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단일 레이저를 사용하는 흡수분광법에 의한 흡수선 측정 방법 및 흡수선 측정 시스템

  • 기술번호 : KST2022004253
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 파장 가변 레이저, 제1 함수 발생기에 의해 생성되는 전류 인가 신호에 따라 상기 파장 가변 레이저에 인가되는 전류를 제어하는 레이저 전류 제어기, 제2 함수 발생기에 의해 생성되는 온도 조절 신호에 따라 상기 파장 가변 레이저의 온도를 제어하는 레이저 온도 제어기 및 측정 대상 기체를 통과한 상기 파장 가변 레이저의 광량을 측정하는 광센서를 포함하는 단일 레이저를 사용하는 흡수분광법에 의한 흡수선 측정 시스템으로서, 본 발명에 의하면, 파장 가변 다이오드 레이저를 사용하는 흡수 분광법을 사용할 때, 광학적 및 기계적 복잡성을 증가시키는 다중 레이저를 사용하지 않고 단일 레이저만 사용하여, 레이저의 온도와 전류를 동시에 제어하여 서로 떨어진 흡수선들을 측정 가능하다.
Int. CL G01J 3/42 (2006.01.01)
CPC G01J 3/42(2013.01) G01N 21/31(2013.01) G01N 21/39(2013.01) G01J 2003/421(2013.01) G01J 2003/423(2013.01) G01N 2021/3125(2013.01)
출원번호/일자 1020200123209 (2020.09.23)
출원인 국방과학연구소
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0040250 (2022.03.30) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2020.09.23)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박기수 대전광역시 유성구
2 심한슬 대전광역시 유성구
3 김경록 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 (유)한양특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2020.09.23 수리 (Accepted) 1-1-2020-1013928-55
2 [우선심사신청]심사청구서·우선심사신청서
2020.09.23 수리 (Accepted) 1-1-2020-1014171-78
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2021.07.16 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
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번호 청구항
1 1
파장 가변 레이저;제1 함수 발생기에 의해 생성되는 전류 인가 신호에 따라 상기 파장 가변 레이저에 인가되는 전류를 제어하는 레이저 전류 제어기;제2 함수 발생기에 의해 생성되는 온도 조절 신호에 따라 상기 파장 가변 레이저의 온도를 제어하는 레이저 온도 제어기; 및측정 대상 기체를 통과한 상기 파장 가변 레이저의 광량을 측정하는 광센서를 포함하는,단일 레이저를 사용하는 흡수분광법에 의한 흡수선 측정 시스템
2 2
청구항 1에 있어서,상기 전류 인가 신호 또는 상기 온도 조절 신호 중 하나는 경사 파형(ramp waveform)을 가지는 것을 특징으로 하는,단일 레이저를 사용하는 흡수분광법에 의한 흡수선 측정 시스템
3 3
청구항 2에 있어서,상기 전류 인가 신호 또는 상기 온도 조절 신호 중 나머지 하나는 듀티(duty) 파형, 사다리꼴 파형 및 계단 파형 중 하나의 파형을 가지는 것을 특징으로 하는,단일 레이저를 사용하는 흡수분광법에 의한 흡수선 측정 시스템
4 4
청구항 3에 있어서,상기 전류 인가 신호 및 상기 온도 조절 신호의 주기는 동일한 것을 특징으로 하는,단일 레이저를 사용하는 흡수분광법에 의한 흡수선 측정 시스템
5 5
청구항 3에 있어서,상기 광센서에 수신되는 상기 파형 가변 레이저의 파형은 경사진 계단 파형(ramped step waveform)인 것을 특징으로 하는,단일 레이저를 사용하는 흡수분광법에 의한 흡수선 측정 시스템
6 6
청구항 3에 있어서,상기 측정 대상 기체는 2 이상의 화학종이 포함된 기체인 것을 특징으로 하는,단일 레이저를 사용하는 흡수분광법에 의한 흡수선 측정 시스템
7 7
청구항 6에 있어서,상기 광센서에서 측정되는 신호는 상기 온도 조절 신호의 조절에 의해 상기 화학종 별로 흡수선 측정이 가능한 것을 특징으로 하는,단일 레이저를 사용하는 흡수분광법에 의한 흡수선 측정 시스템
8 8
제1 함수 발생기에 의해 전류 인가 신호를 생성하는 단계;제2 함수 발생기에 의해 온도 조절 신호를 생성하는 단계;상기 전류 인가 신호에 따라 파장 가변 레이저에 인가되는 전류를 제어하는 단계;상기 온도 조절 신호에 따라 상기 파장 가변 레이저의 온도를 제어하는 단계; 및측정 대상 기체를 통과한 상기 파장 가변 레이저의 광량을 측정하는 단계를 포함하는,단일 레이저를 사용하는 흡수분광법에 의한 흡수선 측정 방법
9 9
청구항 8에 있어서,상기 전류 인가 신호를 생성하는 단계 및 상기 온도 조절 신호를 생성하는 단계에서, 상기 전류 인가 신호 및 상기 온도 조절 신호 중 어느 하나는 경사 파형으로 생성하는 것을 특징으로 하는,단일 레이저를 사용하는 흡수분광법에 의한 흡수선 측정 방법
10 10
청구항 9에 있어서,상기 전류 인가 신호를 생성하는 단계 및 상기 온도 조절 신호를 생성하는 단계에서, 상기 전류 인가 신호 및 상기 온도 조절 신호 중 나머지 하나는 듀티(duty) 파형, 사다리꼴 파형 및 계단 파형 중 하나의 파형으로 생성하는 것을 특징으로 하는,단일 레이저를 사용하는 흡수분광법에 의한 흡수선 측정 방법
11 11
청구항 10에 있어서,상기 전류 인가 신호를 생성하는 단계 및 상기 온도 조절 신호를 생성하는 단계에서, 상기 전류 인가 신호 및 상기 온도 조절 신호의 주기는 동일하게 생성하는 것을 특징으로 하는,단일 레이저를 사용하는 흡수분광법에 의한 흡수선 측정 방법
12 12
청구항 10에 있어서,상기 측정 대상 기체는 2 이상의 화학종이 포함된 기체인 것을 특징으로 하는,단일 레이저를 사용하는 흡수분광법에 의한 흡수선 측정 방법
13 13
청구항 12에 있어서,상기 파장 가변 레이저의 광량을 측정하는 단계에서 측정되는 신호는 상기 온도 조절 신호의 조절에 의해 상기 화학종 별로 흡수선 측정이 가능한 것을 특징으로 하는,단일 레이저를 사용하는 흡수분광법에 의한 흡수선 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
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