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얽힌 광자 쌍의 시그널 모드와 아이들러 모드를 방출하는 광원; 상기 시그널 모드가 피사체와 상호작용한 빛의 광량 및 측정 기저를 측정하는 제1 광자 측정 모듈;상기 아이들러 모드가 상기 피사체와 상호작용 없이 입사되는 빛의 광량 및 측정 기저를 측정하는 제2 광자 측정 모듈; 및상기 제1 광자 측정 모듈 및 상기 제2 광자 측정 모듈에 의해 측정되는 측정값으로부터 이미지를 획득하고 양자 보안을 확인하는 신호 처리부를 포함하고,상기 신호 처리부는 상기 얽힌 광자 쌍의 시간 상관관계와 편광 상관관계를 동시에 측정하고, 상기 얽힌 광자 쌍의 시간 상관관계를 이용하여 상기 이미지를 획득하고, 상기 얽힌 광자 쌍의 편광 상관관계를 이용하여 상기 양자 보안을 확인하는 양자 보안을 적용한 단 픽셀 이미징 장치
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제1 항에 있어서,상기 제1 광자 측정 모듈은,측정 기저 변환을 위하여 상기 시그널 모드를 변조하는 측정 기저 선택부;상기 측정 기저 선택부에 의해 측정값을 갖는 빛을 공간적으로 분리하는 측정값 분리부;상기 측정값 분리부에 의해 분리되어 제1 측정값을 갖는 광자의 광량을 측정하는 제1 광자 수 측정기; 및상기 측정값 분리부에 의해 분리되어 제2 측정값을 갖는 광자의 광량을 측정하는 제2 광자 수 측정기를 포함하는 양자 보안을 적용한 단 픽셀 이미징 장치
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제2 항에 있어서,상기 제1 광자 수 측정기 및 상기 제2 광자 수 측정기는 단 픽셀 검출기인 양자 보안을 적용한 단 픽셀 이미징 장치
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제1 항에 있어서,상기 제2 광자 측정 모듈은,측정 기저 변환을 위하여 상기 아이들러 모드를 변조하는 측정 기저 선택부;상기 측정 기저 선택부에 의해 측정값을 갖는 빛을 공간적으로 분리하는 측정값 분리부;상기 측정값 분리부에 의해 분리되어 제3 측정값을 갖는 광자의 광량을 측정하는 제3 광자 수 측정기; 및상기 측정값 분리부에 의해 분리되어 제4 측정값을 갖는 광자의 광량을 측정하는 제4 광자 수 측정기를 포함하는 양자 보안을 적용한 단 픽셀 이미징 장치
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제4 항에 있어서,상기 제3 광자 수 측정기 및 상기 제4 광자 수 측정기는 단 픽셀 검출기인 양자 보안을 적용한 단 픽셀 이미징 장치
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6
제1 항에 있어서,상기 신호 처리부는 상기 제1 광자 측정 모듈 및 상기 제2 광자 측정 모듈에 대하여 동시 측정 또는 특정 시간차 측정으로 얻어지는 측정 결과의 x-y 좌표에 대한 결과값을 구하여 전체 이미지를 구성하는 양자 보안을 적용한 단 픽셀 이미징 장치
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7
제1 항에 있어서,상기 측정 기저는 편광을 포함하고,상기 제1 광자 측정 모듈과 상기 제2 광자 측정 모듈은 편광계를 무작위로 선택하는 양자 보안을 적용한 단 픽셀 이미징 장치
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8
제7 항에 있어서,상기 제1 광자 측정 모듈과 상기 제2 광자 측정 모듈 각각이 선택한 편광계는 통신을 통해 공유되고, 측정 기저가 동일한 시행에 대한 편광 측정 결과를 공개하여 양자 보안이 확인되는 양자 보안을 적용한 단 픽셀 이미징 장치
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9
제1 항에 있어서,상기 제1 광자 측정 모듈은,상기 시그널 모드를 분리하는 빔가르개; 상기 빔가르개를 통해 입사되는 입사광을 그대로 출력하는 제1 측정 기저 구현부;상기 빔가르개를 통해 입사되는 입사광의 편광을 45도 변조하여 출력하는 제2 측정 기저 구현부;상기 제1 측정 기저 구현부를 통해 입사되는 입사광을 제1 편광과 제2 편광으로 분리하는 제1 측정값 분리부;상기 제2 측정 기저 구현부를 통해 입사되는 입사광을 제3 편광과 제4 편광으로 분리하는 제2 측정값 분리부; 상기 제1 편광의 광량을 측정하는 제1 광자 수 측정기;상기 제2 편광의 광량을 측정하는 제2 광자 수 측정기;상기 제3 편광의 광량을 측정하는 제3 광자 수 측정기; 및상기 제4 편광의 광량을 측정하는 제4 광자 수 측정기를 포함하는 양자 보안을 적용한 단 픽셀 이미징 장치
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10
