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프로세서가 부팅되지 않도록 리셋 상태를 유지시키고, 상기 프로세서와 부트 메모리 사이의 연결을 차단하는 단계;상기 부트 메모리에 저장된 첫 번째 부트 펌웨어에 대한 무결성 검증을 수행하는 단계;하드웨어 훼손 감지 여부를 판단하는 단계; 및상기 무결성 검증 및 하드웨어 훼손 감지 여부를 고려하여 상기 프로세서가 부팅할 수 있도록 리셋 및 차단을 해제하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 시큐어 부팅 방법
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청구항 1에 있어서,상기 차단하는 단계는부트 메모리 버스의 경로를 상기 프로세서에서 상기 무결성 검증을 수행하는 RoT(Root of Trust) 모듈로 절체(switchover)시키는 것을 특징으로 하는 시큐어 부팅 방법
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청구항 2에 있어서,상기 차단하는 단계는상기 프로세서를 하드웨어적으로 리셋 시키는 리셋 제어 신호를 생성하고, 상기 리셋 제어 신호를 상기 프로세서로 전달하는 것을 특징으로 하는 시큐어 부팅 방법
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청구항 1에 있어서,상기 차단하는 단계는상기 프로세서가 상기 첫 번째 부트 펌웨어를 부팅시키지 못하도록 전원이 인가되는 시점에 수행되는 것을 특징으로 하는 시큐어 부팅 방법
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청구항 1에 있어서,상기 해제하는 단계는상기 하드웨어 훼손 감지 여부에 따라 하드웨어가 훼손되지 않은 상태에서 상기 무결성 검증이 성공한 경우에 수행되는 것을 특징으로 하는 시큐어 부팅 방법
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청구항 3에 있어서,상기 해제하는 단계는상기 프로세서의 리셋 상태를 해제하고, 상기 부트 메모리 버스의 경로를 상기 RoT 모듈에서 상기 프로세서로 절체시키는 것을 특징으로 하는 시큐어 부팅 방법
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청구항 2에 있어서,상기 무결성 검증을 수행하는 단계는상기 RoT 모듈로부터 무결성 검증 결과에 상응하는 난수열을 수신하는 단계;상기 난수열이 검증용 난수열과 일치하는 경우에 상기 무결성 검증이 성공한 것으로 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 시큐어 부팅 방법
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청구항 7에 있어서,상기 RoT 모듈은상기 무결성 검증이 성공한 경우에 상기 검증용 난수열과 동일한 난수열을 생성하여 제공하고, 상기 무결성 검증이 실패한 경우에 상기 검증용 난수열과 동일하지 않은 랜덤 난수열을 생성하여 제공하는 것을 특징으로 하는 시큐어 부팅 방법
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청구항 7에 있어서,상기 검증용 난수열은 상기 하드웨어 훼손 감지 여부를 판단하기 위한 하드웨어 훼손감지 신호를 제공하는 하드웨어 훼손감지 모듈에 저장되되, 상기 하드웨어 훼손감지 신호에 의해 하드웨어가 훼손된 것으로 판단되는 경우에 초기화되는 것을 특징으로 하는 시큐어 부팅 방법
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청구항 2에 있어서,상기 RoT 모듈은디지털 서명검증 알고리즘을 기반으로 데이터의 수정 및 삭제가 불가능한 내부 OTP 메모리에 저장된 디지털 서명검증용 공개키, 첫 번째 부트 메모리로부터 획득한 서명 값 및 첫 번째 부트 펌웨어 이미지를 이용하여 상기 무결성 검증을 수행하는 것을 특징으로 하는 시큐어 부팅 방법
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청구항 2에 있어서,상기 RoT 모듈은자체 시큐어 부팅 메커니즘을 기반으로 시큐어 부팅되고, 하드웨어적으로 고정된 비휘발성 메모리에 무결성 검사 코드를 포함하는 것을 특징으로 하는 시큐어 부팅 방법
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경로 절체기; 및임베디드 장치의 프로세서가 부팅되지 않도록 리셋 상태를 유지시키고, 상기 경로 절체기를 제어하여 상기 프로세서와 부트 메모리 사이의 연결을 차단하고, 상기 부트 메모리에 저장된 첫 번째 부트 펌웨어에 대한 무결성 검증을 수행하고, 하드웨어 훼손 감지 여부를 판단하고, 상기 무결성 검증 및 하드웨어 훼손 감지 여부를 고려하여 상기 프로세서가 부팅할 수 있도록 리셋 및 차단을 해제하는 제어 로직을 포함하는 것을 특징으로 하는 부팅 제어 회로
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청구항 12에 있어서,상기 경로 절체기는상기 프로세서와 부트 메모리 사이의 연결을 차단하는 경우, 부트 메모리 버스의 경로를 상기 프로세서에서 상기 무결성 검증을 수행하는 RoT(Root of Trust) 모듈로 절체시키는 것을 특징으로 하는 부팅 제어 회로
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청구항 13에 있어서,상기 제어 로직은상기 프로세서를 하드웨어적으로 리셋 시키는 리셋 제어 신호를 생성하고, 상기 리셋 제어 신호를 상기 프로세서로 전달하는 것을 특징으로 하는 부팅 제어 회로
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청구항 12에 있어서,상기 제어 로직은상기 프로세서가 상기 첫 번째 부트 펌웨어를 부팅시키지 못하도록 전원이 인가되는 시점에 동작하는 것을 특징으로 하는 부팅 제어 회로
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청구항 12에 있어서,상기 제어 로직은상기 하드웨어 훼손 감지 여부에 따라 하드웨어가 훼손되지 않은 상태에서 상기 무결성 검증이 성공한 경우에 상기 리셋 및 차단을 해제하는 것을 특징으로 하는 부팅 제어 회로
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청구항 14에 있어서,상기 리셋 및 차단을 해제하는 경우, 상기 제어 로직을 기반으로 상기 프로세서의 리셋 상태를 해제하고, 상기 경로 절체기를 기반으로 상기 부트 메모리 버스의 경로를 상기 RoT 모듈에서 상기 프로세서로 절체시키는 것을 특징으로 하는 부팅 제어 회로
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청구항 13에 있어서,상기 제어 로직은상기 RoT 모듈로부터 무결성 검증 결과에 상응하는 난수열을 수신하고, 상기 난수열이 검증용 난수열과 일치하는 경우에 상기 무결성 검증이 성공한 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 부팅 제어 회로
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청구항 18에 있어서,상기 RoT 모듈은상기 무결성 검증이 성공한 경우에 상기 검증용 난수열과 동일한 난수열을 생성하여 제공하고, 상기 무결성 검증이 실패한 경우에 상기 검증용 난수열과 동일하지 않은 랜덤 난수열을 생성하여 제공하는 것을 특징으로 하는 부팅 제어 회로
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청구항 18에 있어서,상기 검증용 난수열은 상기 하드웨어 훼손 감지 여부를 판단하기 위한 하드웨어 훼손감지 신호를 제공하는 하드웨어 훼손감지 모듈에 저장되되, 상기 하드웨어 훼손감지 신호에 의해 하드웨어가 훼손된 것으로 판단되는 경우에 초기화되는 것을 특징으로 하는 부팅 제어 회로
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