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인시츄 전기화학 셀에 연결되고, 상기 인시츄 전기화학 셀의 전압, 전류 및 시간을 조절하거나, 상기 인시츄 전기화학 셀의 전압, 전류, 저항, 용량 및 시간 정보를 기록하도록 구성되는 일정 전위기(potentiostat);상기 인시츄 전기화학 셀의 X선 회절 정보를 얻도록 구성되는 X선 분석 장치;펠티어 타입 온도 조절 유닛으로서, 상기 인시츄 전기화학 셀을 그 상부에 장착할 수 있는 베이스 플레이트와, 상기 인시츄 전기화학 셀을 커버하고 X선이 상기 인시츄 전기화학 셀을 투과하여 통과할 수 있는 한 쌍의 개구부를 갖는 캡부와, 상기 베이스 플레이트를 가열 또는 냉각시키기 위한 온도 조절부와, 상기 베이스 플레이트의 하부에 냉각수를 공급할 수 있는 유체 공급 라인을 포함하는, 상기 펠티어 타입 온도 조절 유닛; 및상기 일정 전위기, 상기 X선 분석 장치, 및 상기 온도 조절 유닛에 연결되어, 상기 일정 전위기, 상기 X선 분석 장치, 및 상기 온도 조절 유닛 각각으로부터 신호를 제공하거나 제공받도록 구성되는 컨트롤러;를 포함하는 인시츄 X선 분석장치
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제1항에 있어서,상기 온도 조절부는 펠티어 타입 열전 소자를 포함하고,상기 펠티어 타입 온도 조절 유닛은 -10℃ 내지 80℃의 가변적인 온도 구간에서 상기 인시츄 전기화학 셀의 온도를 유지할 수 있도록 구성되는 것을 특징으로 하는 인시츄 X선 분석 장치
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제1항에 있어서,상기 인시츄 전기화학셀은,상기 X선 분석 장치로부터 조사되는 X선이 상기 인시츄 전기화학 셀 내부로 투과될 수 있는 복수의 홀들을 구비하는 셀 케이스,상기 셀 케이스 내에 구비되는 양극 전극,상기 셀 케이스 내에 구비되는 음극 전극,상기 양극 전극 및 상기 음극 전극 사이에 개재되는 분리막, 및상기 양극 전극, 상기 음극 전극, 및 상기 분리막의 적어도 표면 상에 적셔진 전해액을 포함하는 것을 특징으로 하는 인시츄 X선 분석장치
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제1항에 있어서,상기 펠티어 타입 온도 조절 유닛은,상기 캡부의 상기 한 쌍의 개구부 상에 부착되어 상기 인시츄 전기화학 셀이 밀폐된 환경 내에서 유지되는 동안 X선이 통과할 수 있는 커버 필름을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 인시츄 X선 분석 장치
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제4항에 있어서,상기 커버 필름은 투명하고 X선을 흡수하지 않는 폴리머 물질로 형성된 것을 특징으로 하는 인시츄 X선 분석 장치
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제1항에 있어서,상기 일정 전위기는 상기 인시츄 전기화학 셀의 용량, 전압, 전류, 및 시간에 대한 정보를 상기 컨트롤러에 제공하도록 구성되고,상기 컨트롤러는 상기 일정 전위기에 의해 제공되는 상기 정보에 기초한 신호에 응답하여, 상기 X선 분석 장치가 상기 인시츄 전기화학 셀에 X선을 조사하도록 명령 신호를 제공하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 인시츄 X선 분석 장치
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제6항에 있어서,상기 컨트롤러는 상기 인시츄 전기화학 셀의 용량, 전압, 전류, 및 시간에 대한 정보에 기초하여 각각의 상태에서의 과전압(overpotential) 정보를 도출하도록 구성되며,상기 컨트롤러는 상기 과전압 정보에 따라 상기 X선 분석 장치에 명령 신호가 제공되는 지연 시간(delay time)을 결정하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 인시츄 X선 분석 장치
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제7항에 있어서,상기 지연 시간은 각각의 상태에서의 상기 과전압 정보가 임계 과전압보다 낮아질 때까지의 시간으로 결정되는 것을 특징으로 하는 인시츄 X선 분석 장치
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제6항에 있어서,상기 컨트롤러는 상기 인시츄 전기화학 셀의 용량, 전압, 전류, 및 시간에 대한 정보에 기초하여 각각의 상태에서의 확산도(diffusivity) 정보를 도출하도록 구성되며,상기 컨트롤러는 상기 확산도 정보에 따라 상기 X선 분석 장치에 명령 신호가 제공되는 지연 시간(delay time)을 결정하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 인시츄 X선 분석 장치
