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미세 입자의 정성 및 정량 분석 장치

  • 기술번호 : KST2022004697
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은, 시료관을 통해 유동하는 시료 유체에 광을 출사하는 광원과, 시료 유체에 포함된 미세 입자를 투과하거나 미세 입자에 반사된 광을 집속하는 제1 렌즈와, 제1 렌즈에 의해 집속된 광을 통과시키는 슬릿과, 슬릿을 통과한 광을 분산시키는 분산 소자와, 분산 소자에 의해 분산된 광을 결상하여 분광 스펙트럼을 생성하는 제1 카메라와, 미세 입자에 산란 또는 반사된 광을 집속하는 제2 렌즈와, 제2 렌즈에 의해 집속된 광을 결상하여 미세 입자의 유동 단면 영상을 생성하는 제2 카메라와, 분광 스펙트럼을 이용하여 미세 입자의 정성 분석을 수행하고, 유동 단면 영상을 이용하여 미세 입자의 정량 분석을 수행하는 분석부를 포함하는 미세 입자의 정성 및 정량 분석 장치를 제공한다.
Int. CL G01N 15/02 (2006.01.01) G01J 3/02 (2006.01.01) G01J 3/18 (2006.01.01) G01J 3/12 (2006.01.01)
CPC G01N 15/0205(2013.01) G01N 15/0272(2013.01) G01J 3/024(2013.01) G01J 3/18(2013.01) G01N 2015/0222(2013.01) G01N 2015/0277(2013.01) G01J 2003/1208(2013.01)
출원번호/일자 1020200139543 (2020.10.26)
출원인 한국생산기술연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0055263 (2022.05.03) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2020.10.26)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국생산기술연구원 대한민국 충청남도 천안시 서북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이호재 광주광역시 광산구
2 이상선 전라남도 목포시 연산백련로*번길 **

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인이룸리온 대한민국 서울특별시 서초구 사평대로 ***, *층 (반포동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2020.10.26 수리 (Accepted) 1-1-2020-1135645-67
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2021.08.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2021.11.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2022-0034855-17
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2022.02.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2022-0161810-41
5 [지정기간연장]기간 연장신청서·기간 단축신청서·기간 경과 구제신청서·절차 계속신청서
2022.05.02 접수중 (On receiving) 1-1-2022-0467907-12
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번호 청구항
1 1
시료관을 통해 유동하는 시료 유체에 광을 출사하는 광원;상기 시료 유체에 포함된 미세 입자를 투과하거나 상기 미세 입자에 반사된 광을 집속하는 제1 렌즈;상기 제1 렌즈에 의해 집속된 광을 통과시키는 슬릿;상기 슬릿을 통과한 광을 분산시키는 분산 소자;상기 분산 소자에 의해 분산된 광을 결상하여 분광 스펙트럼을 생성하는 제1 카메라;상기 미세 입자에 의하여 산란 또는 반사된 광을 집속하는 제2 렌즈;상기 제2 렌즈에 의해 집속된 광을 결상하여 상기 미세 입자의 유동 단면 영상을 생성하는 제2 카메라; 및상기 분광 스펙트럼을 이용하여 상기 미세 입자의 정성 분석을 수행하고, 상기 유동 단면 영상을 이용하여 상기 미세 입자의 정량 분석을 수행하는 분석부를 포함하는 미세 입자의 정성 및 정량 분석 장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 정량 분석은 상기 미세 입자의 개수 및 크기 분석을 포함하고, 상기 정성 분석은 상기 미세 입자의 성분 및 색상 분석을 포함하는미세 입자의 정성 및 정량 분석 장치
3 3
제 1 항에 있어서,상기 시료 유체는 액체 또는 기체이고, 상기 미세 입자는 미세 플라스틱 또는 미세 먼지인미세 입자의 정성 및 정량 분석 장치
4 4
제 1 항에 있어서,복수의 미세 입자에 대한 성분 별 분광 스펙트럼을 저장하는 저장부를 더 포함하는 미세 입자의 정성 및 정량 분석 장치
5 5
제 4 항에 있어서,상기 분석부는상기 분광 스펙트럼을 상기 저장부에 저장된 상기 성분 별 분광 스펙트럼과 매칭하여 상기 미세 입자의 성분을 결정하는미세 입자의 정성 및 정량 분석 장치
6 6
제 1 항에 있어서,상기 시료관은 상기 미세 입자를 검출하기 위한 투명한 투과 튜브를 포함하는미세 입자의 정성 및 정량 분석 장치
7 7
제 1 항에 있어서,상기 시료관은 희박한 농도의 미세 입자를 농축시키는 다단 오리피스;상기 다단 오리피스를 통과한 상기 시료 유체 중에서 상기 미세 입자만 통과시키는 수직 트랩을 포함하는미세 입자의 정성 및 정량 분석 장치
8 8
제 7 항에 있어서,상기 분석부는 상기 수직 트랩을 통과한 상기 시료 유체를 분석하는미세 입자의 정성 및 정량 분석 장치
9 9
제 1 항에 있어서,상기 분산 소자는회절 격자 또는 프리즘인미세 입자의 정성 및 정량 분석 장치
10 10
제 1 항에 있어서,상기 제1 카메라는상기 미세 입자가 유동함에 따라 상기 미세 입자의 면적 스캔 기능을 수행하는미세 입자의 정성 및 정량 분석 장치
11 11
제 1 항에 있어서,상기 시료관은사각관 형태로 이루어지는미세 입자의 정성 및 정량 분석 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.