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오염물을 함유하는 매질에 제1 레이저 광을 조사하는 단계;상기 매질에서 산란 또는 반사되는 광을 검출하고 상기 매질 및 상기 오염물에 대한 정보를 탐지하는 단계;상기 탐지된 매질 및 오염물에 대한 정보를 바탕으로 상기 오염물을 제독하기 위한 서로 다른 파장 영역의 복수의 제2 레이저 광의 특성을 조절하는 단계; 및상기 복수의 제2 레이저 광을 상기 매질에 조사하여 상기 오염물을 제독하는 단계를 포함하는, 다중 파장 레이저를 이용한 제독 방법
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청구항 1에 있어서, 상기 오염물을 제독하는 단계에서,상기 복수의 제2 레이저 광이 상기 매질의 표면을 스캐닝하는, 다중 파장 레이저를 이용한 제독 방법
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청구항 1에 있어서, 상기 오염물을 제독하는 단계에서,상기 복수의 제2 레이저 광은 적외선 파장 영역의 레이저 광 및 자외선 파장 영역의 레이저 광을 포함하고, 상기 매질에서 상기 복수의 제2 레이저 광에 의한 광화학 및 광열 반응이 유도되는, 다중 파장 레이저를 이용한 제독 방법
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청구항 1에 있어서,상기 매질에서 산란 또는 반사되는 광을 검출하고 상기 매질 및 상기 오염물에 대한 정보를 탐지하는 단계에서, 상기 오염물의 흡광도를 측정하는, 다중 파장 레이저를 이용한 제독 방법
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청구항 1에 있어서,상기 매질에서 산란 또는 반사되는 광을 검출하고 상기 매질 및 상기 오염물에 대한 정보를 탐지하는 단계에서, 상기 매질 및 상기 오염물에 대한 정보는, 상기 매질이 다공성인지 여부, 상기 오염물의 상태, 종류, 농도 및 상기 오염물의 상기 매질에 대한 침투 깊이 중 적어도 하나를 포함하는, 다중 파장 레이저를 이용한 제독 방법
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청구항 1에 있어서, 상기 서로 다른 파장 영역의 복수의 제2 레이저 광의 특성을 조절하는 단계에서,상기 탐지된 매질 및 오염물에 대한 정보를 바탕으로 상기 복수의 제2 레이저 광 각각의 파장 및 조사 시간을 조절하는, 다중 파장 레이저를 이용한 제독 방법
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청구항 2에 있어서, 상기 서로 다른 파장 영역의 복수의 제2 레이저 광의 특성을 조절하는 단계에서,상기 복수의 제2 레이저 광의 상기 매질의 스캐닝 영역을 조절하는, 다중 파장 레이저를 이용한 제독 방법
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청구항 1에 있어서, 상기 복수의 제2 레이저 광에 의한 상기 오염물의 제독 상태를 확인하는 단계를 더 포함하는, 다중 파장 레이저를 이용한 제독 방법
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복수의 레이저 광을 선택적으로 매질에 조사하는 광원부;상기 매질에서 산란 또는 반사되는 광을 검출하고 상기 매질 및 상기 매질이 함유하는 오염물에 대한 정보를 탐지하는 광분석부; 및상기 탐지된 오염물에 대한 정보를 바탕으로 상기 오염물을 제독하기 위해 상기 매질에 조사되는 복수의 레이저 광의 특성을 조절하는 제어부를 포함하고,상기 광원부에서 조사되는 복수의 레이저 광은, 상기 제어부의 제어 하에 상기 매질 및 상기 오염물에 대한 정보를 탐지하기 위한 제1 레이저 광 및 상기 오염물을 제독하기 위한 서로 다른 파장 영역의 복수의 제2 레이저 광을 포함하는, 다중 파장 레이저를 이용한 제독 장치
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청구항 9에 있어서,상기 광원부는, 상기 조사되는 복수의 레이저 광이 상기 매질의 표면을 스캐닝하도록 하는 스캐너를 포함하는, 다중 파장 레이저를 이용한 제독 장치
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청구항 9에 있어서,상기 복수의 제2 레이저 광은 적외선 파장 영역의 레이저 광 및 자외선 파장 영역의 레이저 광을 포함하고, 상기 매질에서 상기 복수의 제2 레이저 광에 의한 광화학 및 광열 반응이 유도되는, 다중 파장 레이저를 이용한 제독 장치
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청구항 9에 있어서,상기 광분석부는 상기 오염물의 흡광도를 측정하는, 다중 파장 레이저를 이용한 제독 장치
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청구항 9에 있어서,상기 매질 및 상기 오염물에 대한 정보는, 상기 매질이 다공성인지 여부, 상기 오염물의 상태, 종류, 농도 및 상기 오염물의 상기 매질에 대한 침투 깊이 중 적어도 하나를 포함하는, 다중 파장 레이저를 이용한 제독 장치
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청구항 9에 있어서,상기 제어부는 상기 탐지된 매질 및 오염물에 대한 정보를 바탕으로 상기 복수의 제2 레이저 광 각각의 파장 및 조사 시간을 조절하는, 다중 파장 레이저를 이용한 제독 장치
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청구항 10에 있어서,상기 제어부는 상기 복수의 제2 레이저 광의 상기 매질의 스캐닝 영역을 조절하는, 다중 파장 레이저를 이용한 제독 장치
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