[KST2014054793][한국전자통신연구원] |
레이저 용접 비드 실시간 품질검사 자동화 기술 |
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[KST2017009343][한국전자통신연구원] |
광 음향 프로브 및 그를 포함하는 광 음향 스펙트로스코피(photo-acoustic probe and photo-acoustic measurement apparatus including the same) |
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[KST2018002069][한국전자통신연구원] |
필터 상태 관측 장치 및 방법(APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING STATE OF FILTERS) |
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[KST2015099217][한국전자통신연구원] |
포토믹스 모듈 |
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[KST2019004943][한국전자통신연구원] |
플렌옵틱 기술에 기반한 객체 인식 시스템 및 그 동작방법 |
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[KST2019004232][한국전자통신연구원] |
다면체 회전 거울과 텔레센트릭 f-세타 렌즈를 이용한 테라헤르츠 반사 영상 시스템 |
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[KST2015087146][한국전자통신연구원] |
테라헤르츠파 검출기용 금속 그리드 모듈 및 그 제조 방법 |
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[KST2021000896][한국전자통신연구원] |
에어로졸 산출 시스템의 모듈화 및 일괄처리 방법 |
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[KST2023001435][한국전자통신연구원] |
청소 결정을 위한 오염율 계산 방법 및 장치 |
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[KST2018004402][한국전자통신연구원] |
광 통신 모듈을 위한 페룰 단면의 검사 장치 및 그 방법(DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING FERRULE ENDFACE FOR OPTICAL COMMUNICATION MODULE) |
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[KST2023001882][한국전자통신연구원] |
광음향 센서 장치 및 그의 광음향 센싱 방법 |
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[KST2023007637][한국전자통신연구원] |
제품의 외관을 검사하기 위한 머신 비전이 장착되는 머신 비전 키트 |
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[KST2023007925][한국전자통신연구원] |
영상 정보 분석 기반 손상탐지 장치 및 방법 |
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[KST2018003944][한국전자통신연구원] |
질화물 반도체의 결함 검사 방법(METHODS FOR INSPECTING DEFECTS OF NITRIDE SEMICONDUCTOR) |
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[KST2019012936][한국전자통신연구원] |
카메라를 이용한 색료 조합 방법 및 장치 |
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[KST2020000890][한국전자통신연구원] |
멀티 모달 입력 기반의 뉴럴 네트워크를 이용한 물질 분석 방법 및 이를 위한 장치 |
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[KST2022020772][한국전자통신연구원] |
이종 임베디드 플랫폼에서 비전 가속 처리와 머신러닝을 활용한 PCB 외관검사 장치 및 방법 |
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[KST2015228969][한국전자통신연구원] |
유체의 성질을 측정하는 장치 및 방법(APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING PROPERTIES OF FLUIDS) |
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원형 스프링 검사 시스템 및 검사 방법 |
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광학 상수 측정 방법 및 그 장치 |
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분광 센서를 이용한 시료 분석 장치 |
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[KST2018005861][한국전자통신연구원] |
필터 상태 모니터링 방법 및 그 방법을 수행하는 필터 상태 모니터링 장치(FILTER STATE MONITORING METHOD AND FIRTER STATE MONITORING APPARATUS PERFORMING THE METHOD) |
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[KST2018004459][한국전자통신연구원] |
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가스 센서 및 그 제조 방법 |
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광 신호 측정 및 페룰 스코핑 지원 장치 및 방법 |
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[KST2019005348][한국전자통신연구원] |
영상 기반 물류 컨테이너 무결성도 측정 장치 및 그 방법 |
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