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특수물질 검출방법으로서,상기 특수물질이 광원에 의해 여기되어 방출광을 발생하는 단계;흡수 파장 대역이 상이한 복수 개의 광센서가 상기 방출광을 검출하는 단계; 및상기 각 광센서에서 상기 방출광이 검출되거나 검출되지 않은 결과를 조합하여 상기 방출광의 파장을 결정하는 단계;를 포함하는 방법
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제1항에 있어서,상기 결정된 파장으로부터 상기 특수물질의 검출 여부를 판단하는 단계를 더 포함하는 방법
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제1항에 있어서,상기 각 광센서의 흡수 파장 대역은 상호 독립 또는 중복된 파장 범위를 가지는 것을 특징으로 하는 방법
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제1항에 있어서,상기 조합은 상기 방출광이 검출된 모든 광센서의 각 흡수 파장 대역을 합친 대역에서 상기 방출광이 검출되지 않은 모든 광센서의 각 흡수 파장 대역을 배제하는 것을 특징으로 하는 방법
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제1항에 있어서,상기 조합은 상기 방출광이 검출된 모든 광센서의 상대적인 전기 신호 세기 차이에 기초하여 상기 방출광의 파장을 확인하는 것을 특징으로 하는 방법
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제1항에 있어서,상기 광원의 발광 파장은 상기 특수물질의 흡수 대역에 기초하여 선택되는 것을 특징으로 하는 방법
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제1항에 있어서,상기 복수 개의 광센서는 각각 반도체 소재가 상이한 포토다이오드인 것을 특징으로 하는 방법
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제1항에 있어서,상기 복수 개의 광센서는 각각 수광 파장 대역이 상이한 포토다이오드인 것을 특징으로 하는 방법
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제1항에 있어서,상기 복수 개의 광센서는 각각 수광 파장별 감도가 상이한 포토다이오드인 것을 특징으로 하는 방법
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광원; 및흡수 파장 대역이 상이한 복수 개의 광센서;를 포함하고,상기 광원에 의해 특수물질이 여기되어 방출광이 발생되면, 상기 각 광센서에서 상기 방출광이 검출되거나 검출되지 않은 결과를 조합하여 상기 수신된 방출광의 파장을 결정하는, 특수물질 검출기
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제10항에 있어서,상기 각 광센서의 흡수 파장 대역은 상호 독립 또는 중복된 파장 범위를 가지는 것을 특징으로 하는 특수물질 검출기
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제10항에 있어서,상기 조합은 상기 방출광이 검출된 모든 광센서의 각 흡수 파장 대역을 합친 대역에서 상기 방출광이 검출되지 않은 모든 광센서의 각 흡수 파장 대역을 배제하는 것을 특징으로 하는 특수물질 검출기
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제10항에 있어서,상기 광원은 발광 파장이 다른 복수 개의 광원을 포함하는 것을 특징으로 하는 특수물질 검출기
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