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제9항에 있어서,상기 지연 시간은 각각의 상태에서의 상기 확산도 정보가 임계 확산도보다 낮아질 때까지의 시간으로 결정되는 것을 특징으로 하는 인시츄 X선 분석 장치
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인시츄 전기화학 셀을 펠티어 타입 온도 조절 유닛 내에 장착하되, 상기 펠티어 타입 온도 조절 유닛은 컨트롤러에 연결되어 -10℃ 내지 80℃의 가변적인 온도 구간에서 작동 가능한, 인시츄 전기화학 셀을 펠티어 타입 온도 조절 유닛 내에 장착하는 단계; 및상기 인시츄 전기화학 셀에 복수의 인시츄 X선 분석 사이클들을 수행하는 단계로서,상기 복수의 인시츄 X선 분석 사이클들 각각은:인시츄 전기화학 셀에 연결된 일정 전위기에 의해 상기 인시츄 전기화학 셀의 용량, 전압, 전류, 및 시간에 대한 정보를 얻는 단계;상기 일정 전위기로부터 상기 인시츄 전기화학 용량, 전압, 전류, 및 시간에 대한 상기 정보를 상기 컨트롤러로 제공하는 단계;상기 컨트롤러에 의해 용량, 전압, 전류, 및 시간에 대한 상기 정보를 기초로 하여, 상기 인시츄 전기화학 셀의 각각의 상태에서의 과전압(overpotential) 정보 또는 확산도(diffusivity) 정보를 도출하는 단계;상기 컨트롤러에 의해 상기 과전압 정보 또는 상기 확산도 정보에 기초하여 지연 시간(delay time)을 결정하는 단계;상기 지연 시간이 경과한 후에 상기 컨트롤러로부터 상기 컨트롤러에 연결된 X선 분석 장치에 명령 신호를 제공하는 단계; 및상기 X선 분석 장치가 상기 인시츄 전기화학 셀에 X선을 조사하고 X선 회절 패턴을 얻는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 인시츄 X선 분석 방법
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제11항에 있어서,상기 펠티어 타입 온도 조절 유닛은,상기 인시츄 전기화학 셀을 그 상부에 장착할 수 있는 베이스 플레이트;상기 인시츄 전기화학 셀을 커버하고 X선이 상기 인시츄 전기화학 셀을 투과하여 통과할 수 있는 한 쌍의 개구부를 갖는 캡부;상기 베이스 플레이트를 가열 또는 냉각시키기 위한 온도 조절부;상기 베이스 플레이트의 하부에 냉각수를 공급할 수 있는 유체 공급 라인을 포함하는 것을 특징으로 하는 인시츄 X선 분석 방법
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제11항에 있어서,상기 인시츄 전기화학 셀에 복수의 인시츄 X선 분석 사이클들을 수행하는 단계는,제1 온도에서 상기 인시츄 전기화학 셀에 대한 충전 과정에서 인시츄 X선 분석 사이클을 수행하는 단계, 및상기 제1 온도와 다른 제2 온도에서 상기 인시츄 전기화학 셀에 대한 방전 과정에서 인시츄 X선 분석 사이클을 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 인시츄 X선 분석 방법
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제13항에 있어서,상기 제1 온도와 상기 제2 온도는 인시츄 전기화학 셀의 사용 환경을 고려하여 결정되는 것을 특징으로 하는 인시츄 X선 분석 방법
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제13항에 있어서,상기 제1 온도 및 상기 제2 온도 중 적어도 하나는 -10 내지 10℃의 범위인 것을 특징으로 하는 인시츄 X선 분석 방법
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제11항에 있어서,상기 인시츄 전기화학 셀에 복수의 인시츄 X선 분석 사이클들을 수행하는 단계는,복수의 제1 서브 사이클들을 수행하되, 상기 제1 서브 사이클들은 제1 온도에서 상기 인시츄 전기화학 셀에 대한 충전 및 방전 과정에서 인시츄 X선 분석 사이클을 수행하는, 복수의 제1 서브 사이클들을 수행하는 단계; 및복수의 제2 서브 사이클들을 수행하되, 상기 제2 서브 사이클들은 상기 제1 온도와 다른 제2 온도에서 상기 인시츄 전기화학 셀에 대한 충전 및 방전 과정에서 인시츄 X선 분석 사이클을 수행하는, 복수의 제2 서브 사이클들을 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 인시츄 X선 분석 방법
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제11항에 있어서,상기 지연 시간은 각각의 상태에서의 상기 과전압 정보 또는 상기 확산도 정보가 임계 과전압 또는 임계 확산도보다 낮아질 때까지의 시간으로 결정되는 것을 특징으로 하는 인시츄 X선 분석 방법
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제11항에 있어서,상기 지연 시간은 상기 과전압 정보 또는 상기 확산도 정보에 무관하게 일정한 값으로 결정되는 것을 특징으로 하는 인시츄 X선 분석 방법
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