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상협하광(上狹下廣)의 단면 공간을 갖는 사각공간부(11)가 형성되는 베이스(10);상기 베이스(10)의 사각공간부(11)에 배치되는 매치블록(20);상기 매치블록(20)에 지지되고, 테스트 트레이에 안착된 반도체 소자를 테스트 소켓 측으로 밀어내기 위한 푸셔(30); 및상기 푸셔(30)를 탄성 지지하는 서포팅수단(40);으로 이루어지되,상기 매치블록(20)은 비(非)금속 재질을 이용한 사출 성형에 의해 구성되고,상기 매치블록(20)은 폴리(N-비닐 카프로락탐) 및 아크릴로니트릴-부타디엔-스티렌 공중합체(ABS)로 이루어진 수지 조성물을 사용하여 성형 가공하고,상기 수지 조성물 100 중량%에 대하여 1 내지 5 중량%의 인상흑연을 부가하며,상기 폴리(N-비닐 카프로락탐) 및 아크릴로니트릴-부타디엔-스티렌 공중합체는 1:1 내지 2:1의 중량비로 배합되고,상기 매치블록(20)은 상기 베이스(10)의 사각공간부(11)와 대응되는 상협하광의 단면적을 갖는 바텀블록(21)과, 상기 바텀블록(21) 상부에 연결되어 수직으로 세워지는 탑블록(22)으로 이루어지고,상기 바텀블록(21)에는 이의 하단 둘레를 따라 외측으로 연장되어 상기 베이스(10)의 사각공간부(11) 하부 측 주변 영역에 접하게 되는 스토퍼(211)가 형성되어 있고,상기 푸셔(30)의 하부면에는 상기 매치블록(20)의 탑블록(22) 상단 일부가 삽입 안착되는 수용공간부(311)와, 상기 수용공간부(311)에 배치되는 한 쌍의 볼트홈(312)과, 상기 각 볼트홈(312) 사이에 배치되게 상하 관통되는 공기압해소홀(313)이 형성되고,상기 매치블록(20)에는 상기 바텀블록(21)과 상기 탑블록(22)을 상하 관통하면서 상기 각 볼트홈(312)에 대응되는 위치에 배치되는 한 쌍의 볼트홀(23)과, 상기 바텀블록(21)과 상기 탑블록(22)을 상하 관통하면서 상기 공기압해소홀(313)에 대응되는 위치에 배치되는 대응공기압해소홀(24)이 형성되며,상기 각 볼트홀(23)을 지나 상기 각 볼트홈(312)에 체결되는 한 쌍의 볼트(25)에 의해 상기 푸셔(30)와 상기 매치블록(20)이 상호 결합되고,상기 매치블록(20)의 바텀블록(21)에서 각 볼트홀(23)에는 각 볼트(25)의 헤드가 은닉되기 위한 은닉공간부(231)가 형성되어 있고,상기 은닉공간부(231)는 상기 각 볼트(25)의 헤드가 외부로 돌출되는 것을 방지할 수 있는 함몰된 형상으로 형성되고,상기 매치블록(20)의 바텀블록(21)에는 상기 각 볼트홀(23)과 대응공기압해소홀(24)을 에워싸는 형태로 배치되면서 움푹 들어간 홈 형상의 바텀리세스(212)가 형성되고,상기 매치블록(20)의 탑블록(22)에는 상기 각 볼트홀(23)과 대응공기압해소홀(24)을 에워싸는 형태로 배치되면서 움푹 들어간 홈 형상의 탑리세스(221)가 형성되어 있고,상기 탑리세스(221)는 상부에서 바라보았을 때 사각의 홈 형상이되, 네 모서리 영역이 단절된 사각의 홈 형상인 것을 특징으로 하는 내구성 및 경량성이 우수한 매치블록을 갖는 테스트 핸들러의 매치플레이트
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