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전자 방출용 에미터 및 이의 제조방법

  • 기술번호 : KST2022010981
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 냉전자를 방출하기 위한 CNT 에미터 및 그 제조방법이 개시된다. 페이스를 형성하는 필러들은 Ni, Al2O3 및 Si를 가진다. 페이스트 내의 유기물을 제거하기 위한 소성 공정과는 별도로 고온의 진공 열처리 공정이 수행되어 금속 실리사이드를 형성한다. 형성된 금속 실리사이드는 기판과 에미션 층의 접착력을 제공하고, 에미션 층 내부의 응집력을 향상시킨다.
Int. CL H01J 1/304 (2006.01.01) H01J 1/144 (2006.01.01) H01J 9/02 (2006.01.01)
CPC H01J 1/3042(2013.01) H01J 1/144(2013.01) H01J 9/025(2013.01) H01J 2201/30469(2013.01)
출원번호/일자 1020220001435 (2022.01.05)
출원인 세종대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0099104 (2022.07.12) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020210000965   |   2021.01.05
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2022.01.05)
심사청구항수 26

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 세종대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 광진구 능동로 *** (군

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이내성 서울시 서대문구
2 세이드 자파 아바스 서울특별시 광진구 동일로**길 **, 지층 *호(군
3 이재휘 서울특별시 광진구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인이상 대한민국 서울특별시 서초구 바우뫼로 ***(양재동, 우도빌딩 *층)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2022.01.05 수리 (Accepted) 1-1-2022-0012671-94
2 보정요구서
Request for Amendment
2022.01.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2022-0008475-95
3 [출원서 등 보정]보정서(납부자번호)
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment(Payer number)
2022.01.17 수리 (Accepted) 1-1-2022-0051380-61
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번호 청구항
1 1
금속을 포함하는 기판; 상기 기판 상에 형성되고, 실리사이드들을 가지는 에미션 층; 및 상기 에미션 층 내부까지 형성되고, 상기 에미션 층의 표면으로부터 돌출된 CNT를 포함하는 전자 방출용 에미터
2 2
제1항에 있어서, 상기 기판의 금속은 Fe, Ni 또는 Co를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터
3 3
제2항에 있어서, 상기 에미션 층은 Ni 입자, Si 입자 및 Al2O3 입자를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터
4 4
제3항에 있어서, 상기 실리사이드들은 상기 Si이 상기 기판의 표면의 금속과 반응하여 형성된 제1 실리사이드를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터
5 5
제4항에 있어서, 상기 제1 실리사이드는 FeNiSi 또는 Fe2NiSi를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터
6 6
제4항에 있어서, 상기 제1 실리사이드는 기판 상에 기둥 또는 혹 형태로 형성되는 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터
7 7
제1항에 있어서, 상기 에미션 층은 Ni 입자, Si 입자 및 Al2O3 입자를 포함하는 페이스트의 열처리에 의해 생성되는 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터
8 8
제7항에 있어서, 상기 Ni 입자 및 Si 입자의 환산 부피비는 1 : 4
9 9
제7항에 있어서, 상기 실리사이드는 상기 Ni 입자와 상기 Si 입자가 반응하여 생성된 Ni 실리사이드를 가지는 제2 실리사이드를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터
10 10
제9항에 있어서, 상기 제2 실리사이드는 Ni2Si를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터
11 11
