 전기 광학 프로브 정렬 장치
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제1 항에 있어서,상기 광대역 광원과 상기 제1 편광기 사이에 배치되어 편광 상태를 조절하는 편광 조절부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자파 전기 광학 프로브 정렬 장치
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제3 항에 있어서,상기 광대역 광원과 상기 제1 편광기 사이에 배치된 아이솔레이터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자파 전기 광학 프로브 정렬 장치
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제1 항에 있어서,상기 프로브 편광 유지 광섬유의 일단과 상기 전기 광학 결정 사이에 배치된 접착층을 더 포함하고,상기 접착층은 상기 빠른 축과 느린 축 중에서 어느 하나가 상기 전기 광학 결정의 이상 광축에 정렬된 상태에서 자외선에 의해 경화되는 것을 특징으로 하는 전자파 전기 광학 프로브 정렬 장치
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제1 항에 있어서,상기 빠른 축과 느린 축 중에서 어느 하나는 상기 전기 광학 결정의 이상 광축에 정렬되고,상기 프로브 편광 유지 광섬유는 상기 빠른 축과 상기 느린 축 중에서 어느 하나의 축으로 선형 편광된 광을 유지시키며 진행시키는 것을 특징으로 하는 전자파 전기 광학 프로브 정렬 장치
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제1 항에 있어서,상기 제2 편광기는 상기 다중 반사된 광의 상기 빠른 축 성분 또는 상기 느린 축 성분을 선택할 수 있는 것을 특징으로 하는 전자파 전기 광학 프로브 정렬 장치
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제1 항에 있어서,상기 편광 유지 광섬유 방향성 결합기는 제1 포트 내지 제4 포트를 포함하고,상기 제1 포트는 상기 제1 편광기에 연결되고,상기 제2 포트는 보조 광 검출기에 연결되고,상기 제3 포트는 상기 전자파 전기 광학 프로브의 프로브 편광 유지 광섬유에 연결되고,상기 제4 포트는 상기 광 검출기에 연결되는 것을 특징으로 하는 전자파 전기 광학 프로브 정렬 장치
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제1 항에 있어서,상기 광대역 광원은 슈퍼루미네슨트 다이오드(superluminescent diode)이고,상기 전기 광학 결정의 양면에서 각각 반사된 광은 간섭을 형성하지 않도록 상기 광대역 광원의 가간섭 거리는 상기 전기 광학 결정의 두께의 2배 보다 작고,상기 광대역 광원과 상기 제1 편광기는 단일 모드 광섬유로 연결되는 것을 특징으로 하는 전자파 전기 광학 프로브 정렬 장치
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광대역 광원; 상기 광대역 광원을 제공받아 선형 편광된 광을 출력하는 제1 편광기; 상기 제1 편광기를 통하여 상기 선형 편광된 광을 제공받아 분기하는 편광 유지 광섬유 방향성 결합기; 상기 편광 유지 광섬유 방향성 결합기를 통하여 상기선형 편광된 광을 제공받아 다중 반사하는 전자파 전기 광학 프로브; 상기 전자파 전기 광학 프로브의 상기 다중 반사된 광을 상기 편광 유지 광섬유 방향성 결합기로 제공받아 선형 편광시키는 제2 편광기; 및 상기 제2 편광기를 투과한 광을 검출하는 광 검출기를 포함하고, 상기 전자파 전기 광학 프로브는: 빠른 축과 느린 축을 포함하는 프로브 편광 유지 광섬유; 및 상기 프로브 편광 유지 광섬유의 일단에 배치되고 면내에서 서로 수직한 이상 광축과 정상 광축을 가진 판 구조의 전기 광학 결정을 포함하는 전자파 전기 광학 프로브 정렬 장치의 정렬 방법에 있어서,상기 프로브 편광 유지 광섬유의 상기 느린 축에 나란하게 상기 제1 편광기를 설정한 상태에서 상기 전기 광학 결정을 회전시키면서 상기 광검출기로 다중 반사광의 세기를 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자파 전기 광학 프로브 정렬 장치의 정렬 방법
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제 10 항에 있어서,상기 광검출기로 다중 반사광의 세기를 측정하는 단계에서, 상기 제2 편광기는 상기 느린 축에 나란하게 설정되고, 상기 광검출기의 다중 반사광의 세기가 최대가 되는 상기 전기 광학 결정의 회전각을 추출하는 단계; 및상기 광검출기의 다중 반사광의 세기가 최대가 되는 상기 회전각에서 상기 전기 광학 결정을 고정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자파 전기 광학 프로브 정렬 장치의 정렬 방법
