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세극광(slit beam)을 조사하여 안구를 검사하는 세극등 현미경 장치에 있어서,복수의 광원이 배열되어 구성되는 배열 광원을 구비하여 안구로 세극광을 인가하는 조명 광학계;를 포함하여 구성되며,상기 배열 광원의 이동 없이 상기 복수의 광원의 일부 또는 전부에 대한 점등을 통해 상기 안구로 인가되는 세극광을 조절하는 것을 특징으로 하는 세극등 현미경 장치
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제1항에 있어서,카메라 센서를 구비하여 상기 조명 광학계에서 조사되어 상기 안구에서 반사된 빛을 촬영하는 결상 광학계;를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 세극등 현미경 장치
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제1항에 있어서,상기 조명 광학계에서는,상기 복수의 광원에 대한 점등을 통해 상기 세극광의 길이, 폭 또는 조사 각도 중 하나 이상을 조절하는 것을 특징으로 하는 세극등 현미경 장치
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제1항에 있어서,상기 배열 광원에서 상기 복수의 광원은 비연속적 세극 조명으로 동작하는 것을 특징으로 하는 세극등 현미경 장치
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제1항에 있어서,상기 조명 광학계에는,상기 복수의 광원에 대응하는 복수의 콘덴서 렌즈, 빔스플리터 및 대물 렌즈가 구비되는 것을 특징으로 하는 세극등 현미경 장치
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제5항에 있어서,상기 대물 렌즈를 이용하여 상기 안구에 대한 검사를 수행할 수 있도록 상기 세극광을 굴절시켜 상기 안구로 인가하는 것을 특징으로 하는 세극등 현미경 장치
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제1항에 있어서,상기 배열 광원에서 상기 복수의 광원에 대한 점등을 조절하여 상기 세극광을 조절하면서 상기 안구에 대하여 연속하여 자동 촬영을 수행하는 것을 특징으로 하는 세극등 현미경 장치
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제1항에 있어서,상기 세극등 현미경 장치는,결상 광학계를 구비하는 다른 휴대용 세극등 현미경 장치와 결합하여 구동되는 것을 특징으로 하는 세극등 현미경 장치
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