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메인 플레이트;상기 메인 플레이트에 연결되고, 상단이 상기 메인 플레이트보다 위쪽에 위치하는 가이드;상기 가이드를 따라 슬라이딩 가능한 슬라이더;상기 메인 플레이트에 배치되고, 상기 슬라이더에 동력을 전달하여 상기 슬라이더를 슬라이딩 시키는 액츄에이터;상기 가이드를 따라 상기 슬라이더가 이동하는 거리를 측정 가능한 엔코더;시편의 일단을 지지 가능한 제 1 그리퍼;상기 슬라이더에 고정되고, 상기 제 1 그리퍼를 지지하고, 내부에 중공을 포함하는 제 1 클램프;상기 제 1 그리퍼에 연결되는 제 1 연결 라인;상기 제 1 그리퍼와 나란하게 마련되고, 상기 시편의 타단을 지지 가능한 제 2 그리퍼;상기 제 2 그리퍼를 지지하는 제 2 클램프;상기 시편에 걸리는 하중을 측정 가능한 로드셀;상기 제 2 그리퍼에 연결되는 제 2 연결 라인;상기 제 1 연결 라인 및 제 2 연결 라인에 연결되는 인터페이스;상기 인터페이스에 전류 또는 전압을 인가하는 전류-전압 인가부;상기 액츄에이터, 로드셀, 인터페이스 및 엔코더에 전기적으로 연결되는 제어부를 포함하고,상기 제 1 그리퍼 및 제 1 연결 라인은, 상기 제 1 클램프의 중공에서 서로 연결되고,상기 슬라이더가 슬라이딩 하는 동안, 상기 제 1 그리퍼 및 제 1 연결 라인은 연결된 상태로 유지되고, 상기 제 1 그리퍼 및 제 1 연결 라인이 연결된 부분은, 상기 제 1 클램프에 고정된 상태로 상기 제 1 클램프와 함께 동시에 이동 가능한, 복수 개의 물성을 동시에 분석 가능한 장치
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제 1 항에 있어서,상기 시편에 빛을 조사 가능한 광 조사부; 및상기 광 조사부로부터 조사된 후 상기 시편에서 반사, 분산 또는 발광된 빛을 검출 가능한 광 검출부를 더 포함하고,상기 제어부는 상기 광 조사부 및 광 검출부에 전기적으로 연결되는, 복수 개의 물성을 동시에 분석 가능한 장치
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제 1 항에 있어서,상기 제 1 연결 라인 및 제 1 그리퍼는 서로 다른 방향으로 상기 제 1 클램프의 내부로부터 외부로 노출되는, 복수 개의 물성을 동시에 분석 가능한 장치
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제 1 항에 있어서,상기 인터페이스는 상기 메인 플레이트로부터 이격되어 배치되는, 복수 개의 물성을 동시에 분석 가능한 장치
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제 1 항에 있어서,상기 메인 플레이트에 연결되고, 상단이 상기 메인 플레이트보다 위쪽에 위치하고, 상기 가이드로부터 이격되어 배치되는 보조 플레이트; 및상기 보조 플레이트에 연결되고, 상기 제 2 클램프를 지지하는 지지 플레이트를 더 포함하는, 복수 개의 물성을 동시에 분석 가능한 장치
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제 1 항에 있어서,상기 가이드 및 보조 플레이트 사이의 공간으로 상기 메인 플레이트의 상면으로 진입 가능하고, 상기 제 1 그리퍼 및 제 2 그리퍼의 하측에 위치되는 히터를 더 포함하는, 복수 개의 물성을 동시에 분석 가능한 장치
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제 1 항에 있어서,상기 제 1 클램프는, 상기 슬라이더에 고정되는 클램프 바디와, 상기 클램프 바디로부터 상기 제 2 클램프를 향한 방향으로 연장 형성되고 제 1 그리퍼를 지지하는 클램프 로드를 포함하는, 복수 개의 물성을 동시에 분석 가능한 장치
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제 7 항에 있어서,상기 클램프 로드는,상기 제 2 클램프를 향한 방향으로 연장 형성되는 제 1 수평 파트;상기 제 1 수평 파트로부터 상기 메인 플레이트를 향한 방향으로 연장 형성되는 수직 파트; 및상기 수직 파트로부터 상기 메인 플레이트와 평행한 방향으로 상기 제 2 클램프를 향해 연장 형성되는 제 2 수평 파트를 포함하는, 복수 개의 물성을 동시에 분석 가능한 장치
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제 1 항에 있어서,상기 제 1 클램프 및 제 2 클램프는 절연체를 포함하고, 상기 제 1 그리퍼 및 제 2 그리퍼는 전도체인, 복수 개의 물성을 동시에 분석 가능한 장치
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