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제 10 항에 있어서,상기 광검출기로 다중 반사광의 세기를 측정하는 단계에서, 상기 제2 편광기는 상기 빠른 축에 나란하게 설정되고,상기 광검출기의 다중 반사광의 세기가 최소가 되는 상기 전기 광학 결정의 회전각을 추출하는 단계; 및상기 광검출기의 다중 반사광의 세기가 최소가 되는 상기 회전각에서 상기 전기 광학 결정을 고정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자파 전기 광학 프로브 정렬 장치의 정렬 방법
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제 10 항에 있어서,상기 광검출기로 다중 반사광의 세기를 측정하는 단계에서, 상기 제2 편광기는 상기 빠른 축 및 상기 느린 축에 교번하여 나란하게 설정되면서, 상기 회전각에 따른 느린 세기 (Pout(0도)) 및 빠른 세기 (Pout(90도))를 측정하고,상기 느린 세기 (Pout(0도))에 대한 빠른 세기 (Pout(90도))의 비 (Pout(90도)/Pout(0도))가 최소가 되는 상기 회전각에서 상기 전기 광학 결정을 고정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자파 전기 광학 프로브 정렬 장치의 정렬 방법
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빠른 축과 느린 축을 포함하는 프로브 편광 유지 광섬유; 및 상기 프로브 편광 유지 광섬유의 일단에 배치되고 면내에서 서로 수직한 이상 광축과 정상 광축을 가진 판 구조의 전기 광학 결정을 포함하고,상기 빠른 축과 상기 느린 축 중에서 어느 하나는 상기 전기 광학 결정의 이상 광축에 정렬되고,상기 편광 유지 광섬유는 상기 빠른 축과 상기 느린 축 중에서 어느 하나의 축으로 선형 편광된 광을 진행시키고,상기 전기 광학 결정은 파브리-페로(Fabry-Perot) 간섭계를 구성하는 것을 특징으로 하는 전자파 전기 광학 프로브
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제14 항에 있어서,상기 편광 유지 광섬유의 일단을 마주보고 상기 전기 광학 결정의 일면에 배치된 제1 다층 유전체 반사층; 및상기 전기 광학 결정의 일면에 대향하는 타면에 배치된 제2 다층 유전체 반사층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자파 전기 광학 프로브
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제14 항에 있어서,상기 편광 유지 광섬유의 일단과 상기 전기 광학 결정의 일면 사이에 배치된 접착층을 더 포함하고,상기 접착층은 자외선 경화 수지인 것을 특징으로 하는 전자파 전기 광학 프로브
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제14 항에 있어서,상기 전기 광학 결정의 두께는 0
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레이저 광원;상기 레이저 광원의 선형 편광된 광을 전달하는 제1 편광 유지 광섬유;상기 제1 편광 유지 광섬유을 통하여 제공된 선형 편광된 광을 제공받아 외부 전자파의 전기장의 세기에 따라 광의 세기를 변조하는 전자파 전기 광학 프로브;상기 제1 편광 유지 광섬유를 통하여 전달된 상기 선형 편광된 광을 상기 전자파 전기 광학 프로브에 전달하고 상기 전기 광학 프로브에서 반사된 세기 변조된 광을 분기하는 광 서큘레이터;상기 광 서큘레이터로부터 상기 세기 변조된 광을 전달하는 제2 편광 유지 광섬유;상기 제2 편광 유지 광섬유를 통하여 전달된 상기 세기 변조된 광을 전기 신호로 검출하는 광 검출기; 및상기 광 검출기의 전기 신호를 분석하는 스펙트럼 분석기;를 포함하고,상기 전자파 전기 광학 프로브는:빠른 축과 느린 축을 포함하는 프로브 편광 유지 광섬유; 및 상기 프로브 편광 유지 광섬유의 일단에 배치되고 면내에서 서로 수직한 이상 광축과 정상 광축을 가진 판 구조의 전기 광학 결정을 포함하고,상기 빠른 축과 느린 축 중에서 어느 하나는 상기 전기 광학 결정의 이상 광축에 정렬되고,상기 편광 유지 광섬유는 상기 빠른 축과 상기 느린 축 중에서 어느 하나의 축으로 선형 편광된 광을 진행시키고,상기 전기 광학 결정은 파브리-페로(Fabry-Perot) 간섭계를 구성하는 것을 특징으로 하는 전자파 측정 장치
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제18 항에 있어서,상기 레이저 광원은 파장 가변 분포 귀환형 레이저 다이오드(distributed feedback laser diode)이고,상기 레이저 광원은 온도 조절에 의하여 파장이 가변되는 것을 특징으로 하는 전자파 측정 장치
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제18 항에 있어서,상기 광 서큘레이터와 상기 광 검출기 사이에 배치되어 상기 세기 변조된 광을 입력으로 제공받아 2 개의 출력으로 분기하는 편광 유지 광섬유 결합기; 상기 편광 유지 광섬유 결합기의 일 출력이 연결된 보조 광 검출기; 및상기 레이저 광원을 제어하고 상기 스펙트럼 분석기 및 상기 보조 광 검출기의 신호를 처리하는 제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자파 측정 장치
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