제9항에 있어서, 상기 제2 실리사이드는 상기 에미션 층 내부의 응집력을 부여하는 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터
12 12
금속을 포함하는 기판; 상기 기판 상에 형성된 에미션 층; 및 상기 에미션 층 내부까지 형성되고, 상기 에미션 층의 표면으로부터 돌출된 CNT를 포함하고,상기 에미션 층은 상기 에미션 층의 조성물이 상기 에미션 층의 다른 조성물과 화학적으로 결합되거나, 상기 기판의 조성물과 화학적으로 결합된 구조물을 가지는 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터
13 13
제12항에 있어서, 상기 에미션 층의 상기 구조물은,상기 에미션 층의 조성물이 상기 기판의 조성물과 화학적으로 반응하여 형성된 제1 실리사이드; 및상기 에미션 층의 조성물이 상기 에미션 층의 다른 조성물과 화학적으로 반응하여 형성된 제2 실리사이드를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터
14 14
제13항에 있어서, 상기 제1 실리사이드는 상기 기판의 표면으로부터 기둥 또는 혹 형상으로 형성되고, 상기 제2 실리사이드는 상기 제1 실리사이드의 측면에 형성되는 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터
15 15
CNT, 필러 및 바인더를 포함하는 페이스트를 제조하는 단계;금속을 포함하는 기판 상에 상기 페이스트를 도포하는 단계;상기 페이스트에 대한 열처리를 통해 상기 페이스트 내에 실리사이드들을 형성하여 에미션 층을 형성하는 단계; 및상기 에미션 층에 대해 CNT 활성화 공정을 수행하여 상기 에미션 층의 내에 존재하는 상기 CNT를 상기 에미션 층 표면으로부터 돌출시키는 단계를 포함하는 전자 방출용 에미터의 제조방법
16 16
제15항에 있어서, 상기 페이스트를 제조하는 단계는,상기 필러 및 알콜을 혼합하고 습식 볼 밀링을 수행하는 단계;상기 필러 및 상기 알콜의 혼합용액에 CNT를 첨가하여 분산 용액을 형성하는 단계;상기 분산 용액에 진공 여과를 실시하여 상기 알콜을 증발시키고 텍사놀 또는 터피네올을 첨가하여 용매를 교환하는 단계; 및상기 용매가 교환된 용액에 바인더를 첨가하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터의 제조방법
17 17
제16항에 있어서, 상기 바인더는 에틸 셀룰로스인 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터의 제조방법
18 18
제15항에 있어서, 상기 페이스트를 제조하는 단계는,텍사놀 또는 터피네올에 상기 필러를 혼합하고 지르코니아 볼을 넣고 제1 믹싱을 수행하는 단계;상기 제1 믹싱의 혼합용액에 CNT를 첨가하고 제2 믹싱을 수행하는 단계; 및상기 CNT의 혼합용액에 바인더를 첨가하고 제3 믹싱을 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터의 제조방법
19 19
제18항에 있어서, 상기 바인더는 에틸 셀룰로스인 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터의 제조방법
20 20
제15항에 있어서, 상기 페이스트를 도포하는 단계는,상기 페이스트를 스크린 프린팅을 이용하여 기판 상에 도포하는 단계;상기 기판 상에 도포된 상기 페이스트를 건조하는 단계; 및상기 건조된 페이스트를 소성하여 유기물을 제거하는 단계를 포함하는 전자 방출용 에미터의 제조방법
21 21
제20항에 있어서, 상기 건조된 페이스트의 소성은 380 ℃ 내지 430 ℃에서 수행되는 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터의 제조방법
22 22
제15항에 있어서, 상기 페이스트에 대한 열처리는 진공 분위기에서 750 ℃ 내지 950 ℃에서 수행되는 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터의 제조방법
23 23
제15항에 있어서, 상기 필러는 Ni 입자, Si 입자 및 Al2O3 입자를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터의 제조방법
24 24
제23항에 있어서, 상기 기판은 Fe, Co 또는 Ni를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터의 제조방법
25 25
제24항에 있어서, 상기 실리사이드들은 상기 Si 입자의 Si가 상기 기판의 Fe, Co 또는 Ni와 결합하거나 Fe, Co와 Ni 중 2종 이상과 복합적으로 결합하여 형성된 제1 실리사이드 및 상기 Si 입자의 Si가 상기 필러의 Ni 입자의 Ni와 결합하여 형성된 제2 실리사이드를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터의 제조방법
26 26
제25항에 있어서, 상기 제1 실리사이드는 상기 기판의 표면으로부터 기둥 또는 혹 형상으로 형성되고, 상기 제2 실리사이드는 상기 제1 실리사이드의 측면에 형성되는 것을 특징으로 하는 전자 방출용 에미터의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육부 세종대학교 이공학학술연구기반구축(R&D) 하이브리드재료응용연구소