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특허문헌 및 상표문헌을 이용하여 특허와 그 특허가 적용된 제품에 관한 정보가 포함된 복수의 데이터를 생성하는 데이터 베이스 구축단계;상기 데이터를 벡터로 변환하고, 유사한 기반기술을 갖는 제품들이 가까이 있도록 상기 데이터들을 재배치 하는 데이터 전처리 단계;사용자로부터 목표 제품을 입력 받고 상기 목표 제품과 유사한 기반기술을 갖는 제품들을 기준으로 영역을 형성하는 기술영역 형성단계; 및상기 영역에 포함된 데이터들을 정량적으로 분석하고 분석결과를 출력하는 정량분석 및 출력단계를 포함하는 특허문헌의 제품별 분석방법
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제 1 항에 있어서,상기 데이터 베이스 구축단계는,상기 상표문헌으로부터 제품명을 추출하는 상표 제품명 추출단계;상기 특허문헌으로부터 제품명을 추출하는 특허 제품명 추출단계; 및상기 제품명이 서로 일치하는 경우, 상기 특허문헌 및 상기 상표문헌을 결합한 데이터를 생성하여 데이터 베이스에 저장하는 데이터 베이스 저장단계를 더 포함하는 특허문헌의 제품별 분석방법
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제 1 항에 있어서,상기 데이터는 특허 번호, 제품 또는 특허 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허문헌의 제품별 분석방법
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제 1 항에 있어서,상기 기술영역 형성단계는,상기 사용자로부터 목표 제품을 입력 받고, 상기 목표 제품의 벡터를 추출하는 단계;상기 벡터를 이용하여 타 데이터들과의 유사성 지수를 산출하는 단계; 및상기 유사성 지수가 기 설정된 값 이상인 타 데이터들을 포함하는 특정 영역을 형성하는 단계를 더 포함하는 특허문헌의 제품별 분석방법
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제 1 항에 있어서,상기 기술영역 형성단계는,상기 사용자로부터 목표 제품 및 기반기술에 관한 정보를 입력 받고, 상기 목표 제품 및 기반기술에 관한 정보를 기준으로 상기 데이터에 대하여 벡터 연산을 수행하는 단계;상기 데이터와 타 데이터들 간의 유사성 지수를 산출하는 단계; 및상기 유사성 지수가 기 설정된 값 이상인 타 데이터들을 포함하는 특정 영역을 형성하는 단계를 더 포함하는 특허문헌의 제품별 분석방법
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제 1 항에 있어서,상기 정량분석 및 출력단계는상기 영역에 포함된 데이터들을 분석하여 상기 영역의 기반기술의 특성을 평가하는 특성 평가 단계; 및상기 영역에 포함된 데이터들을 분석하여 상기 영역에서 기업의 기술역량을 평가하는 역량 평가 단계를 더 포함하는 특허문헌의 제품별 분석방법
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제 6 항에 있어서,상기 특성 평가 단계에서, 상기 기반기술의 특성은 기술 변화 속도(PTC) 또는 기술경쟁력(TCI, Technology Competition Intensity)를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허문헌의 제품별 분석방법
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제 6 항에 있어서,상기 역량 평가 단계에서,상기 기업의 기술역량은 기술점유율(TSH), 기술범위(TC), 기술신규성(TN), 기술력(TSH), 협업강도(CI), 협업범위(CC), 국제범위(IS) 또는 보호 범위(PS)를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허문헌의 제품별 분석방법
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제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항의 방법을 구현하기 위한 프로그램이 기록된 컴퓨터로 판독 가능한 기록매체
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특허문헌 및 상표문헌을 이용하여 특허와 그 특허가 적용된 제품에 관한 정보가 포함된 복수의 데이터가 저장된 데이터 베이스;상기 데이터를 벡터로 변환하고, 유사한 기반기술을 갖는 제품들이 가까이 있도록 상기 데이터들을 재배치 하는 전처리부;사용자로부터 목표 제품을 입력 받고 상기 목표 제품과 유사한 기반기술을 갖는 제품들을 기준으로 영역을 형성하는 기술영역 형성부; 및상기 영역에 포함된 데이터들을 정량적으로 분석하는 분석부를 포함하는 특허문헌의 제품별 분석장치
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제 10 항에 있어서,상기 데이터는,상기 상표문헌으로부터 추출한 제품명과 상기 특허문헌으로부터 추출한 제품명이 서로 일치하는 경우에 상기 특허문헌 및 상기 상표문헌을 결합하여 생성되는 것을 특징으로 하는 특허문헌의 제품별 분석장치
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제 10 항에 있어서,상기 데이터는 특허 번호, 제품 또는 특허 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허문헌의 제품별 분석장치
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제 10 항에 있어서,상기 기술영역 형성부는,상기 사용자로부터 목표 제품을 입력 받고, 상기 목표 제품의 벡터를 추출하는 벡터 추출부;상기 벡터를 이용하여 타 데이터들과의 유사성 지수를 산출하는 유사성 지수 산출부;상기 유사성 지수가 기 설정된 값 이상인 타 데이터들을 포함하는 특정 영역을 형성하는 영역 형성부를 더 포함하는 특허문헌의 제품별 분석방법
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제 10 항에 있어서,상기 기술영역 형성부는,상기 사용자로부터 목표 제품 및 기반기술에 관한 정보를 입력 받고, 상기 목표 제품 및 기반기술에 관한 정보를 기준으로 상기 데이터에 대하여 벡터 연산을 수행하는 벡터 연산부;상기 데이터와 타 데이터들 간의 유사성 지수를 산출하는 유사성 지수 산출부; 및상기 유사성 지수가 기 설정된 값 이상인 타 데이터들을 포함하는 특정 영역을 형성하는 영역 형성부를 더 포함하는 특허문헌의 제품별 분석방법
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제 10 항에 있어서,상기 분석부는상기 데이터들을 분석하여 상기 영역의 기반기술의 특성을 평가하는 기술 특성 평가부; 및상기 데이터들을 분석하여 상기 영역에서 기업의 기술역량을 평가하는 기업 역량 평가부를 더 포함하는 특허문헌의 제품별 분석방법
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제 15 항에 있어서,상기 기술 특성 평가부에서, 상기 기반기술의 특성은 기술 변화 속도(PTC) 또는 기술경쟁력(TCI, Technology Competition Intensity)를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허문헌의 제품별 분석장치
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제 15 항에 있어서,상기 기업 역량 평가부에서,상기 기업의 기술역량은 기술점유율(TSH), 기술범위(TC), 기술신규성(TN), 기술력(TSH), 협업강도(CI), 협업범위(CC), 국제범위(IS) 또는 보호 범위(PS)를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허문헌의 제품별 분석장치
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