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아크 플래시 검출 장치 및 판정 방법

  • 기술번호 : KST2022004268
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일 실시예에 따른 아크 플래시 검출 장치는, 필터 수단을 구비하며 아크 검출을 위해 연속적으로 광 강도를 센싱하는 광센서 모듈; 및 상기 광센서 모듈의 센싱값을 입력받아 아크를 확인하는 아크 확인부와, 연속적으로 확인된 아크를 백분율을 적용하여 분석하는 아크 분석부를 구비하는 검출/분석 모듈을 포함할 수 있다.
Int. CL G01R 31/12 (2006.01.01) G01R 31/14 (2006.01.01) G01R 19/165 (2006.01.01) G01R 23/17 (2006.01.01) G01R 23/165 (2006.01.01)
CPC G01R 31/1218(2013.01) G01R 31/14(2013.01) G01R 19/16566(2013.01) G01R 23/17(2013.01) G01R 23/165(2013.01)
출원번호/일자 1020200132999 (2020.10.14)
출원인 한국전력공사, 한밭대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0049405 (2022.04.21) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전력공사 대한민국 전라남도 나주시
2 한밭대학교 산학협력단 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박영 대전광역시 서구
2 최균석 서울특별시 양천구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 정안 대한민국 서울특별시 강남구 선릉로 ***, ***호(논현동,썬라이더빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2020.10.14 수리 (Accepted) 1-1-2020-1087072-45
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
필터 수단을 구비하며 아크 검출을 위해 연속적으로 광 강도를 센싱하는 광센서 모듈; 및 상기 광센서 모듈의 센싱값을 입력받아 아크를 확인하는 아크 확인부와, 연속적으로 확인된 아크를 백분율을 적용하여 분석하는 아크 분석부를 구비하는 검출/분석 모듈을 포함하는 아크 플래시 검출 장치
2 2
제1항에 있어서,아크 검출 대상 사이트의 전류를 센싱하는 전류 센싱 모듈을 더 포함하는 아크 플래시 검출 장치
3 3
제2항에 있어서, 상기 아크 확인부는, 상기 전류 센싱 모듈부에서 측정한 전류값이 소정의 기준 전류값을 넘지 않으면, 아크 발생을 확인하는 작업을 정지하는 아크 플래시 검출 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 광센서 모듈은, 수광 소자로서 PMT 센서; 대역 통과 필터; 및 상기 대역 통과 필터를 통과한 빛을 설정된 수준으로 줄여주는 ND 필터를 포함하는 아크 플래시 검출 장치
5 5
제4항에 있어서,상기 대역 통과 필터는, 340 ~ 300nm 중 어느 한 값 이상의 파장을 가지는 광을 차단하고, 240 ~ 200nm 중 어느 한 값의 파장을 가지는 광은 통과시키는 아크 플래시 검출 장치
6 6
제1항에 있어서,상기 아크 분석부는,광센서 모듈의 센싱값 변동에 대하여 아크 여부를 판정하는 단계; 아크로 판정된 시간을 총 아크발생시간으로 합산하는 단계; 및 상기 광센서 모듈의 총 검출시간에서 합산된 상기 아크발생시간의 비율로 아크 검출율을 산출하는 단계를 포함하는 아크 플래시 판정 방법을 수행하는 아크 플래시 검출 장치
7 7
제6항에 있어서,상기 아크 검출율을 산출하는 단계에서는, 하기 수학식에 따라 검출율을 산출하는 아크 플래시 검출 장치
8 8
광센서 모듈의 센싱값 변동에 대하여 아크 여부를 판정하는 단계; 아크로 판정된 시간을 총 아크발생시간으로 합산하는 단계; 및 상기 광센서 모듈의 총 검출시간에서 합산된 상기 아크발생시간의 비율로 아크 검출율을 산출하는 단계를 포함하는 아크 플래시 판정 방법
9 9
제8항에 있어서,상기 아크 검출율을 산출하는 단계 이후,산출된 상기 아크 검출율이 기준 비율을 넘으면 전기 결함으로 판정하는 단계를 더 포함하는 아크 플래시 판정 방법
10 10
제8항에 있어서,상기 아크 검출율을 산출하는 단계에서는, 하기 수학식에 따라 검출율을 산출하는 아크 플래시 판정 방법
11 11
제8항에 있어서,상기 아크 여부를 판정하는 단계는, 셈플링 시간 보다 작은 간격의 변동들은 하나의 변동으로 판정하는 단계; 및 최소검출시간보다 긴 변동을 아크로 판정하는 단계를 포함하는 아크 플래시 판정 방법
12 12
제8항에 있어서,측정된 전류값이 기준 전류값보다 작은지 확인하는 단계; 및 상기 기준 전류값보다 작으면, 아크 판정을 수행하지 않고, 상기 총 검출시간에서 제외하는 단계를 더 포함하는 아크 플래시 판정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.