제1 항에 있어서,상기 제2 광자 측정 모듈은,상기 아이들러 모드를 분리하는 빔가르개; 상기 빔가르개를 통해 입사되는 입사광을 그대로 출력하는 제1 측정 기저 구현부;상기 빔가르개를 통해 입사되는 입사광의 편광을 45도 변조하여 출력하는 제2 측정 기저 구현부;상기 제1 측정 기저 구현부를 통해 입사되는 입사광을 제5 편광과 제6 편광으로 분리하는 제1 측정값 분리부;상기 제2 측정 기저 구현부를 통해 입사되는 입사광을 제7 편광과 제8 편광으로 분리하는 제2 측정값 분리부; 상기 제5 편광의 광량을 측정하는 제5 광자 수 측정기;상기 제6 편광의 광량을 측정하는 제6 광자 수 측정기;상기 제7 편광의 광량을 측정하는 제7 광자 수 측정기; 및상기 제8 편광의 광량을 측정하는 제8 광자 수 측정기를 포함하는 양자 보안을 적용한 단 픽셀 이미징 장치
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11
측정 기저 변환을 위하여 시그널 모드를 변조하는 측정 기저 선택부;상기 측정 기저 선택부에 의해 측정값을 갖는 빛을 공간적으로 분리하는 측정값 분리부;상기 측정값 분리부에 의해 분리되어 제1 측정값을 갖는 광자의 광량을 측정하는 제1 광자 수 측정기;상기 측정값 분리부에 의해 분리되어 제2 측정값을 갖는 광자의 광량을 측정하는 제2 광자 수 측정기; 및아이들러 모드에 대한 측정값과 상기 제1 측정값 및 상기 제2 측정값으로부터 이미지를 획득하고 양자 보안을 확인하는 신호 처리부를 포함하고,상기 신호 처리부는 얽힌 광자 쌍의 시간 상관관계와 편광 상관관계를 동시에 측정하고, 상기 얽힌 광자 쌍의 시간 상관관계를 이용하여 상기 이미지를 획득하고, 상기 얽힌 광자 쌍의 편광 상관관계를 이용하여 상기 양자 보안을 확인하는 양자 보안을 적용한 단 픽셀 이미징 장치
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제11 항에 있어서,상기 신호 처리부는 상기 아이들러 모드에 대한 측정값과 상기 제1 측정값 및 상기 제2 측정값에 대하여 동시 측정 또는 특정 시간차 측정으로 얻어지는 측정 결과의 x-y 좌표에 대한 결과값을 구하여 전체 이미지를 구성하는 양자 보안을 적용한 단 픽셀 이미징 장치
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13
제11 항에 있어서,상기 측정 기저 선택부는 편광계를 무작위로 선택하고,상기 시그널 모드에 대해 선택된 편광계와 상기 아이들러 모드에 대해 선택된 편광계는 통신을 통해 공유되고, 측정 기저가 동일한 시행에 대한 편광 측정 결과를 공개하여 양자 보안이 확인되는 양자 보안을 적용한 단 픽셀 이미징 장치
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시그널 모드를 분리하는 빔가르개; 상기 빔가르개를 통해 입사되는 입사광에 측정 기저를 적용하는 제1 측정 기저 구현부;상기 빔가르개를 통해 입사되는 입사광에 측정 기저를 적용하는 제2 측정 기저 구현부;상기 제1 측정 기저 구현부를 통해 입사되는 입사광을 제1 측정값을 갖는 제1 편광과 제2 측정값을 갖는 제2 편광으로 분리하는 제1 측정값 분리부;상기 제2 측정 기저 구현부를 통해 입사되는 입사광을 제3 측정값을 갖는 제3 편광과 제4 측정값을 갖는 제4 편광으로 분리하는 제2 측정값 분리부; 상기 제1 편광의 광량을 측정하는 제1 광자 수 측정기;상기 제2 편광의 광량을 측정하는 제2 광자 수 측정기;상기 제3 편광의 광량을 측정하는 제3 광자 수 측정기;상기 제4 편광의 광량을 측정하는 제4 광자 수 측정기; 및아이들러 모드에 대한 측정값과 상기 제1 측정값, 상기 제2 측정값, 상기 제3 측정값 및 상기 제4 측정값으로부터 이미지를 획득하고 양자 보안을 확인하는 신호 처리부를 포함하고,상기 신호 처리부는 얽힌 광자 쌍의 시간 상관관계와 편광 상관관계를 동시에 측정하고, 상기 얽힌 광자 쌍의 시간 상관관계를 이용하여 상기 이미지를 획득하고, 상기 얽힌 광자 쌍의 편광 상관관계를 이용하여 상기 양자 보안을 확인하는 양자 보안을 적용한 단 픽셀 이미징 장치
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제14 항에 있어서,상기 신호 처리부는 상기 아이들러 모드에 대한 측정값과 상기 제1 측정값, 상기 제2 측정값, 상기 제3 측정값 및 상기 제4 측정값에 대하여 동시 측정 또는 특정 시간차 측정으로 얻어지는 측정 결과의 x-y 좌표에 대한 결과값을 구하여 전체 이미지를 구성하는 양자 보안을 적용한 단 픽셀 이미징 장치
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제14 항에 있어서,상기 제1 측정 기저 구현부는 상기 빔가르개를 통해 입사되는 입사광을 그대로 출력하고, 상기 제2 측정 기저 구현부는 상기 빔가르개를 통해 입사되는 입사광의 편광을 45도 변조하여 출력하는 양자 보안을 적용한 단 픽셀 이미징 장치
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