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발광 소자의 발광특성 측정 장치 및 이의 측정방법

  • 기술번호 : KST2022008766
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 발광 소자의 발광특성 측정 장치 및 측정 방법을 제공한다. 제2 측정기로 방출각도에 따라 변화하는 발광특성을 측정하고, 제1 측정기로 정면에서 측정된 발광특성을 측정한 뒤, 상기 제2 측정기에서 측정된 데이터를 상기 제1 측정기에서 측정된 데이터로 보정하여, 방출각도에 따른 정확한 복사 휘도 분포를 제공할 수 있다.
Int. CL G01J 3/443 (2006.01.01) G01J 3/02 (2006.01.01) G01J 1/44 (2006.01.01) G01J 3/42 (2006.01.01)
CPC G01J 3/443(2013.01) G01J 3/0254(2013.01) G01J 1/44(2013.01) G01J 2003/423(2013.01) G01J 2001/444(2013.01) G01J 2001/446(2013.01)
출원번호/일자 1020210182111 (2021.12.17)
출원인 서울대학교산학협력단, 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0087400 (2022.06.24) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020200177406   |   2020.12.17
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2021.12.17)
심사청구항수 18

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구
2 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이태우 서울특별시 관악구
2 유승협 대전광역시 유성구
3 김주성 서울특별시 관악구
4 박재혁 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 강문호 대한민국 서울특별시 서초구 사평대로 ** (반포동) 우주빌딩 *층(다민특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2021.12.17 수리 (Accepted) 1-1-2021-1468283-98
2 보정요구서
Request for Amendment
2021.12.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2021-0207240-06
3 [출원서 등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2022.01.19 수리 (Accepted) 1-1-2022-0071666-82
4 특허고객번호 정보변경(경정)신고서·정정신고서
2022.04.04 수리 (Accepted) 4-1-2022-5079741-71
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
전원 인가 시 광학적 특성과 전기적 특성을 동시에 측정하는 측정부;상기 측정부의 조건을 조절하는 제어부;상기 측정부를 통해 측정되는 데이터를 보정하는 보정부; 및상기 보정된 데이터를 저장하는 저장부;를 포함하고,상기 측정부는소자를 안착시키는 기판;상기 기판의 수직 상방에 위치하고 제1 광다이오드 및 제1 분광기를 포함하는 제1 측정기; 및상기 기판의 원주면을 따라 각각 독립적으로 이동하는 제2 광다이오드 및 제2 분광기를 포함하는 제2 측정기;를 포함하는, 발광 소자의 발광특성 측정 장치
2 2
제1항에 있어서,xyz 좌표계에서 상기 기판에 대한 상기 제1 측정기의 방향을 z축선이라고 할 때,상기 제2 측정기는 x-z축 및 y-z축 중 적어도 어느 하나로 각도 방향량(vector)을 가지는 것을 특징으로 하는 발광 소자의 발광특성 측정 장치
3 3
제2항에 있어서,xyz 좌표계에서 상기 기판에 대한 상기 제1 측정기의 방향을 z축선이라고 할 때,상기 제2 광다이오드는 y-z축의 각도 방향량을 가지고,상기 제2 분광기는 x-z축의 각도 방향량을 가지는 것을 특징으로 하는 발광 소자의 발광특성 측정 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 보정은 상기 제1 측정기를 통해 얻은 광학적 특성 데이터로 제2 측정기를 통해 얻은 광학적 특성 데이터를 정규화하여 수행하는 것을 특징으로 하는 발광 소자의 발광특성 측정 장치
