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메모리 장치 및 메모리 장치의 리드 방법

  • 기술번호 : KST2022011305
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 메모리 장치와 메모리 장치의 리드 방법이 제공된다. 메모리 장치는, 제1 SRAM 셀, 제1 SRAM 셀과 물리적으로 분리된 제2 SRAM 셀, 제1 및 제2 SRAM 셀에 연결되고, 제1 노드와 제2 노드의 전압을 이용하여 제1 및 제2 SRAM 셀 중 어느 하나에 저장된 데이터를 센싱하는 센스 앰프, 및 센스 앰프에 연결되어 출력 전압을 출력하는 멀티플렉서를 포함하되, 제1 SRAM 셀은, 제1 SRAM 셀에 저장된 데이터를 기초로 게이팅되고, 제1 소스 라인에 연결된 제1 리드 구동 트랜지스터와, 제어 신호를 기초로 게이팅되어 제1 소스 라인과 제1 리드 비트 라인을 연결시키는 제1 리드 트랜지스터를 포함하고, 멀티플렉서는, 일단이 제1 소스 라인에 연결되고, 타단이 접지되고, 게이트 단이 제1 노드에 연결되는 제1 키퍼 트랜지스터를 포함할 수 있다.
Int. CL G11C 11/419 (2015.01.01) G11C 11/412 (2006.01.01) G11C 7/06 (2021.01.01) G11C 7/12 (2006.01.01)
CPC G11C 11/419(2013.01) G11C 11/412(2013.01) G11C 7/065(2013.01) G11C 7/12(2013.01)
출원번호/일자 1020210112428 (2021.08.25)
출원인 삼성전자주식회사, 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2021-0112272 (2021.09.14) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김기석 경기도 김포시 유현로 ***,
2 정성욱 서울특별시 강남구
3 심창수 경기도 수원시 권선구
4 조건희 서울특별시 마포구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인가산 대한민국 서울 서초구 남부순환로 ****, *층(서초동, 한원빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2021.08.25 수리 (Accepted) 1-1-2021-0982256-54
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번호 청구항
1 1
제1 SRAM 셀;상기 제1 SRAM 셀과 물리적으로 분리된 제2 SRAM 셀;상기 제1 및 제2 SRAM 셀에 연결되고, 제1 노드와 제2 노드의 전압을 이용하여 상기 제1 및 제2 SRAM 셀 중 어느 하나에 저장된 데이터를 센싱하는 센스 앰프(Sense Amp); 및상기 센스 앰프에 연결되어 출력 전압을 출력하는 멀티플렉서를 포함하되,상기 제1 SRAM 셀은, 상기 제1 SRAM 셀에 저장된 데이터를 기초로 게이팅되고, 제1 소스 라인에 연결된 제1 리드 구동 트랜지스터와, 제어 신호를 기초로 게이팅되어 상기 제1 소스 라인과 제1 리드 비트 라인을 연결시키는 제1 리드 트랜지스터를 포함하고, 상기 멀티플렉서는, 일단이 상기 제1 소스 라인에 연결되고, 타단이 접지되고, 게이트 단이 상기 제1 노드에 연결되는 제1 키퍼 트랜지스터를 포함하는 메모리 장치
2 2
제 1항에 있어서, 상기 제2 SRAM 셀은, 상기 제2 SRAM 셀에 저장된 데이터를 기초로 게이팅되고, 제2 소스 라인에 연결된 제2 리드 구동 트랜지스터와, 제어 신호를 기초로 게이팅되어 상기 제2 소스 라인과 제2 리드 비트 라인을 연결시키는 제2 리드 트랜지스터를 포함하고,상기 멀티플렉서는, 일단이 상기 제2 소스 라인에 연결되고, 타단이 접지되고, 게이트 단이 상기 제2 노드에 연결되는 제2 키퍼 트랜지스터를 더 포함하는 메모리 장치