5 5
제1항에 있어서,상기 측정부는,상기 기판이 안착되는 지그를 수용하는 측정실; 및상기 측정실에 연결되어 내부 기체를 외부 기체로 교환시키는 기체 주입구;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 소자의 발광특성 측정 장치
6 6
제1항에 있어서,상기 제2 측정기는 0
7 7
제1항에 있어서,상기 제2 측정기는 상기 기판에 대하여 0 내지 180°의 각도로 이동하는 것을 특징으로 하는 발광 소자의 발광특성 측정 장치
8 8
제1항에 있어서,상기 제2 측정기는 원주면을 따라 이동하는 이동경로 길이가 5 내지 200cm인 것을 특징으로 하는 발광 소자의 발광특성 측정 장치
9 9
제1항에 있어서,상기 기판에 전원 인가 시 소자에서 방출하는 방출광은 적외선, 자외선 및 가시광선 중에서 선택된 적어도 하나 이상인 것을 특징으로 하는 발광 소자의 발광특성 측정 장치
10 10
제1항에 있어서,상기 제1 분광기 및 제2 분광기는 상기 기판에서 방출되는 방출광의 스펙트럼을 검출하고,상기 제1 광다이오드 및 제2 광다이오드는 상기 기판에서 방출되는 복사 휘도를 측정하는 것을 특징으로 하는 발광 소자의 발광특성 측정 장치
11 11
제1항에 있어서,상기 측정부는 발광 소자에 전압(Voltage, V) 혹은 전류(Current, I)를 인가하여, 외부 양자 효율(External quantum efficiency, ηEQE), 전력 효율(Power efficiency, ηPE), 휘도(Luminance, Lv), 방출광 스펙트럼, 방출광 스펙트럼에서 얻어진 CIE 1931 색 좌표 상 x좌표(CIEx) 및 방출광 스펙트럼에서 얻어진 CIE 1931 색 좌표 상 y좌표(CIEy) 중에서 선택된 적어도 하나 이상의 발광특성을 측정하는 것을 특징으로 하는 발광 소자의 발광특성 측정 장치
12 12
제 5항에 있어서,상기 기체 주입구에 산소(O2) 기체 및 할로겐 기체 중에서 선택된 1종 이상을 주입하여 페로브스카이트 발광 소자의 발광층 결함을 부동태화시키는 것을 특징으로 하는 발광 소자의 발광특성 측정 장치
13 13
기판 상면에 소자를 안착시키는 단계;상기 기판에 전원을 인가하여 소자에서 방출광을 방출시키는 단계;제1 측정기 및 제2 측정기를 통해 발광특성 데이터를 얻는 단계; 및상기 제1 측정기를 통해 얻은 발광특성 데이터로 상기 제2 측정기를 통해 얻은 발광특성 데이터를 정규화하여 보정하는 단계;를 포함하고,상기 제2 측정기는 제2 분광기 및 제2 광다이오드를 포함하며,상기 기판을 기준으로 원주면을 따라 상기 제2 분광기 및 제2 광다이오드를 각각 독립적으로 이동시키면서 발광특성을 측정하는 것을 특징으로 하는 발광 소자의 발광특성 측정방법
14 14
제13항에 있어서,상기 제2 측정기는 x-z축 및 y-z축 중 적어도 어느 하나로 각도 방향량(vector)을 갖는 것을 특징으로 하는 발광 소자의 발광특성 측정방법
15 15
제13항에 있어서,상기 제2 측정기는 원주면을 따라 이동하는 이동경로 길이가 5 내지 200cm인 것을 특징으로 하는 발광 소자의 발광특성 측정방법
16 16
제13항에 있어서,상기 제2 측정기는 0
17 17
제13항에 있어서,상기 제2 측정기는 상기 기판을 기준으로 0 내지 180°의 각도로 이동하면서 발광특성을 측정하는 것을 특징으로 하는 발광 소자의 발광특성 측정방법
18 18
제13항에 있어서,상기 발광특성은 발광 소자에 전압(Voltage, V) 혹은 전류(Current, I)를 인가하여, 외부 양자 효율(External quantum efficiency, ηEQE), 전력 효율(Power efficiency, ηPE), 휘도(Luminance, Lv), 방출광 스펙트럼, 방출광 스펙트럼에서 얻어진 CIE 1931 색 좌표 상 x좌표(CIEx) 및 방출광 스펙트럼에서 얻어진 CIE 1931 색 좌표 상 y좌표(CIEy) 중에서 선택된 적어도 하나 이상인 것을 특징으로 하는 발광 소자의 발광특성 측정방법
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