3 3
제 2항에 있어서,상기 센스 앰프는, 일단이 상기 제1 노드와 연결되고, 타단이 상기 제1 리드 비트 라인과 연결되어, 상기 제1 리드 비트 라인을 차지시키는 제1 NMOS 트랜지스터, 및 일단이 상기 제2 노드와 연결되고, 타단이 상기 제2 리드 비트 라인과 연결되어 상기 제2 리드 비트 라인을 차지시키는 제2 NMOS 트랜지스터를 포함하는 메모리 장치
4 4
제 1항에 있어서, 상기 센스 앰프는, 상기 제2 노드에 의해 게이팅되어 상기 제1 노드를 차지시키는 제1 PMOS 트랜지스터, 및 상기 제1 노드에 의해 게이팅되어 상기 제2 노드를 차지시키는 제2 PMOS 트랜지스터를 포함하는 메모리 장치
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제 4항에 있어서, 상기 제1 PMOS 트랜지스터와 상기 제2 PMOS 트랜지스터는 동일한 임계 전압(Threshold Voltage)을 갖는 메모리 장치
6 6
제 1항에 있어서,상기 제1 리드 트랜지스터와, 상기 제1 키퍼 트랜지스터는 NMOS 트랜지스터인 메모리 장치
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제1 SRAM 셀, 상기 제1 SRAM 셀에 저장된 데이터를 기초로 게이팅되고, 제1 소스 라인에 연결된 제1 리드 구동 트랜지스터, 및 리드 제어 신호를 기초로 게이팅되어 상기 제1 소스 라인과 제1 리드 비트 라인을 연결시키는 제1 리드 트랜지스터를 제공하고,제1 구간에서, 상기 제1 소스 라인을 제1 전압보다 낮은 제2 전압으로 프리디스차지(pre-discharge)하고, 상기 제1 리드 비트 라인을 상기 제1 전압보다 낮고, 상기 제2 전압보다 높은 제3 전압으로 프리차지(pre-charge)하고,상기 제1 구간에 후속하는 제2 구간에서, 상기 제1 리드 비트 라인을 상기 제3 전압에서, 상기 제3 전압보다 낮고 상기 제2 전압보다 높은 제4 전압으로 디스차지 하고, 상기 제1 소스 라인을 상기 제2 전압에서, 상기 제4 전압으로 차지시켜 상기 제1 SRAM 셀에 저장된 데이터를 리드하는 것을 포함하는 메모리 장치의 리드 방법
8 8
제 7항에 있어서,일단이 제1 노드와 연결되고, 타단이 상기 제1 리드 비트 라인과 연결되어, 상기 제1 리드 비트 라인을 차지시키는 제1 NMOS 트랜지스터와,일단이 제2 노드와 연결되고, 타단이 제2 리드 비트 라인과 연결되어 상기 제2 리드 비트 라인을 차지시키는 제2 NMOS 트랜지스터를 제공하고,상기 제1 노드를 상기 제1 전압에서 상기 제4 전압으로 디스차지 하고, 상기 제2 노드를 상기 제1 전압으로 유지시키고, 상기 제1 노드와 상기 제2 노드의 전압 차이를 기초로 상기 제1 SRAM 셀에 저장된 데이터를 리드하는 것을 더 포함하는 메모리 장치의 리드 방법
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제 8항에 있어서,상기 제1 리드 비트 라인이 상기 제3 전압에서 상기 제4 전압으로 디스차지 되는 것에 기초하여, 상기 제2 리드 비트 라인의 전압을 상기 제2 전압으로 유지시키는 것을 더 포함하는 메모리 장치의 리드 방법
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제 7항에 있어서,상기 제4 전압은, 상기 제3 전압의 상기 제1 리드 비트 라인이 상기 제2 전압의 상기 제1 소스 라인과 차지 공유(charge sharing)하여 상기 제1 리드 비트 라인에 형성되는 전압인 메모리 장치의 리드 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.